一种边缘电路、阵列基板和显示面板制造技术

本发明专利技术提供了一种边缘电路、阵列基板和显示面板，包括：多个第一开关、至少一个第二开关以及至少一个测试端，第一开关的控制端均与第一控制线电连接，第二开关的控制端均与第二控制线电连接，且第一开关的输出端与至少一条数据线电连接，每个第一开关的输入端与一个第二开关的输出端和一个测试端电连接，第二开关的输入端均与低电位或地电连接。从而可以通过第一控制线控制第一开关导通或断开，通过第二控制线控制第二开关导通或断开，来对数据线进行测试或清除数据线中残留的电荷，进而解决了由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，更具体地说，涉及一种边缘电路、阵列基板和显示面板。
技术介绍
显示面板在制造的过程中需要不断地对栅极线、数据线和公共电极线等进行测试，以保证显示面板的质量和性能。现有的一种测试方法是在制造阵列基板的同时，在阵列基板周围形成测试电路，通过测试电路对需要测试的线路进行测试，然后在测试完成后，将测试电路去除，继续进行后续的制造过程。但是，在数据线完成测试后和显示面板工作的过程中，由于数据线上还残留大量的电荷，因此，会影响显示面板的画面显示效果。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种边缘电路、阵列基板和显示面板，以解决现有技术中由于残留大量电荷而影响显示面板的画面显示效果的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种边缘电路，用于为一包括多条数据线的像素阵列进行电学测试或进行放电，包括：多个第一开关、至少一个第二开关以及至少一个测试端，所述第一开关的控制端均与第一控制线电连接，所述第二开关的控制端均与第二控制线电<本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种边缘电路，用于对一包括多条数据线的像素阵列进行电学测试或进行放电，其特征在于，包括：多个第一开关、至少一个第二开关以及至少一个测试端，所述第一开关的控制端均与第一控制线电连接，所述第二开关的控制端均与第二控制线电连接，且所述第一开关的输出端与至少一条所述数据线电连接，每个所述第一开关的输入端与一个所述第二开关的输出端和一个所述测试端电连接，所述第二开关的输入端均连接至固定电位。

【技术特征摘要】
1.一种边缘电路，用于对一包括多条数据线的像素阵列进行电学测试或
进行放电，其特征在于，包括：
多个第一开关、至少一个第二开关以及至少一个测试端，所述第一开关
的控制端均与第一控制线电连接，所述第二开关的控制端均与第二控制线电
连接，且所述第一开关的输出端与至少一条所述数据线电连接，每个所述第
一开关的输入端与一个所述第二开关的输出端和一个所述测试端电连接，所
述第二开关的输入端均连接至固定电位。
2.根据权利要求1所述的边缘电路，其特征在于，所述边缘电路的工作
状态包括数据测试时段、数据线测试结束时段、扫描时段、扫描空白时段以
及异常掉电时段。
3.根据权利要求2所述的边缘电路，其特征在于，在数据线测试时段，
通过所述第一控制线控制所述第一开关导通，通过所述第二控制线控制所述
第二开关断开，通过所述测试端为所述数据线或所述数据线组提供测试信号。
4.根据权利要求2所述的边缘电路，其特征在于，在所述数据线测试结
束时段、所述扫描空白时段或所述异常掉电时段，通过所述第一控制线控制
所述第一开关导通，通过所述第二控制线控制所述第二开关导通，来消除所
述数据线中残留的电荷。
5.根据权利要求2所述的边缘电路，其特征在于，在所述扫描时段，通
过所述第一控制线和第二控制线控制所述第一开关和第二开关关闭，来切断
所述边缘电路与所述数据线的电连接。
6.根据权利要求1所述的边缘电路，其特征在于，所述固定电位为公共
电位、低电位或接地电位。
7.根据权利要求1所述的边缘电路，其特征在于，所述第二开关的个数
小于或等于所述第一开关的个数。
8.根据权利要求7所述的边缘电路，其特征在于，每个所述第二开关的
输出端电连接至少一个所述第一开关的输入端。
9.根据权利要求1所述的边缘电路，其特征在于，一个所述第一开关的
输出端与一条所述数据线电连接。
10.根据权利要求9所述的边缘电路，其特征在于，所述数据线包括第
一数据线和第二数据线，所述测试端包括第一测试端和第二测试端，所述边
缘电路包括两个所述第二开关，其中：
每个所述第一开关的输出端分别与一个所述第一数据线或所述第二数据
线电连接，与所述第一数据线电连接的所述第一开关的输入端与所述第一测

【专利技术属性】
技术研发人员：郑志伟，杨康鹏，许育民，
申请(专利权)人：厦门天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35