一种用于检测换档齿套的综合检具制造技术

本发明专利技术公开一种用于检测换档齿套的综合检具，定位芯轴为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段、第一圆柱段、螺纹段和第二圆柱段，这四段的直径依次减小；定位芯轴的第一圆柱段套装有一个量规，量规夹紧在外花键段与锁紧螺母之间，锁紧螺母套装在定位芯轴的螺纹段上；量规的直径大于外花键段直径，量规左端面的边缘设有四个换档凸块检测块，这四个换档凸块检测块沿量规的周向均布，四个换档凸块检测块在同一个圆周上，圆周的中心线与定位芯轴的轴心线重合。本发明专利技术能检测四个换档凹槽之间的位置度是否达标，并同时检测四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔是否同心，这样就可以很好地满足检测要求。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开一种用于检测换档齿套的综合检具，定位芯轴为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段、第一圆柱段、螺纹段和第二圆柱段，这四段的直径依次减小；定位芯轴的第一圆柱段套装有一个量规，量规夹紧在外花键段与锁紧螺母之间，锁紧螺母套装在定位芯轴的螺纹段上；量规的直径大于外花键段直径，量规左端面的边缘设有四个换档凸块检测块，这四个换档凸块检测块沿量规的周向均布，四个换档凸块检测块在同一个圆周上，圆周的中心线与定位芯轴的轴心线重合。本专利技术能检测四个换档凹槽之间的位置度是否达标，并同时检测四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔是否同心，这样就可以很好地满足检测要求。【专利说明】一种用于检测换档齿套的综合检具
本专利技术涉及一种检具，具体地说，尤其涉及一种用于检测换档齿套的综合检具。
技术介绍
换档齿套是换档机构中的一个重要部件，它的中心孔为内花键孔，其端面沿周向均布有四个换档凸块，相邻两个换档凸块之间形成有一个换档凹槽，且这四个换档凹槽分布在同一圆周上，该圆周的轴心线要求与内花键孔的轴心线同心。完成加工后，需要检测如下两个形位参数:1、四个换档凹槽之间的位置度；2、四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔是否同心。目前，我们无法检测上述两个形位参数，为此急需解决这个技术问题。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种用于检测换档齿套的综合检具，欲检测四个换档凹槽之间的位置度是否达标，并同时检测四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔是否同心。 本专利技术的技术方案如下:一种用于检测换档齿套的综合检具，其特征在于:包括定位芯轴(I)和锁紧螺母(3)，其中定位芯轴(I)为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段(la)、第一圆柱段(lb)、螺纹段(Ic)和第二圆柱段(Id)，这四段的直径依次减小；所述定位芯轴(I)的第一圆柱段(Ib)套装有一个量规(2)，该量规夹紧在外花键段(Ia)与所述锁紧螺母(3)之间，且锁紧螺母套装在定位芯轴(I)的螺纹段(Ic)上；所述量规(2)的直径大于外花键段(Ia)直径，该量规(2)左端面的边缘设有四个换档凸块检测块(2a)，这四个换档凸块检测块沿量规(2)的周向均布，且四个换档凸块检测块(2a)在同一个圆周上，该圆周的中心线与所述定位芯轴(I)的轴心线重合。 检测时，检测者先将换档齿套平放在检测台面上，检测者再用手握住定位芯轴(I)的第二圆柱段(Id)，并将定位芯轴(I)的外花键段(Ia)插入换档齿套的内花键孔中，且转动定位芯轴(I)，以便让四个换档凸块检测块(2a)插入相邻两个换档凸块之间的换档凹槽中。若四个换档凸块检测块(2a)能顺利地插入插入相邻两个换档凸块之间的换档凹槽中，且换档凸块检测块(2a)与相邻两个换档凸块紧密贴合，则四个换档凹槽之间的位置度达标，且四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔同心，这时加工好的换档齿套合格，反之不合格。 采用以上技术方案，本专利技术能检测四个换档凹槽之间的位置度是否达标，并同时检测四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔是否同心，这样就可以很好地满足检测要求，且本专利技术的结构简单，使用方便，具有很好的实用性。 作为优选，所述定位芯轴(I)的螺纹段(Ic)与第一圆柱段(Ib)连接处铣有一个退刀槽，且所述第二圆柱段(Id)的外圆面滚有网纹。 在以上结构中，加工退刀槽是为了便于加工，而在第二圆柱段(Id)的外圆面滚网纹是为了便于检测者手握。 有益效果:本专利技术能检测四个换档凹槽之间的位置度是否达标，并同时检测四个换档凹槽所在圆周的轴心线与换档齿套的内花键孔是否同心，这样就可以很好地满足检测要求，且本专利技术的结构简单，使用方便，具有很好的实用性。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术的结构示意图； 图2为图1的左视图； 图3为图1中定位芯轴的结构图。 【具体实施方式】 下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步说明: 如图1、2及3所示，一种用于检测换档齿套的综合检具，主要由定位芯轴1、量规2和锁紧螺母3构成。其中，定位芯轴I为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段la、第一圆柱段lb、螺纹段Ic和第二圆柱段ld，这四段的直径从左往右依次减小。并且，外花键段Ia用于检测换档齿套的内花键孔，因此外花键段Ia的尺寸参数与换档齿套的内花键孔相适应。另外，定位芯轴I的螺纹段Ic与第一圆柱段Ib连接处铣有一个退刀槽，且第二圆柱段Id的外圆面滚有网纹。 所述定位芯轴I的第一圆柱段Ib套装有一个量规2，该量规2夹紧在外花键段Ia与所述锁紧螺母3之间，而锁紧螺母3套装在定位芯轴I的螺纹段Ic上，且锁紧螺母3通过铆接方式与定位芯轴I固定。量规2的直径大于外花键段Ia直径，该量规2左端面的边缘设有四个换档凸块检测块2a，这四个换档凸块检测块沿量规2的周向均布，且四个换档凸块检测块2a在同一个圆周上，该圆周的中心线与所述定位芯轴I的轴心线重合。上述四个换档凸块检测块2a用于检测换档齿套端面上的换档凸块。 以上所述仅为本专利技术的较佳实施例而已，并不以本专利技术为限制，凡在本专利技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。【权利要求】1.一种用于检测换档齿套的综合检具，其特征在于:包括定位芯轴(I)和锁紧螺母(3)，其中定位芯轴(I)为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段(la)、第一圆柱段(lb)、螺纹段(Ic)和第二圆柱段(Id)，这四段的直径依次减小；所述定位芯轴(I)的第一圆柱段(Ib)套装有一个量规(2)，该量规夹紧在外花键段(Ia)与所述锁紧螺母(3)之间，且锁紧螺母套装在定位芯轴(I)的螺纹段(Ic)上；所述量规(2)的直径大于外花键段(Ia)直径，该量规(2)左端面的边缘设有四个换档凸块检测块(2a)，这四个换档凸块检测块沿量规(2)的周向均布，且四个换档凸块检测块(2a)在同一个圆周上，该圆周的中心线与所述定位芯轴(I)的轴心线重合。2.根据权利要求1所述用于检测换档齿套的综合检具，其特征在于:所述定位芯轴(I)的螺纹段(Ic)与第一圆柱段(Ib)连接处铣有一个退刀槽，且所述第二圆柱段(Id)的外圆面滚有网纹。【文档编号】G01B5/252GK104315940SQ201410591878【公开日】2015年1月28日 申请日期:2014年10月28日 优先权日:2014年10月28日 【专利技术者】段含辉 申请人:重庆永达精密机械有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测换档齿套的综合检具，其特征在于：包括定位芯轴(1)和锁紧螺母(3)，其中定位芯轴(1)为四段式阶梯结构，从左往右依次为外花键段(1a)、第一圆柱段(1b)、螺纹段(1c)和第二圆柱段(1d)，这四段的直径依次减小；所述定位芯轴(1)的第一圆柱段(1b)套装有一个量规(2)，该量规夹紧在外花键段(1a)与所述锁紧螺母(3)之间，且锁紧螺母套装在定位芯轴(1)的螺纹段(1c)上；所述量规(2)的直径大于外花键段(1a)直径，该量规(2)左端面的边缘设有四个换档凸块检测块(2a)，这四个换档凸块检测块沿量规(2)的周向均布，且四个换档凸块检测块(2a)在同一个圆周上，该圆周的中心线与所述定位芯轴(1)的轴心线重合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：段含辉，
申请(专利权)人：重庆永达精密机械有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;85