【技术实现步骤摘要】
一种剂量测量过程中固定剂量计的支架
本技术专利涉及辐照加工过程中对产品吸收剂量进行精确测量的
，具体地说是一种用于准确的固定剂量计的位置，并使光束能够垂直、完整的穿透剂量计的支架。
技术介绍
目前，辐照加工过程中常用分光光度计来测定产品的吸收剂量，仪器发射的光束透过剂量计后，一部分被吸收，从而通过计算剂量计的吸光值来测量样品的吸收剂量。测量时，检验人员将剂量计移入分光光度计样品池的过程中容易对剂量计的表面造成污染，影响剂量计吸光度的准确性，而普通的支架则势必会阻挡全部或部分光束的通透，对吸光度的测量造成很大误差。
技术实现思路
为了提高剂量计测量的准确性，提高剂量计测量的效率，本技术设计了新型剂量计支架，该支架不仅能够做到对剂量计的全面保护，防止测量人员误触剂量计，还能使光束完整的透过剂量计，全面降低剂量计测量过程的误差。 本技术解决其技术问题所采用的方案是: 一种剂量测量过程中固定剂量计的支架，适用于分光光度计的测量过程，所述分光光度计中包括样品池，所述固定剂量计的支架包括本体，所述本体的形状呈长方体形，所述本体的形状大小与所述样品池相配合，所述本体的端面上设有剂量计凹槽，所述剂量计的形状大小与所述剂量计凹槽相配合，所述剂量计凹槽的底部设有镂空小孔，所述镂空小孔和剂量计凹槽相连接并镂空所述本体的两个端面。 优选的，所述镂空小孔的截面面积大于所述分光光度计射出的光束的截面面积。 优选的，所述本体的两个端面、剂量计凹槽的截面、镂空小孔的截面的面积依次递减。 优选的，所述剂量计凹槽的截面、镂空小孔的截面的形状...
【技术保护点】
一种剂量测量过程中固定剂量计的支架，适用于分光光度计的测量过程，所述分光光度计中包括样品池，其特征在于，所述固定剂量计的支架包括本体，所述本体的形状呈长方体形，所述本体的形状大小与所述样品池相配合，所述本体的端面上设有剂量计凹槽，所述剂量计的形状大小与所述剂量计凹槽相配合，所述剂量计凹槽的底部设有镂空小孔，所述镂空小孔和剂量计凹槽相连接并镂空所述本体的两个端面。
【技术特征摘要】
1.一种剂量测量过程中固定剂量计的支架，适用于分光光度计的测量过程，所述分光光度计中包括样品池，其特征在于，所述固定剂量计的支架包括本体，所述本体的形状呈长方体形，所述本体的形状大小与所述样品池相配合，所述本体的端面上设有剂量计凹槽，所述剂量计的形状大小与所述剂量计凹槽相配合，所述剂量计凹槽的底部设有镂空小孔，所述镂空小孔和剂量计凹槽相连接并镂空所述本体的两个端面。2.根据权利要求1所述的剂量测量过程中固定剂量计的支架，其特征在于，所述镂空小孔的截面面积大于所述分光光度计射出的光束的截面面积。3.根据权利要求2所述的剂量测量过程中固定剂量计的支架，其特征在于，所述本体的两个端面、剂量计凹槽的截面、镂空小孔的截面的面积依次递减。4.根据权利要求3所述的剂量...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘江平，郑康海，肖海亮，
申请(专利权)人：上海金鹏源辐照技术有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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