一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置制造方法及图纸

一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，包括一面带有若干散热片的PCB板，PCB板与用于固定PCB板的支撑支架相连。本实用新型专利技术结构简单，能大大降低大功率芯片在老化试验过程中的温度，确保了芯片老化试验温度标定的准确度与实验数据的可靠性，而且随着芯片功率增加，芯片结温与环境温度的差值也随之变小。同时还可以通过支撑支架将结构竖起来放置，大大的节省空间，让同一个试验箱中容纳更多的芯片老化装置。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：包括一面带有若干散热片的PCB板(1)，PCB板(1)与用于固定PCB板的支撑支架(4)相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：方亮，闫转芳，阮友亮，孙甲鹏，孙琨，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：新型
国别省市：陕西;61