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一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，包括一面带有若干散热片的PCB板，PCB板与用于固定PCB板的支撑支架相连。本实用新型结构简单，能大大降低大功率芯片在老化试验过程中的温度，确保了芯片老化试验温度标定的准确度与实验数据的可靠性，...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

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