分析装置、分析程序以及分析系统制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及分析装置、分析程序以及分析系统，该分析装置包括：二维坐标检测单元和三维坐标确定单元。所述二维坐标检测单元被配置为对于通过在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组检测作为在每个捕获图像中的分析目标物的平面坐标候选的二维坐标候选。所述三维坐标确定单元被配置为基于捕获图像之间的平面坐标候选的位置关系来确定作为分析目标物的三维坐标候选的三维坐标候选。【专利说明】分析装置、分析程序以及分析系统 相关申请的交叉引用 本申请要求于2013年4月9日提交的日本在先专利申请JP2013-081475的权益， 其全部内容通过引用结合于此。
本专利技术涉及分析装置、分析程序以及分析系统，通过该分析装置、分析程序以及分 析系统，从通过捕获分析样本获得的图像中检测出包括在分析样本中的分析目标物。
技术介绍
当用显微镜观察分析诸如细胞的目标物，例如，如果所述细胞在培养中漂浮，观察 者需要搜索它。然而，在显微镜的高放大倍数下视场小，因此，观察者需要搜索分析目标物 同时很大程度上移动视场范围。同时，如果在显微镜的低放大倍数下分...
【技术保护点】
一种分析装置，包括：二维坐标检测单元，被配置为对于通过在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组检测作为在每个捕获图像中的所述分析目标物的平面坐标候选的二维坐标候选；以及三维坐标确定单元，被配置为基于所述捕获图像之间的所述平面坐标候选的位置关系来确定作为所述分析目标物的三维坐标的候选的三维坐标候选。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：大岛志织，堂胁优，松居惠理子，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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