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分析装置、分析程序以及分析系统制造方法及图纸
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文档序号:10545542
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本发明涉及分析装置、分析程序以及分析系统,该分析装置包括:二维坐标检测单元和三维坐标确定单元。所述二维坐标检测单元被配置为对于通过在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组检测作为在每个捕获图像中的分析目标物的平面坐标候选的二...
该专利属于索尼公司所有,仅供学习研究参考,未经过索尼公司授权不得商用。
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