一种减小寄生电阻的连接结构制造技术

本实用新型专利技术涉及电子技术领域，具体涉及一种电路连接结构。一种减小寄生电阻的连接结构，用于芯片与电路板的连接，芯片上分布有焊盘，设定位置的焊盘的尺寸大于其余位置的焊盘的尺寸；每一焊盘上设置与焊盘大小相对应的焊球。本实用新型专利技术在芯片上设定位置处设置尺寸更大的焊盘，并在焊盘上设置相对应的焊球，使得互连结构的截面积增大，流经互连结构上的电流增大，可以减小芯片在设定位置与电路板之间的寄生电阻，有利于电路性能的改善。

【技术实现步骤摘要】
—种减小寄生电阻的连接结构
[0001 ] 本技术涉及电子
，具体涉及一种电路连接结构。
技术介绍
随着半导体产业的迅速发展，芯片的集成度越来越高，面积和功耗越来越大，速度也越来越快，特别是近年来随着芯片技术的快速发展，芯片越来越复杂，引脚数也成倍的增力口，半导体芯片制造技术正向超微细化方向发展，特征尺寸从亚微米、0.13um、90nm直到进入65nm领域，这就对芯片的封装提出了更高的要求，为了满足集成电路的高集成度，高速度，高可靠性的要求，微电子封装也先后发展出了多种形式，并且为了实现多种封装形式，开发出了热压焊、超声压焊、常温压焊、各向异性导电胶和倒装芯片等多种互连技术。 BGA (Ball Grid Array,球栅阵列)封装是目前电子封装领域广泛应用的一种表面贴装封装形式，通过在芯片的背面按阵列方式制作焊球作为外引脚，实现芯片与印制电路板的连接，BGA封装的焊球引脚很短，使信号路径减短，从而降低了引脚间电感，然而，目前的BGA封装及连接结构使得金属互连结构上易于产生寄生电阻，寄生电阻的存在，影响电路性能并对电路的有效性产生干扰。
技术实现思路
本技术的目的在于，提供一种减小寄生电阻的连接结构，解决以上技术问题。 本技术所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现: 一种减小寄生电阻的连接结构，用于芯片与电路板的连接，其中，所述芯片上分布有焊盘，设定位置的焊盘的尺寸大于其余位置的焊盘的尺寸；每一所述焊盘上设置与所述焊盘大小相对应的焊球。 优选地，包括多个所述设定位置，每个所述设定位置的焊盘上设置一第一类焊球，其余所述焊盘上分别设置一第二类焊球。 优选地，所述第一类焊球的尺寸大于所述第二类焊球。 优选地，所述第一类焊球为长条状，所述第一类焊球沿所述芯片表面的横向或纵向方向设置。 优选地，所述第二类焊球采用圆球状。 优选地，所述第一类焊球的长度是所述第二类焊球长度的2倍至5倍。 优选地，所述焊球之间的间距范围小于1.0mm。 优选地，所述焊球之间的间距范围为1.0mm至1.5mm。 优选地，所述焊球采用无铅焊料制成的焊球。 有益效果:由于采用以上技术方案，本技术在芯片上设定位置处设置尺寸更大的焊盘，并在焊盘上设置相对应的焊球，使得互连结构的截面积增大，流经互连结构上的电流增大，可以减小芯片在设定位置与电路板之间的寄生电阻，有利于电路性能的改善。 【附图说明】 图1为本技术的分布有焊球的芯片结构示意图； 图2为本技术的图1的A-A向剖视图； 图3为本技术的一种具体实施例的工艺流程图。 【具体实施方式】 下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。 需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。 下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明，但不作为本技术的限定。 参照图1、图2，一种减小寄生电阻的连接结构，用于芯片I与电路板的连接，芯片I上分布有焊盘，设定位置的焊盘的尺寸大于其余位置的焊盘的尺寸；每一焊盘上设置与焊盘大小相对应的焊球2。 本技术在芯片上设定位置处设置尺寸更大的焊盘，并在焊盘上设置相对应的焊球，使得互连结构的截面积增大，流经互连结构上的电流增大，可以减小芯片在设定位置与电路板之间的寄生电阻，有利于电路性能的改善。 作为本技术的一种优选的实施例，可以包括多个设定位置，每个设定位置的焊盘上可以设置一第一类焊球，其余焊盘上可以分别设置一第二类焊球；第一类焊球2的尺寸大于第二类焊球2。 作为本技术的一种优选的实施例，第一类焊球2为长条状，第一类焊球2沿芯片I表面的横向或纵向方向设置，参照图1所示，第一设定位置3的焊球沿芯片I表面的纵向方向设置，第二设定位置4的焊球沿芯片I表面的横向方向设置。 作为本技术的一种优选的实施例，第二类焊球2采用圆球状。第一类焊球2的长度是第二类焊球2长度的2倍至5倍。同样参照图1所示，第一设定位置3处，第一类焊球可以是第二类焊球的5倍左右，第二设定位置处，第一类焊球可以是第二类焊球的3倍左右。 作为本技术的一种优选的实施例，多个焊球2在芯片I上呈设定结构排列。如可以为周边阵列型，交错型或全阵列型排列。 作为本技术的一种优选的实施例，焊球2之间的间距范围小于1.0mm。或者，焊球2之间的间距范围为1.0mm至1.5mm。 作为本技术的一种优选的实施例，焊球2采用无铅焊料制成的焊球2。 本技术可以通过以下工艺方案实现，参照图3所示: 第一步S1:在芯片的焊盘面上丝网印制焊膏，植球机可以采用真空抽吸原理的植球机，将芯片装在定位夹具上，芯片的焊盘面朝上，对准植球机的植球单元，植球单元的吸嘴吸取待放置的锡球，使得设定位置的吸嘴吸取的锡球大于其他位置的锡球；如图3中所示，设定位置吸取的锡球可以是长条状，其他位置的锡球为圆球形；并依照设定位置的焊盘的尺寸及形状，灵活设置不同尺寸大小的锡球； 第二步S2:放置锡球至芯片的对应焊盘上； 第三步S3:回流焊将焊盘上的锡球熔化，使其固定在焊盘上； 第四步S4:通过定位装置将芯片的焊球面正对印制电路板的相应连接位置上； 第五步S5:通过对芯片和印制电路板同时加热，实现芯片和印制电路板互连。 以上所述仅为本技术较佳的实施例，并非因此限制本技术的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本技术说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本技术的保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种减小寄生电阻的连接结构，用于芯片与电路板的连接，其特征在于，所述芯片上分布有焊盘，设定位置的焊盘的尺寸大于其余位置的焊盘的尺寸；每一所述焊盘上设置与所述焊盘大小相对应的焊球。

【技术特征摘要】
1.一种减小寄生电阻的连接结构，用于芯片与电路板的连接，其特征在于，所述芯片上分布有焊盘，设定位置的焊盘的尺寸大于其余位置的焊盘的尺寸；每一所述焊盘上设置与所述焊盘大小相对应的焊球。2.根据权利要求1所述的一种减小寄生电阻的连接结构，其特征在于，包括多个所述设定位置，每个所述设定位置的焊盘上设置一第一类焊球，其余所述焊盘上分别设置一第二类焊球。3.根据权利要求2所述的一种减小寄生电阻的连接结构，其特征在于，所述第一类焊球的尺寸大于所述第二类焊球。4.根据权利要求2所述的一种减小寄生电阻的连接结构，其特征在于，所述第一类焊球为长条状，所述第一类焊球...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊茂，
申请(专利权)人：展讯通信上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31