微芯片和微芯片型细微粒测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种微芯片。该微芯片包括：入射面，该入射面被配置为接收从光源传输的光，从入射方向接收光；以及背面，该背面与入射面相对，该背面包括被配置为将从光源传输的光反射远离入射方向的部分。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】微芯片和微芯片型细微粒测量装置
本技术涉及微芯片和微芯片型细微粒测量装置。更具体地，本技术涉及用来测量诸如细胞的细微粒的光学特性并能够执行高精度测量的微芯片等。
技术介绍
已知的是用于光学测量诸如细胞的细微粒的特性的细微粒测量装置(诸如流式细胞分析仪)。流式细胞分析仪通过导致包括细胞的样本液体流过在流动池(flow cell)中或微芯片中形成的通道，并通过使用激光束照射穿过通道的细胞并且使用检测器检测从细胞生成的荧光或散射光来测量细胞的光学特性。例如，PTLl披露了作为微芯片型流式细胞分析仪是“一种包括微芯片的细微粒分类设备，该微芯片包括包含细微粒的液体流过的通道和流过通道的液体通过其排放到芯片外部的空间的孔(orifice);用于在孔处将液体转换成液滴并排放液滴的振荡元件；用于将电荷施加到被排放的液滴的充电器件；检测流过通道的细微粒的光学特性的光学检测装置；布置一对电极以相互面对并且液滴在该一对电极之间，该电极沿排放到芯片外部空间的液滴的移动方向延伸；以及收集在一对电极之间经过的液滴的两个或更多个容器”。引用列表专利文献[PTL1]日本未经审查专利申请公开第2010-190680号
技术实现思路
技术问题为了以高精度测量细微粒的光学特性，要求细微粒测量装置包括检测系统，该检测系统以高效率检测在激光束照射下从细微粒生成的荧光和散射光，并防止诸如反射光和干涉光的作为噪声的光进入检测器。具体地，高度需要用于使用由塑料制作的微芯片的流式细胞分析仪的检测系统，该塑料具有低于由石英玻璃制作的流动池的光学特性。因此本技术的主要目标是提供一种用于细微粒测量装置的微芯片，其能够选择性地检测从细微粒发射的荧光和散射光并用作信号，同时减少对作为噪声的光的检测。问题的解决方案为解决上述问题，本技术提供了包括入射面和背面的微芯片，该入射面被配置为接收从光源传输的光，从入射方向接收光，该背面与入射面相对，该背面包括被配置为将从光源传输的光反射远离入射方向的部分。在微芯片中，背面的该部分不平行于入射面，并且被定位在从光源接收光的入射面的部分的对面。使用微芯片，在与光入射方向不同的方向上反射穿过入射面的光，从而减少由反射光引起的噪声。微芯片可以由热塑树脂制作并可以由注塑成型制作。此外，本技术提供了包括入射面和背面的微芯片系统，该入射面被配置为接收从光源传输的光，从入射方向接收光，该背面与入射面相对，该背面包括被配置为将从光源传输的光反射远离入射方向的部分。微芯片系统还包括被配置为容纳由光源照射的微粒的通道。优选的是微芯片系统包括第一检测器，该第一检测器位于入射面侧上并且被配置为在检测范围内检测来自通道的荧光或反向散射光。微芯片系统也可以包括位于邻近于背面的位置以检测来自通道的前向散射光的第二检测器，以及定位在第二检测器与背面之间的且被配置为阻挡源自光源的光的遮光板。微芯片系统也可以包括将荧光和/或散射光引导到第一检测器的检测系统，其中微芯片表面形成以便能够将经过入射面的光反射到第一检测器检测范围外的点。微芯片系统的检测系统可以包括将从微粒生成的突光和/或散射光传输到第一和/或第二检测器的光纤，以及将荧光和/或散射光耦合到光纤的透镜，并且在此情况下优选微芯片表面形成以便能够将经过入射面的光反射到区域外的点，该区域与在光纤入射端的荧光和/或散射光的点光学共轭。借助微芯片系统，经过入射面的光反射到检测器检测范围外或共轭区外的点，由此抑制由反射光引起的噪声生成，并由此选择性检测从细微粒生成的荧光和/或散射光。可替换地，在微芯片系统中，微芯片表面可以形成，以能够在使得流过通道的微粒不被光照射的方向上反射经过入射面的光。由于经过入射面的光在其中微粒不被光照射的方向上反射，因此由反射光引起的噪声生成受抑制，并由此从微粒生成的荧光和/或散射光可以选择性检测。在其中微芯片系统包括检测从微粒生成的散射光的检测器的情况下，当形成微芯片背面以包括不平行于入射面的表面时，根据表面相对于入射面的倾斜来检测散射光的检测器布置在到入射面上入射的光的光轴的角度上。在本技术中，“微粒”或“细微粒”广义上地包括诸如细胞的细生物粒、微生物和脂质体；或合成微粒，诸如胶乳微粒、凝胶微粒和用于工业用途的微粒。细生物粒包括被包括在各种细胞中的染色体、脂质体、线粒体和细胞器(细胞中的微小组织)。细胞包括动物细胞(诸如血细胞)和植物细胞。微生物包括诸如大肠杆菌的细菌、诸如烟草花叶病毒病毒以及诸如酵母菌的真菌。而且，细生物粒包括诸如核酸、蛋白质和这些的复合物的生物聚合物。此外，用于工业用途的微粒可以是例如有机或无机聚合物材料或金属。有机聚合物材料包括聚苯乙烯、苯乙烯、二乙烯基苯、聚甲基丙烯酸甲酯等。无机聚合物材料包括玻璃、硅石和磁性材料。金属包括金胶体和铝。尽管通常这样的细微粒的形状是球形，但形状可以是非球形，并且大小和质量不具体受限。专利技术的有益效果本技术提供用于细微粒测量装置的微芯片，该微芯片能够选择性地检测从细微粒生成并被用作信号的荧光和散射光，同时减少对作为噪声的光的检测。【附图说明】[图1]图1是示出了根据本技术的微芯片型细微粒测量装置的照射系统和检测系统的结构的示意图。[图2]图2是示出了根据本技术的第一实施例的微芯片的结构的示意图。[图3]图3是示出了根据本技术的第二实施例的微芯片的结构的示意图。【具体实施方式】在下文中，将参考附图描述本技术的优选实施例。注意，下面描述的实施例是本技术的代表实施例的示例，并且不能以其为基础限制性地解释本技术的保护范围。将按照以下顺序进行描述。1.微芯片型细微粒测量装置2.微芯片(I)根据第一实施例的微芯片(2)根据第二实施例的微芯片1.微芯片型细微粒测量装置图1是示出了根据本技术的微芯片型细微粒测量装置的照射系统和检测系统的结构的示意图。照射系统作用为使用激光束L1照射流过形成在微芯片I中的通道11的细微粒P。照射系统包括传输从光源(未不出)发射的激光束L1的激光束传输光纤21、将激光束L1变换成平行光束的准直透镜22以及将激光束L1聚焦到通道11上的物镜23。图中的数字12表示激光束L1在其上入射的微芯片I的入射面,并且数字13表示与入射面相对的背面。此夕卜，图中的箭头F1指示其中从光源发射的激光束L1进入激光束传输光纤21的方向。检测系统作用为检测由于使用激光束L1照射而从细微粒P生成的荧光和/或散射光。检测系统包括聚焦从细微粒P生成的荧光/散射光L2的物镜23、反射荧光/散射光L2的反射镜31、将荧光/散射光L2耦合到荧光/散射光传输光纤33的入射端331的会聚透镜32以及检测由突光/散射光传输光纤33传输的突光/散射光L2的检测器(未不出)。图中箭头F2指示其中从荧光/散射光传输光纤33发射的荧光/散射光L2进入检测器的方向。此外，检测系统包括检测从细微粒P生成的前向散射光L3的检测器35。图中的数字34表示阻挡激光束L1的遮光板(mask)。遮光板34作用为通过阻挡激光束L1仅将前向散射光L3引导到检测器35。除在图1中示出的结构之外，照射系统和检测系统可以包括通常使用的光学元件，诸如透镜、分色镜和带通滤光器。此外，包括检测器35的检测器可以从例如PMT(光电倍增管)、诸如CCD或CMOS装置等的区域成像装本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微芯片，包括：入射面，被配置为接收从光源传输的光，所述光从入射方向接收；以及背面，所述背面与所述入射面相对，所述背面包括被配置为将从所述光源传输的光反射远离所述入射方向的部分。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.12.28 JP 2011-2888621.一种微芯片，包括: 入射面，被配置为接收从光源传输的光，所述光从入射方向接收；以及 背面，所述背面与所述入射面相对，所述背面包括被配置为将从所述光源传输的光反射远离所述入射方向的部分。2.根据权利要求1所述的微芯片，进一步包括被配置为容纳用于由所述光源照射的微粒的通道。3.根据权利要求2所述的微芯片，其中，所述背面的所述部分以一角度倾斜以将从所述光源接收的光反射到所述通道的层流之外。4.根据权利要求3所述的微芯片，其中，所述通道的所述层流正切于所述入射方向。5.根据权利要求3所述的微芯片，其中，所述通道的所述层流平行于所述背面。6.根据权利要求1所述的微芯片，其中，所述背面的所述部分不平行于所述入射面，并且位于从所述光源接收所述光的所述入射面的部分的对面。7.根据权利要求6所述的微芯片，其中，所述背面的所述部分以一角度倾斜以将来自所述光源的光反射到检测器的检测范围之外。8.根据权利要求7所述的微芯片，其中，所述检测范围包括与所述入射面侧的荧光或反向散射光光学共轭的区域。9.根据权利要求6所述的微芯片，其中，所述背面的所述部分包括单个成角度的面。10.根据权利要求6所述的微芯片，其中，所述背面的所述部分包括以锯齿形布置的多个面。11.根据权利要求1所述的测量装置，其中，所述背面的所述部分是曲面并且定位在接收所述光的所述入射面的部分的对面。12.根据权利要求11所述的微芯片，其中，所述曲面包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：濑尾胜弘，月原浩一，冈本好喜，铃木俊平，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP