本发明专利技术公开了一种检测分析OLED器件缺陷的方法，将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；测试数据上报分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；根据缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；将微观缺陷信息进行上报和记录。检测分析OLED器件缺陷的装置，至少一条传送带设置在平台的上面，点亮测试区设置在平台的左侧，观察测试区设置在平台的右侧，成像测试仪设置在点亮测试区的上方，显微镜设置在观察测试区的上方，计算机安放在平台外，同时与成像测试仪、显微镜、点亮测试区和观察测试区相连。本发明专利技术具有避免了肉眼观察缺陷的主观性，使缺陷检测分析更加客观全面；且可以自动检测缺陷，提高了缺陷检测分析的效率的优点。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种检测分析OLED器件缺陷的方法，将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；测试数据上报分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；根据缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；将微观缺陷信息进行上报和记录。检测分析OLED器件缺陷的装置，至少一条传送带设置在平台的上面，点亮测试区设置在平台的左侧，观察测试区设置在平台的右侧，成像测试仪设置在点亮测试区的上方，显微镜设置在观察测试区的上方，计算机安放在平台外，同时与成像测试仪、显微镜、点亮测试区和观察测试区相连。本专利技术具有避免了肉眼观察缺陷的主观性，使缺陷检测分析更加客观全面；且可以自动检测缺陷，提高了缺陷检测分析的效率的优点。【专利说明】检测分析OLED器件缺陷的方法及装置
本专利技术涉及OLED生产工艺，特别是一种检测分析OLED器件缺陷的方法及装置。
技术介绍
对于OLED的一些缺陷检测分析，如阳极-阳极短路(AA)，阳极-阴极短路(AC)，阳极开路(A0)，阴极-阴极短路(CC)等，对这些缺陷的检测分析方法，通常是在OLED器件做好后，先将OLED器件进行点亮，然后用人眼进行现象观察，发现AA、AC、AO、CC等缺陷的现象后，用显微镜对这些缺陷的微观图像进行观察，进而才能分析缺陷发生的具体原因。上面描述的OLED器件的缺陷检测分析方法有2个缺点:一是人眼在观察缺陷现象的时候，由于光强、色彩和空间会对人眼的视觉分辨造成影响，造成缺陷现象的漏检，进而使器件的缺陷检测分析不全面；二是用显微镜对缺陷现象进行观察的时候，显微镜通常不能对缺陷的位置进行自动定位，人手移动载物台寻找缺陷通常会花费很长时间，造成缺陷检测分析的效率低。本专利技术可以提高缺陷检测分析的效率，并避免缺陷检测分析的不全面问题。
技术实现思路
本专利技术是解决上述问题，提供一种避免了肉眼观察缺陷的主观性，使缺陷检测分析更加客观全面；且可以自动检测缺陷，提高了缺陷检测分析的效率的一种检测分析OLED器件缺陷的方法及装置。本专利技术的检测分析OLED器件缺陷的方法，包括如下步骤:第一步、将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；第二步、将测试数据进行上报，然后进行分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；第三步、根据得出的缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；第四步、将微观结构观察得到的微观缺陷信息进行上报和记录。所述第一步中的测试设备为成像测试仪。所述第一步中进行的测试为灰阶扫描。所述第二步中测试数据上报给计算机。所述第三步中使用显微镜对OLED器件进行微观结构观察。所述第四步中计算机对得到的微观缺陷信息进行上报和记录。本专利技术的检测分析OLED器件缺陷的装置，包括平台、传送带、成像测试仪、显微镜、计算机、点亮测试区和观察测试区；至少一条传送带设置在平台的上面，点亮测试区设置在平台的左侧，观察测试区设置在平台的右侧，成像测试仪设置在点亮测试区的上方，显微镜设置在观察测试区的上方，计算机安放在平台外，同时与成像测试仪、显微镜、点亮测试区和观察测试区相连。所述点亮测试区里设置有与计算机相连的点亮装置。所述观察测试区里设置有与计算机相连的定位装置。综上所述，本专利技术的检测分析OLED器件缺陷的方法和装置具有避免了肉眼观察缺陷的主观性，使缺陷检测分析更加客观全面；且可以自动检测缺陷，提高了缺陷检测分析的效率的优点。【专利附图】【附图说明】图1为检测分析OLED器件缺陷的装置的结构图。其中，1、传送带；2、成像测试仪；3、显微镜；4、计算机；5、点亮测试区；6、观察测试区。【具体实施方式】下面结合附图和具体的实施例对本专利技术作进一步的阐述。本专利技术的检测分析OLED器件缺陷的方法，包括如下步骤:第一步、将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；第二步、将测试数据进行上报，然后进行分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；第三步、根据得出的缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；第四步、将微观结构观察得到的微观缺陷信息进行上报和记录。所述第一步中的测试设备为成像测试仪。所述第一步中进行的测试为灰阶扫描。所述第二步中测试数据上报给计算机。所述第三步中使用显微镜对OLED器件进行微观结构观察。所述第四步中计算机对得到的微观缺陷信息进行上报和记录。本专利技术的检测分析OLED器件缺陷的装置，包括平台、传送带1、成像测试仪2、显微镜3、计算机4、点亮测试区5和观察测试区6 ;至少一条传送带I设置在平台的上面，点亮测试区5设置在平台的左侧，观察测试区6设置在平台的右侧，成像测试仪2设置在点亮测试区5的上方，显微镜3设置在观察测试区6的上方，计算机4安放在平台外，同时与成像测试仪2、显微镜3、点亮测试区5和观察测试区6相连。所述点亮测试区5里设置有与计算机4相连的点亮装置。所述观察测试区6里设置有与计算机4相连的定位装置。测试时，将待测OLED器件放在传送带I上，传送带I将待测OLED器件运送到点亮测试区5，然后计算机4通过点亮装置点亮待测OLED器件，然后计算机4控制成像测试仪2对待测OLED器件进行灰阶扫描，计算机将灰阶扫描的测试数据上报，然后进行分析，确定缺陷现象和缺陷的具体位置，然后传送带将待测OLED器件运送到观察测试区6，计算机4通过得到的缺陷的具体位置控制定位装置将显微镜3对着待测OLED器件缺陷位置的行与列，使用显微镜3对待测OLED的缺陷位置进行微观结构观察，然后将微观缺陷信息上报给计算机4，计算机4对上报的微观缺陷信息进行记录。如果计算机4通过灰阶扫描数据得出多个缺陷位置时，则计算机4会同时给出全部缺陷位置，在显微镜3观察完一个缺陷后，计算机4控制定位装置将待测OLED器件定位到下一个缺陷位置进行微观结构观察，知道全部缺陷都进行过微观结构观察。本领域的普通技术人员将会意识到，这里所述的实施例是为了帮助读者理解本专利技术的原理，应被理解为本专利技术的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本专利技术公开的这些技术启示做出各种不脱离本专利技术实质的其它各种具体变形和组合，这些变形和组合仍然在本专利技术的保护范围内。【权利要求】1.一种检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于，包括如下步骤: 第一步、将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试； 第二步、将测试数据进行上报，然后进行分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置； 第三步、根据得出的缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察； 第四步、将微观结构观察得到的微观缺陷信息进行上报和记录。2.如权利要求1所述的检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第一步中的测试设备为成像测试仪。3.如权利要求1所述的检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第一步中进行的测试为灰阶扫描。4.如权利要求1所述的检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第二步中测试数据上报给计算机。5.如权利要求1所述的检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第三步中使用显微镜对OLED器件进行微观结构观察。6.如权利要求1所述的检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于:所述第四步中计算机对得到的微观缺陷信息进行上报和记录。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于，包括如下步骤：第一步、将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；第二步、将测试数据进行上报，然后进行分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；第三步、根据得出的缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；第四步、将微观结构观察得到的微观缺陷信息进行上报和记录。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨培，夏维高，李建，
申请(专利权)人：四川虹视显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
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