【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种检测分析OLED器件缺陷的方法，将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；测试数据上报分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；根据缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；将微观缺陷信息进行上报和记录。检测分析OLED器件缺陷的装置，至少一条传送带设置在平台的上面，点亮测试区设置在平台的左侧，观察测试区设置在平台的右侧，成像测试仪设置在点亮测试区的上方，显微镜设置在观察测试区的上方，计算机安放在平台外，同时与成像测试仪、显微镜、点亮测试区和观察测试区相连。本专利技术具有避免了肉眼观察缺陷的主观性，使缺陷检测分析更加客观全面；且可以自动检测缺陷，提高了缺陷检测分析的效率的优点。【专利说明】检测分析OLED器件缺陷的方法及装置
本专利技术涉及OLED生产工艺，特别是一种检测分析OLED器件缺陷的方法及装置。
技术介绍
对于OLED的一些缺陷检测分析，如阳极-阳极短路(AA)，阳极-阴极短路(AC)，阳极开路(A0)，阴极-阴极短路(CC)等，对这些缺陷的检测分析方法，通常是在OLED器件做好后，先将OLE...
【技术保护点】
一种检测分析OLED器件缺陷的方法，其特征在于，包括如下步骤：第一步、将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；第二步、将测试数据进行上报，然后进行分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；第三步、根据得出的缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；第四步、将微观结构观察得到的微观缺陷信息进行上报和记录。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨培，夏维高，李建，
申请(专利权)人：四川虹视显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
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