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本发明公开了一种检测分析OLED器件缺陷的方法，将OLED器件点亮，然后通过测试设备对点亮的OLED器件进行测试；测试数据上报分析，确定缺陷现象及缺陷的具体位置；根据缺陷具体位置，对OLED器件进行微观结构观察；将微观缺陷信息进行上报和记录...
该专利属于四川虹视显示技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川虹视显示技术有限公司授权不得商用。

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