一种均匀域测试架制造技术

一种均匀域测试架构成如下：轮架（1），立柱（2），下横梁（3），面元（4），上横梁（5），探头架（8）；其中，所述轮架（1）为“工”字形，轮架（1）的四角均安装有可转动的转向轮（11）；轮架（1）的中间位置设有立柱槽（9），立柱（2）通过立柱槽（9）与轮架（1）连接，立柱（2）上部开有“Γ”形槽（12），所述下横梁（3）长度方向一侧设置有阶梯凹槽（14），堵盖可以迅速取下，以方便探头架从测试板的进入和取出；带制动的方向轮可以实现测试架的任意移动和停止。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种均匀域测试架构成如下：轮架（1），立柱（2），下横梁（3），面元（4），上横梁（5），探头架（8）；其中，所述轮架（1）为“工”字形，轮架（1）的四角均安装有可转动的转向轮（11）；轮架（1）的中间位置设有立柱槽（9），立柱（2）通过立柱槽（9）与轮架（1）连接，立柱（2）上部开有“Γ”形槽（12），所述下横梁（3）长度方向一侧设置有阶梯凹槽（14），堵盖可以迅速取下，以方便探头架从测试板的进入和取出；带制动的方向轮可以实现测试架的任意移动和停止。【专利说明】一种均匀域测试架
本技术涉及测试架的结构设计和应用领域，特别提供了一种电波暗室内微波均匀域校准测试用均匀域测试架。
技术介绍
传统的电波暗室内微波均匀域校准测试过程中，所选的16个测试点都是利用一根测试杆，将探头固定在上面，在电波暗室中标出4个测试点，再利用卷尺量出距地面的高度，再将探头调制相应高度进行测试，这种测试过程中，4各测试点的中心位置即使标注，也容易出现误差，而且每次换测试点时，都需要重新测量高度，程序简单但操作复杂，而且人为误差较大。人们迫切希望获得一种技术效果优良的均匀域测试架。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种使用方便，误差小的均匀域测试架。所述均匀域测试架构成如下:轮架1，立柱2，下横梁3，面元4，上横梁5，探头架8，其中，所述轮架I为“工”字形，所述轮架I整体尺寸为长:100cm、宽:67cm、高5cm;参见附图1，轮架I的四角均安装有可转动的转向轮11 ;方便均匀域测试架的移动和固定，轮架I的中间承重梁上的中间位置设有深3.5cm的立柱槽9，立柱2通过立柱槽9与轮架I连接，所述立柱2的具体为7cmx5cmx273.5cm的长方体。立柱2据底端63.5cm处向上开有“ gamma ”形槽12，参见附图3，横梁以及测试板的“ gamma ”形突起13与其嵌套固定。所述下横梁3整体尺寸为204cmx5cmx5cm,下横梁3长度方向一侧设置有整体尺寸是2cmx2cm的阶梯凹槽14,与测试板最底层的面元阵列结构形成探头架的最底层滑道，下横梁3的两侧设置有长度2cm的“ gamma ”形突起13，下横梁3与立柱2通过“ gamma ”形突起13和“ gamma ”形槽12嵌套固定连接，上横梁5的尺寸为182cmx5cmx5cm,参见附图6,所述上横梁5的一侧有长度2cm的“ gamma ”形突起13，上横梁5与立柱2通过“gamma”形突起13和“gamma”形槽12嵌套固定连接；所述面元4为整体截面呈“工”字形结构，面元4 “工”字形的下横的两端设置有方向相反的“ gamma ”形突起13，参见附图7，面元4之间通过“ gamma ”形突起13嵌套连接成测试板，整体高度5cm，长横高度3cm，测试板的两侧与立柱2嵌套连接，所述探头架8为“土”字形结构，探头架8可在相邻面元4间移动或固定，探头固定在探头架8上。所述上横梁5与立柱2连接处设置有堵盖6，参见附图9，所述堵盖6的上部设置有把手15。便于取出插入。所述均匀域测试架由于本测试架比较高，装配过程应为先将下横梁3与立柱2嵌套安装，接着以下横梁3为基准，逐个将面元4嵌套成阵列分别嵌套在立柱2上，最后安装上横梁，再将整个板立起，将立柱2插入到轮架I上固定，探头架8可以通过开启堵盖6，将其划入到测试板上。在均匀场校准测试中，探头固定在探头架8上，利用立柱、横梁以及轮架上的标尺，首先确定16个测试点，测试天线按照标准布置在距测试支架3m处，可以方便精确的进行均匀场校准测试。所述均匀域测试架的测试板采用多个面元嵌套整合而成，组成灵活的滑轨线路，使测试板的测试位置的选取更自由；整个测试架的材料都为酚醛塑料，可以有效解决电磁波的反射折射问题；采用gamma形和反gamma形嵌套结构，是整个测试架虽然由多个装置组成，但结构牢固；面元的工形结构串联与探头架的士字形结构对应，组成通场的滑轨和牢固的探头定位位置，可以实现探头架的自由移动和精确定位；整个系统可以迅速拆解和安装，易于存放和测试；测试板四周都刻有标尺，可以迅速找到预测试点；堵盖可以迅速取下，以方便探头架从测试板的进入和取出；带制动的方向轮可以实现测试架的任意移动和停止。【专利附图】【附图说明】图1是轮架示意图；图2是立柱主视图；图3是立柱俯视图；图4是下横梁示意图；图5是轮架、立柱和下横梁装配视图；图6是上横梁示意图；图7是面元正视 图；图8是面兀二维视图；图9是赌盖示意图；图10为探头架三维视图；图11为探头架示意图；图12为均匀场测试支架整体示意图。【具体实施方式】实施例1所述均匀域测试架构成如下:轮架1，立柱2，下横梁3，面元4，上横梁5，探头架8，其中，所述轮架I为“工”字形，所述轮架I整体尺寸为长:100cm、宽:67cm、高5cm;参见附图1，轮架I的四角均安装有可转动的转向轮11 ;方便均匀域测试架的移动和固定，轮架I的中间承重梁上的中间位置设有深3.5cm的立柱槽9，立柱2通过立柱槽9与轮架I连接，所述立柱2的具体为7cmx5cmx273.5cm的长方体。立柱2据底端63.5cm处向上开有“ gamma ”形槽12，参见附图3，横梁以及测试板的“ gamma ”形突起13与其嵌套固定。所述下横梁3整体尺寸为204cmx5cmx5cm,下横梁3长度方向一侧设置有整体尺寸是2cmx2cm的阶梯凹槽14,与测试板最底层的面元阵列结构形成探头架的最底层滑道，下横梁3的两侧设置有长度2cm的“ gamma ”形突起13，下横梁3与立柱2通过“ gamma ”形突起13和“ gamma ”形槽12嵌套固定连接，上横梁5的尺寸为182cmx5cmx5cm,参见附图6,所述上横梁5的一侧有长度2cm的“ gamma ”形突起13，上横梁5与立柱2通过“ gamma ”形突起13和“ gamma ”形槽12嵌套固定连接；所述面元4为整体截面呈“工”字形结构，面元4 “工”字形的下横的两端设置有方向相反的“ gamma ”形突起13，参见附图7，面元4之间通过“ gamma ”形突起13嵌套连接成测试板，整体高度5cm，长横高度3cm，测试板的两侧与立柱2嵌套连接，所述探头架8为“土”字形结构，探头架8可在相邻面元4间移动或固定，探头固定在探头架8上。所述上横梁5与立柱2连接处设置有堵盖6，参见附图9，所述堵盖6的上部设置有把手15。便于取出插入。所述均匀域测试架由于本测试架比较高，装配过程应为先将下横梁3与立柱2嵌套安装，接着以下横梁3为基准，逐个将面元4嵌套成阵列分别嵌套在立柱2上，最后安装上横梁，再将整个板立起，将立柱2插入到轮架I上固定，探头架8可以通过开启堵盖6，将其划入到测试板上。在均匀场校准测试中，探头固定在探头架8上，利用立柱、横梁以及轮架上的标尺，首先确定16个测试点，测试天线按照标准布置在距测试支架3m处，可以方便精确的进行均匀场校准测试。所述均匀域测试架的测试板采用多个面元嵌套整合而成，组成灵活的滑轨线路，使测试板的测试位置的选取更自由；整个测试架的材料都为酚醛塑料，可以有效解决电磁波的反射折射问题；采用gamma 形和反gamma形嵌套结构，是整个测试架虽然由多个装置组成，但本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种均匀域测试架，其特征在于：所述均匀域测试架构成如下：轮架（1），立柱（2），下横梁（3），面元（4），上横梁（5），探头架（8）；其中，所述轮架（1）为“工”字形，轮架（1）的四角均安装有可转动的转向轮（11）；轮架（1）的中间位置设有立柱槽（9），立柱（2）通过立柱槽（9）与轮架（1）连接，立柱（2）上部开有“Γ”形槽（12），所述下横梁（3）长度方向的一侧设置有阶梯凹槽（14），下横梁（3）的两端设置有“Γ”形突起（13），下横梁（3）与立柱（2）通过“Γ”形突起（13）和“Γ”形槽（12）嵌套连接，所述上横梁（5）的一侧有“Γ”形突起（13），上横梁（5）与立柱（2）通过“Γ”形突起（13）和“Γ”形槽（12）嵌套连接；所述面元（4）具体为整体截面呈“工”字形结构，面元（4）“工”字形的下横的两端设置有方向相反的“Γ”形突起（13），面元（4）之间通过“Γ”形突起（13）嵌套连接成测试板，测试板的两侧与立柱（2）嵌套连接，所述探头架（8）构成“士”字形结构，探头架（8）可在相邻面元（4）间移动或固定，所述探头固定在探头架（8）上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宋国栋，张挺，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所，
类型：新型
国别省市：辽宁;21