一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构及方法技术方案

技术编号:10171200 阅读:216 留言:0更新日期:2014-07-02 12:31
本发明专利技术公开了一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构及方法,其中的一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构,包括模拟信号预处理模块、若干个通道的模拟信号采样保持模块、零传输损耗模拟开关、模拟信号驱动模块及模数转换器;所述模拟信号预处理模块输出端分别连接若干个通道的模拟信号采样保持模块;所述若干个通道的模拟信号采样保持模块分别连接零传输损耗模拟开关;所述零传输损耗模拟开关的输出端连接模数转换器。本发明专利技术可以利用低速ADC,实现高速ADC的功能,实现对外界信号的完整转换。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种提高ADC采样速率的电路系统拓扑结构,其特征在于,包括模拟信号预处理模块、若干个通道的模拟信号采样保持模块、零传输损耗模拟开关、模拟信号驱动模块及模数转换器;所述模拟信号预处理模块输出端分别连接若干个通道的模拟信号采样保持模块;所述若干个通道的模拟信号采样保持模块分别连接零传输损耗模拟开关;所述零传输损耗模拟开关的输出端连接模数转换器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘成军
申请(专利权)人:东莞博用电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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