本申请公开了一种ATE设备测试波形的显示方法及系统，属于自动化测试技术领域，包括：接收上位机发送的波形显示请求，其中，所述波形显示请求中包括用于触发逻辑控制器保存波形数字信息的触发条件；将所述波形转换请求中的触发条件设置到所述逻辑控制器...

本申请涉及一种设备专用适配器插拔结构及半导体测试设备，包括：设备专用适配器，其包括支撑框架，支撑框架上设有插槽板卡，插槽板卡的顶部排布有若干连接半导体器件的插槽；测试母板，该测试母板位于设备专用适配器的底部，并通过连接器与插槽板卡插拔连...

本申请涉及一种用于晶圆测试的高速高密测试装置，包括：高速高密连接器，其包括若干第一插接件和若干第二插接件，各所述第一插接件和各所述第二插接件之间通过同轴线缆连接；测试机，所述测试机设有多块向被测晶圆发出测试信号的信号测试板，所述信号测试...

本申请涉及一种支持半导体测试的高密连接器结构及测试设备，包括：板端连接器，该板端连接器包括PCB板，以及固定在PCB板上并在PCB板上线性阵列或圆周排列的若干第一插接件；线端连接器，该线端连接器包括与第一插接件插拔连接的第二插接件，第二...

本申请涉及一种高保真测试接口装置及半导体测试设备，包括：测试头，该测试头用于通过测试控制器测试半导体器件；设备专用适配器，该设备专用适配器包括连接半导体器件的若干插槽；测试母板，该测试母板上设有连接测试头和设备专用适配器的同轴电缆，以向...

本申请涉及一种老化测试柜，其包括柜体、第二加热器、制冷系统和驱动机构，柜体内具有用于容置老化测试板的第一温区，第一温区内形成有风道，第二加热器设于风道内；制冷系统具有一蒸发器，蒸发器设于风道内；驱动机构连接有叶轮，叶轮伸入风道内，驱动机...

本申请涉及老化测试柜及其机架结构，第一安装架将柜体分隔成第一温区和第二温区，第三安装架位于第一温区内，并用于安装老化测试板，第二安装架位于第二温区内，并用于安装测试核心板；第一安装架上设有窗口以及直通板，直通板一端用于对接测试核心板，另...

本申请涉及一种半导体老化测试架体，其包括第一安装架，第一安装架用于竖直地组设于柜体内，并将所述柜体分隔成用于容置老化测试板的第一温区和用于容置测试核心板的第二温区；所述第一安装架上自上而下设有若干窗口以及若干水平布置的直通板，所述直通板...

本申请涉及一种半导体测试设备的板卡插拔机构，老化测试板水平布置，且可移动地组设于第三安装架上，第三安装架的端部两侧均自上而下依次间隔设置有多个限位空间，老化测试板的两端各对应一个限位空间；该插拔机构包括第二插拔工具，第二插拔工具包括第五...

本申请涉及一种老化测试板用的架体，其包括第三安装架和第二高度调节机构，第三安装架包括大架体和至少一个小架体，所述小架体自上而下布置，且各所述小架体独立地且可移动地组设于所述大架体中，所述小架体两侧设有与老化测试板端部相适配的第三导槽，所...

本申请涉及一种板卡插拔机构及老化测试柜，板卡水平布置，且可移动地组设于第二安装架上，所述第二安装架的端部上设有与所述板卡对应的第一承载部，所述板卡上设有第一对接部；插拔机构包括第一插拔工具，所述第一插拔工具的一端为操作端，另一端上设置有...

本申请涉及一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法及装置，涉及半导体存储器测试技术领域，该方法包括以下步骤：建立用于替代FPGA的所有寄存器的自定义存储空间，在FPGA的所有寄存器地址到自定义存储空间的存储地址之间建立映射；当需要访问...

本申请涉及一种用于半导体芯片测试的板卡组件及设备，包括转接板、背板和业务板，转接板的一个板面上组设有第一连接器；背板组设于转接板上，并与第一连接器同板面，背板上组设有第二连接器；业务板的一端面上设有第三连接器和第四连接器；业务板在使用状...

本申请涉及一种设有模块化子框的半导体ETS设备，属于半导体测试设备技术领域，其用于半导体芯片测试，包括：机架；模块化子框，模块化子框固定连接在机架内，模块化子框包括机框，机框内设有相互插拔连接的板卡和背板，板卡通过板卡滑道与机框滑动连接...

本实用新型涉及一种电连接器的固定结构，其包括：电连接器，其具有用于与对接连接器对接的对接面；转接板，其具有限位部；固定于所述转接板的压块，所述压块与所述限位部共同围成收容所述电连接器的限位空间，所述限位空间限制所述电连接器沿对接方向移动...

本发明公开了一种PATTERN文件编译方法、装置及电子设备，该方法包括：对PATTERN文件中的各行指令进行分类，以关键字为键值生成指令查询表；所述指令查询表中存储有所述关键字与各级分类指令的类型之间的映射关系；对所述PATTERN文件...

本申请涉及一种散热结构和半导体测试设备，属于半导体测试设备技术领域，包括：壳体，该壳体为顶部开口四周封闭的空心结构，在壳体的顶部设有封闭其开口的半导体测试板；测试核心板，该测试核心板位于所述壳体内，且与所述半导体测试板电连接，所述壳体内...

本申请涉及一种自动上下料的半导体测试设备，属于半导体测试设备技术领域，包括：测试箱，其至少设有一个顶部开口的测试腔，测试腔内设有测试板，测试腔的顶部设有上盖；上下料机械手，其包括机械手及驱动机械手沿设定方向运动的驱动机构，机械手位于测试...

本申请涉及一种可自动开关门的半导体老化测试设备，其包括柜体、一水平布置的老化测试板、至少一个测试核心板和驱动机构；所述柜体具有两个互相独立的温区；老化测试板设于其中一所述温区内；测试核心板设于另一所述温区内；以及，所述老化测试板与所述测...

本申请涉及一种上开门式老化测试柜，其包括柜体、一老化测试板和至少一个测试核心板，柜体具有互相独立的第一温区和第二温区，老化测试板水平地设于第一温区内，测试核心板设于第二温区内，老化测试板与测试核心板信号连接，柜体顶部设有上开门，上开门用...