本发明公开了一种用图像匹配和相移干涉测试微结构三维运动的系统与方法。系统包括光学显微镜、Ｍｉｒａｕ干涉物镜、物镜垂直位置控制器、频闪照明驱动装置、ＣＣＤ摄像机、图像采集卡、数制计算机、运动激励驱动装置，频闪照明装置驱动白光ＬＥＤ和单色光...

本发明公开了一种可应用于相移干涉系统的基于相移干涉图像解析的微结构三维信息提取方法。其特征在于对相移干涉图像序列进行线性叠加直接提取出无干涉条纹的微结构平面图像，用于平面几何参数的测试，对上述平面图像进行边缘提取和二值化得到被测区域的模...

本发明公开了一种基于干涉条纹的准直方法，属于准直技术。该方法为：经准直扩束后的激光束通过楔形平板的反射被分解为两束相干光束，产生若干条平行于楔棱的等厚干涉条纹。调整条纹发射装置，使干涉条纹与光轴垂直且与发射装置底座平行；利用光阑选择两束...

本发明基于线结构激光被动扫描的快速彩色三维贴图方法，涉及本发明涉及计算机视觉技术具体讲，本发明涉及基于线结构激光被动扫描的快速彩色三维贴图方法。为快速、准确、完整地将彩色信息贴合到激光扫描测量得到的三维点云数据上，本发明采用的技术方案是...

本发明公开了一种无线传输远距离测量位移的方法。该方法采用激光束发射单元，光电探测器，射频或光发射器和射频或光接收器及信号数据处理单元，实现测量位移过程是，光电探测器安装在被测点，激光束指向光电探测器；光电探测器输出的模拟信号直接调制到射...

本发明公开了一种微位移动态变形检测的标定装置，包括微位移检出单元和计算机数据处理单元；微位移检出单元包括设置在底座上的变速传动机构、变速传动机构输出轴的支架、导轨；所述支架上设置有标准微位移激光传感器，导轨上设置有静滑块和与所述变速传动...

本发明涉及精密测量装置。具体讲，涉及基于拼接靶的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置。为提供不要求摄像装置有较大的景深，提高测量精度、测量速度快和效率的大型三维形体形貌测量拼接方法和装置，本发明采用的技术方案是，基于拼接靶的大型三维形体形...

本发明属于精密检测技术与仪器范畴，特别涉及焊脚共平面度误差在线测量仪。为提供用于现实生产中要求对罩焊脚共平面度误差进行在线检测、而且在线检测的速度快，检测精度高、使用方便、结构简单的检测装置，本发明采用的技术方案是，由测量光源、反射镜、...

本发明涉及影像测量仪器，万能工具显微镜，投影仪，具涉及基于模板的完整成像测量方法。为提供一种用于影像测量仪的可实现高精度、自动化、测量范围可拓展的影像测量方法，本发明采用的技术方案是，基于模板的完整成像测量方法，使被测物与背景模板一同分...

本发明涉及精密测量装置，具体讲，本发明涉及基于自动视觉引导的大尺寸空间坐标测量技术及装置。本发明的目的是提供一种基于自动视觉引导的大尺寸空间坐标测量方法及检测装置，该装置具有测量速度快、非接触、能在恶劣的环境中使用、较高的测量重复性特点...

本发明公开一种基于显微干涉和有限差分的微／纳悬臂梁的曲率测量方法，是由如下过程完成：第一步，应用相移显微干涉法测量被测微／纳悬臂梁的表面弯曲数据；第二步，应用有限差分法解析出被测微／纳悬臂梁的弯曲量；第三步，将第一步得到的表面弯曲数据与...

一种基于原子力显微镜力曲线的纳米梁厚度的非破坏测量方法，先通过扫描测量获取纳米梁区域的三维形貌信息，得到纳米梁上表面与基底之间的距离；再缩小扫描范围，将原子力显微镜探针精确定位在双端固支纳米梁的表面几何中心或纳米悬臂梁上表面的端部的位置...

一种大视场物体微观表面三维形貌的测量系统及其测量方法，系统有光源，聚光系统、第一分光镜、显微物镜、参考面、第二分光镜、压电陶瓷传感器（ＰＺＴ）、被测面、精密位移平台；镜筒透镜、电荷耦合器件ＣＣＤ、图像采集卡和计算机；第二分光镜、参考面及...

本发明属于精密检测技术与仪器领域。为提供一种安装调试方便，装调时间短，容易操作，测量精度高、结构简单的综合舰船姿态精确测量系统变形检测装置，本发明采用的技术方案是，包括：上法兰反射镜、屏蔽管、光学自准直系统透镜组、下发兰、半透半反镜、固...

本发明属于图像测量技术领域，尤其涉及压缩弹簧的同心度和垂直度测量装置，一种弹簧同心度和垂直度测量仪，包括由下列部件：设置在云台上的摄像机；置于摄像机对面的背光板，用以投射出均匀光线；旋转底座，用以固定待测弹簧；气缸和气缸顶轴，用以固定弹...

本发明属于计算机三维测量技术领域，具体涉及三维数字化测量中的一种颜色渲染方法，由视觉测量系统中的单色摄像机以及与其相配合的视觉测量器件提取被测对象的空间三维坐标，其特征在于，将另一台彩色摄像机置于靠近视觉测量系统中的摄像机的位置，利用此...

本发明属于计算机视觉和图像测量技术领域，尤其涉及一种三维拼接匹配点选取方法，包括下列步骤：（１）使用靶标对多传感器系统进行全局标定，同时获取靶标特征点的数据；（２）对同一靶标的数据点进行平面拟合，并利用投影点及最小凸包方法求解靶标区域；...

本发明公开了一种基片上微粒高度测量方法。该方法采用包括微位移平台、带有ＣＣＤ摄像机的光学显微镜、计算机和平行光光源所构成装置。测量基片上微粒高度过程包括：将一束平行光以与基片上表面成第一固定角度θ↓［１］照射基片表面微粒，获第一幅数字图...

本发明公开了一种基于机器人的快速自动化三维形貌在线测量方法和系统，本发明将三维测头安装在工业机器人的末端工具上，通过机器人承载三维测头运动，采用高精度大视场数码相机组成全局相机控制系统，结合测头控制点技术，将测头在每个测量位置下的单元数...

一种基于原子力显微镜的纳米结构中纳米间隙的精密测量方法，扫描测量被测样品上表面中心区域，将针尖定位于被测样品的中心；利用原子力显微镜探针进行垂直力的加载／卸载，直至被测样品的下表面与衬底发生接触；加载／卸载过程中实时记录原子力显微镜的力...