天津大学专利技术

天津大学共有45045项专利

  • 本发明属于长度计量与测试技术领域。在三坐标测量机上用安装于测头座上的磁性球座对置于测量空间的由一系列等间距钢球组成的一维球列进行三维定位测量。通过自检法即180°转位法和平移法将测量读数分离计算出一维球列的直线度误差间距误差。将一维球列...
  • 本发明公开了一种全息式焦点跟踪光触针测微仪,它含有半导体激光器[1]、准直透镜[2]、物镜[6]、焦点跟踪驱动器[11]、驱动电路[16]、积分器[15]和显示器[18]。全息刀口元件[5]设置在准直透镜[2]和物镜[6]之间;激光器[...
  • 能够输出单一谐波的光栅式位移测量装置,属于使用光电扫描光栅的光学测量装置。是由光源,聚焦镜,黑白主光栅,指示光栅及光电接收装置组成,其指示光栅为光栅刻线的光强透过率按正弦函数变化的正弦指示光栅。本发明可消除高次谐波的影响,使光栅信号只输...
  • 测量盲小孔与狭槽的三维测头和测量方法。本发明属长度计量与测试技术领域,结构由三维位移测量单元组成,其导向元件为波纹管或膜片三维弹性体,其优点在于可测量大于Φ0. 2mm的通孔或盲孔和狭槽任意截面尺寸和形状误差,被测小孔深径比大于30∶1...
  • 本发明属工程材料、构件强度测试及监控仪器,包括激光器1扩束镜2准直镜3,主分光镜4副分光镜5,反射镜组6、7,摄象机9,监视器10,线路板11,步进电机12,录相机13和微机14,移动和升降9机构16。除13、14外,组合在封闭的框架1...
  • 光栅位移测量装置,适用于线位移和角位移的测量。具有光源、标尺光栅、指示光栅和光电接收装置。本发明的指示光栅的每条刻线是由多个精细的光学图形单元连接而成,每个光学图形单元含有透光部分,光强透过率为常数c,和不透光部分,光透过率为0或接近于...
  • 本发明是集光学方法测量及机械接触方法测量的可靠性和单一性于一体的光学接触式测量方法和利用该方法的微型三维测头,用于微米尺度微小型工件的测量。该测头的优点是测力小(小于50μN),且“测杆”的弹性、塑性变性和迟滞效应不会引触测不确定误差。...
  • 本发明公开了一种激光三角法测头,它是由三个或四个半导体激光器、透镜、CCD接收器、平面反射镜构成,透镜与被测物体之间设置有偏振片。本发明的激光三角法测头,能够测量强反射自由曲面物体形状及大倾斜角的表面,并且降低了测头的成本,同时还能给出...
  • 本发明它是在测试装置的机座上装置有下滑块、上滑块、量块及微处理器等,机座上制有二支柱体,其一支柱体上装有平移调节机构及调节上滑块行程的微位移驱动器。校准仪器时,本发明不需要高精度等级的精密仪器作检定基准,只需将两只同样的电容测微仪按一垂...
  • 本发明属于精密测量装置,特别涉及一种利用计算机视觉技术的在线实时准直测量装置。利用计算机视觉的实时准直测量装置采用虚拟基准取代了实物基准作为测量参照,具体技术方案是:根据被测对象的尺寸及结构,选用或设计相应工作距离和量程的结构光视觉传感...
  • 本发明公开了一种光学法多维参数测量中的虚拟定位方法。该方法的测量系统主要由二维视觉传感器和面阵CCD摄像机组成,二维视觉传感器的虚拟定位方法,特征在于:采用一个空心正四面体作为二维视觉传感器的靶标,以空心正四面体实现虚拟定位步骤是:a....
  • 本发明公开了一种动态多分辨率的三维数字成像的方法及装置,包括双声光照明发射器,图像传感接收器和图像处理器。由所说的照明发射器产生不同空间周期或频率以及不同相位移动的结构光序列,并按时间序列投射到被数字化的景物上,对景物深度信息进行空-时...
  • 本发明公开一种基于测量相位或时间的调焦法光学测头及其测量仪。属于位移测试技术及仪器领域。所述的位移测头包括由光源、音叉、物镜、被测表面,半透半反镜、视像器、光电元件、光阑构成。其特征在于在测量头中设置了由参考臂分光镜、参考臂光学透镜、参...
  • 一种基于显微干涉技术的微机电系统的测试装置,该装置包括由三维微动测试台、光学显微镜、Mirau干涉仪、相移控制器、频闪照明驱动装置、驱动信号切换开关、LED阵列、MEMS结构运动激励驱动装置、CCD摄像机、图像采集卡、数据处理和控制计算...
  • 本发明涉及一种采用光学的方法进行三维坐标的测量技术。光笔式便携三维坐标测量系统,包括CCD摄像机、计算机和用做测量传感部件的光笔。在光笔上装有三个光靶标,在笔尖处装有球形测头,三个光靶标的中心以及球形测头的中心位于同一条直线上,光靶标由...
  • 本发明涉及激光高精度三维坐标测量,具体讲是涉及双目线结构光传感器一致性精确标定方法及其实施装置,为准确标定出双目线结构光视觉传感器的光平面参数,并将左右摄像机的空间测量坐标系准确统一起来,本发明采用的技术方案是:一种双目线结构光传感器一...
  • 本发明大范围纳米检测光学系统,涉及大范围纳米检测光学系统。为提供大范围纳米检测光学系统,该系统在确保高分辨率、高精度的前提下,测量范围扩大,本发明采用的技术方案是:由V型摩擦导轨、驱动马达、激光干涉系统等部分组成。其中,导轨采用V型滑动...
  • 本发明公开了一种不基于粘性标记的大型三维形体形貌测量拼接方法,通过测头控制点将测头在每个局部位置的测量数据转换到全局坐标系中,实现局部到整体的拼接,拼接方法包括:在测量空间内放置标记有两个标记点的一基准尺;采用高分辨率数码相机从多个不同...
  • 光带法三维扫描测量系统的分区标定方法,包括:标定点对及标定图像的准备;分区:将标定点的图像分成N个区域,每个区域内的标定点为一组;建立每个区域内的物理坐标(Xw,Yw)与二维光电传感器图像平面上的像素坐标(X↓[f],Y↓[f])之间的...
  • 本发明公开了一种工件壁厚与尺寸形位误差自动测量系统,包括测量机及其电控系统。电控系统的包括工控微机,工控微机通过控制卡与连接有接口主板,接口主板连接有测头、退让机构、温度传感器、操纵盒、限位开关和多个控制与驱动电路。控制驱动电路由驱动器...