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天津大学专利技术
天津大学共有45045项专利
大型隧道管片构件几何量测量装置和方法制造方法及图纸
本发明涉及一种大型隧道管片构件几何量测量装置和方法。以激光跟踪仪为坐标采集设备,布设两个激光跟踪仪测量站,扫描所有型面坐标信息,并通过公共点统一坐标系,通过VC编写的软件读入数据,最小二乘法拟合平面,半径约束最小二乘法拟合弧面,从而评价...
一种在线式圆柱体直径测量装置及其测量方法制造方法及图纸
本发明属于计算机视觉检测,图像测试技术领域,涉及一种在线式圆柱体直径测量装置,包括放置待测圆柱体的V型槽传送带,驱动V型槽传送带做匀速直线运动的电机和电机驱动器,一台用于采集待测圆柱体图像的摄像机,所述摄像机带有显微摄像头,置于云台上,...
气缸套智能检测装置制造方法及图纸
本发明属于仪器仪表技术领域。特别涉及一种精密的气缸套智能检测装置。气缸套智能检测装置主要包括:X向的底座12、旋转C轴方向的主轴旋转台13、Z向的立柱7、电气控制柜27、大理石平台22、测量架17、外壳26、防尘罩25、操作面板23、显...
基于激光测距和蓝牙传输的大尺寸扫描测量装置及方法制造方法及图纸
本发明公开了一种基于激光测距和蓝牙传输的大尺寸扫描测量装置及方法,属于工业大尺寸几何量测量技术领域。所述测量装置包括激光测距仪、机械转台机构、伺服控制系统。主要由底座、底座下端的底角螺丝、上端的支撑框架、支撑框架上连接的伺服电机、转动中...
复合空间型面几何误差评定方法技术
本发明属于机械零件几何误差评定领域,涉及一种复合空间型面几何误差评定方法,该方法针包括下列步骤:(1)读取待评定工件的三维CAD模型,重构理想的工件模型;(2)测量待评定工件的几何数据,获取各个测量点的坐标信息;(3)针对待评定工件的包...
透明封装介质下微器件的表面形貌测量系统与方法技术方案
本发明公开了一种透明封装介质下微结构的表面形貌测量系统和方法。该系统包括LED点光源或激光光源、扩束准直透镜组、光阑、分光棱镜、测量物镜、参考物镜、平面参考反射镜、光程补偿板、纳米定位仪、纳米定位仪控制器、数字摄像机、光学成像镜头、数字...
光笔式便携三维坐标测量机制造技术
本实用新型涉及一种采用光学的方法进行三维坐标的测量技术。光笔式便携三维坐标测量机,包括CCD摄像机、计算机和用做测量传感部件的光笔。在光笔上装有三个光靶标,在笔尖处装有球形测头,三个光靶标的中心以及球形测头的中心位于同一条直线上,光靶标...
光电自准直仪制造技术
本实用新型公开了一种光用自准直仪,它包括光源、分划板、物镜组、反射镜图象探测器件、分光棱镜。所述的分划板设置有带N字型、∧型、∨型等;所述分光棱镜的共轭焦平面处设置有一维图象探测器件。本实用新型具有结构简单、分辨率高、精度高、成本低的特点。
足、篮、排球球度仪制造技术
该实用新型属测量足球、篮球、排球球度的仪器。该球度仪采用相对测量中心O的X、Y、Z、三向对称平面和弹性夹紧机构,球在定位夹紧后可绕X轴旋转,测量装置在底座上绕Z轴回转测量。该仪器可直接测量球面上任一点的半径误差值。该球度仪结构简单、紧凑...
多发射单接收测头制造技术
本实用新型公开了一种多发射单接收测头,它是由半导体激光器、物镜、CCD接收器构成,所述半导体激光器为3-6个,在每个半导体激光器的下方各自设置有透镜。所述半导体激光器与透镜之间或透镜与被测物体之间设置有平面反射镜。所述半导体激光器为3个...
一种基于光纤干涉原理的纳米测量机测头制造技术
本实用新型涉及基于光纤干涉原理的纳米测量机测头,该测头包括接触模式的悬臂梁探针,探针夹持器,基于光纤和分束镜的斐索干涉仪。该系统作为纳米测量机的传感器,感测样品表面的形貌,该系统还可以实现纳米测量机大范围扫描的定位作用,并可将位移信号传...
偏振分束错位式干涉仪制造技术
一种偏振分束错位式干涉仪,其特征为:该干涉仪构成为一端为设置有确定激光输入窗口位置和干涉光输出窗口位置的偏振器(1),其后是沿测试光路方向依次排列有的平行偏振分束棱镜(2)、并列的逆时针45°互易旋光器(3)和顺时针45°互易旋光器(4...
大范围纳米检测光学系统技术方案
本实用新型大范围纳米检测光学系统,涉及大范围纳米检测光学系统。为提供大范围纳米检测光学系统,该系统在确保高分辨率、高精度的前提下,测量范围扩大,本实用新型采用的技术方案是:由V型摩擦导轨、驱动马达、激光干涉系统等部分组成。其中,导轨采用...
大行程纳米级步距压电微动工作平台及其驱动控制系统技术方案
本实用新型公开了一种大行程纳米级步距压电微动工作平台及其驱动控制系统。适用于纳米技术领域,特别是纳米机械加工、纳米测量、电子器件生产、微型机电系统、纳米材料、生物医学等领域。本实用新型的大行程纳米级步距压电微动工作平台,包括平台和底座。...
多光束膜厚测量头制造技术
一种安装在显微镜上使用的多光束膜厚测量头。它是利用单色光的多次反射、干涉而产生鲜明的干涉条纹,根据条纹的偏移量来确定薄膜厚度。该测量头可以方便的测量1.5μm以下的非透明膜、透明膜的厚度。由于它是用光波的波长为尺子,来测量薄膜厚度,加之...
用于步距测量的双光路激光测量装置制造方法及图纸
一种用于步距测量的双光路激光测距装置。本实用新型属于长度计量与测试技术领域。该装置由光路转折装置1和可移动测量装置6组成。装置中直角棱镜的使用保证了测量过程中可移动测量装置进出步距时光路不中断,可以实现测量自动化,利用不同结构和性能的测...
用于测量三座标机机构误差的三维电容测头制造技术
一种用于测量三坐标机机构误差的三维电容测头。本实用新型属于长度计量与测试技术领域。三维电容测头的结构特征在于固定在同一刚性支架上的三个电容测头的测量面中心法线两两相互垂直,并交于一点,交点至三个测量面的距离相等,它具有电容测微仪精度高和...
测量物体表面位移的贴片云纹干涉法制造技术
本发明的贴片云纹干涉法属于光测技术领域.该发明是采用专用的粘结剂,新的粘贴工艺和新分离工艺,控制栅频及测量精度的新方法.其工艺简易,成本低廉,试验周期短,灵敏度高,条纹对比度良好.使用贴片云纹干涉法可以测试物体表面的位移,变形,进行应变...
长光栅付相对转动测角的方法技术
本发明是精密计量测试领域中的一新的测角应用技术。其特征是用一对长光栅付的相对转动测角,其运动光栅是装在一个绕固定轴转动的旋转臂上,当旋转臂转动时在固定的指示光栅窗口上产生莫尔条纹信息输入计算机中,按固定程序运算,然后给出一个高精度,稳定...
单片机大位移测量仪制造技术
一种单片机大位移测量仪是采用平行板变面积式电容传感器,通过电容—频率转换电路,将输出的频率信号送入单片机进行数据处理及显示。该仪器设计结构合理、紧凑,工艺性能可靠,不仅测量范围宽(0-200mm),而且测量精度高(0.1%),是一种理想...
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