【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于精密检测技术与仪器领域。具体讲涉及综合舰船姿态精确测量系统变形检测装置。
技术介绍
综合舰船姿态精确测量系统变形检测装置可以用于测量海军舰艇各种武器装备试验中对试验舰的姿态测量系统造成变形量进行测量以便对所造成的变形进行补偿。达到高精度试验的目的。综合试验舰变形测量装置用于测量联合基座上下平台间纵横向的相对变形量。为联合基座上下平台的姿态测量设备提供变形数据，供误差分析和实时修正用。如图1所示，物点O位于物镜的焦点处，经物镜后形成平行光照射到反射镜上，如果反射镜与光轴垂直，则光线原路返回，又成象在O点处。当反射镜相对接受屏倾斜一个α角时，按光线反射定律，反射光线方向改变2α角，并成象在焦平面的O1点处。象点的位移OO1与倾角的关系为oo1＝ftg2α。原自准直仪变形测量系统，为了满足测量精度的要求，不仅需要自准直仪变形测量系统得测量精度高，而且需要操作人员非常细致准确的进行平行光系统光束准直性能的调整，否则难于达到角秒级的测量变形两精度。原来的自准直仪变形测量系统要求调整人员钻在联合基座的低下，调整三角反射镜，使自准直仪的出射光准确从上平面反射到...
【技术保护点】
一种综合舰船姿态精确测量系统变形检测装置，其特征在于，包括：上法兰反射镜、屏蔽管、光学自准直系统透镜组、下发兰、半透半反镜、固体激光器、计算机处理系统、位置光电传感器（ＰＳＤ）测量电路转换系统，固体激光器发出的光经过半透半反镜、下发兰投射到处于下平面位置的光学自准直系统透镜组，然后再投射到处于上平面位置的上法兰反射镜，上法兰反射镜反射回的光投射到半透半反镜，经半透半反镜反射到位置光电传感器（ＰＳＤ）测量电路转换系统，转换成电信号后输出到计算机处理系统。
【技术特征摘要】
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。