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泰瑞达公司专利技术
泰瑞达公司共有63项专利
具有自动盖的测试插座制造技术
一种用于测试系统的示例性测试插座,包括用于与被测装置(OUT)进行电气和机械连接的容座和用于覆盖该容座中的该OUT的盖。该盖能够控制为自动地打开以使得能够将该OUT接收在该容座中,并且在接收到该OUT之后,自动地关闭以覆盖该容座中的该O...
用于形成盲配合电连接的波导连接器制造技术
本发明涉及一种示例性波导连接器,其用于在第一波导和第二波导之间形成盲配合电连接
共振耦合传输线制造技术
本发明公开了一种示例性印刷电路板(PCB),其包括:基底,该基底具有介电材料层,其中该介电材料层包括第一层和第二层;传导迹线,该传导迹线位于第一层与第二层之间,并且沿传导迹线的长度的至少部分平行于第一层和第二层;以及传导通孔,该传导通孔...
前端模块制造技术
示例性前端模块包括连接到待测设备(DUT)的通道。前端模块包括位于DUT与前端模块之间的传输线,该传输线被配置用于对包括测试信号和响应信号的振荡信号进行双向传输;和同相正交(IQ)电路,该IQ电路被配置为调制测试信号以用于通过传输线传输...
被配置为解决不受控制的测试头旋转的测试头操纵器制造技术
示例测试头操纵器,该示例测试头操纵器包括具有基部和轨道的塔部以及能够支撑测试头的臂,其中轨道相对于基部是垂直的。臂被连接到轨道以相对于塔部垂直地移动测试头,并且臂被配置为控制测试头的旋转。臂中的每个包括可旋转的凸轮和至少一个柱塞,该至少...
具有至远程服务器的光纤连接的自动测试设备制造技术
本发明公开了一种示例性测试系统,其包括测试头和装置接口板(DIB),该装置接口板被配置以连接至该测试头。该DIB用于固持受测装置(DUT)。该DIB包括用于在该DUT与该测试头之间传输电信号的电导体。服务器经编程以作为测试仪器。该服务器...
自动化测试系统中的测试部位构造技术方案
本发明题为“自动化测试系统中的测试部位构造”。本发明公开了一种示例性测试系统,其包括用于测试DUT的测试插座、用于该测试插座的盖件和致动器,该致动器被构造成迫使该盖件至该测试插座上并且从该测试插座去除该盖件。该致动器包括:上臂,其用以移...
电感控制系统技术方案
本发明提供了一种示例性极性反转器,该示例性极性反转器包括多个接触器,该多个接触器中的每个接触器包括能够控制以配置电流路径的开关。多个接触器中的每个接触器包括触点,这些触点是交错的,使得接收具有第一极性的电压的第一触点与接收具有第二极性的...
插入件制造技术
用于测试系统的插入件包括同轴电缆和印刷电路板(PCB),该同轴电缆中的每个同轴电缆被配置为输送源自电流源的电流的第一部分,该PCB中的每个PCB连接到一组同轴电缆以便从该组中的每个同轴电缆接收该电流的该第一部分并输送该电流的第二部分。弹...
用于自动化测试系统的热控制系统技术方案
本发明题为“用于自动化测试系统的热控制系统”。本发明公开了一种示例性测试系统,其包括测试部位,该测试部位用于测试受测装置(DUT),其中该测试部位包括被构造成固持DUT用于测试的测试部位。该测试系统包括热控制系统,该热控制系统用以与控制...
用于操作源同步设备的装置和方法制造方法及图纸
本发明描述了利用门控DQS信号选通DQ信号的电路和操作该电路的方法。一些方面针对门控方案,以基于ATE中的驱动电路中的驱动启用(DE)信号的状态来选择性地传递所接收的选通信号诸如DQS选通信号,使得防止由驱动电路生成的沿错误地选通所接收...
校准接口板制造技术
本发明公开了一种示例性测试系统,其包括设备接口板(DIB),该设备接口板具有一个或多个信号传输路径和用于连接至该测试系统的一个或多个其它组件的接口。测试电路,该测试电路被配置为将测试信号注入至该一个或多个信号传输路径中,并在该接口处测量...
校准差分测量电路制造技术
公开了示例性电路,该示例性电路包括:第一电路,该第一电路用于提供低信号;第二电路,该第二电路用于提供高信号,其中该高信号具有比该低信号更大的电压幅度;和差分放大器,该差分放大器被配置为接收来自该第一电路的该低信号和来自该第二电路的该高信...
自动化测试装备中的探针卡组件制造技术
本发明公开了用于自动测试装备(ATE)的竖直型探针卡组件中的探针引脚布置。在一些实施方案中,在相邻探针引脚之间设有一个或多个附加导电区域。所述附加导电区域可减小连接到相邻探针卡焊盘的探针引脚之间的间距,并且可进而减小所述两个探针卡焊盘之...
用于自动化测试设备的探针卡中的换位通孔布置制造技术
公开了一种自动化测试设备(ATE)中的探针卡。该探针卡可以是垂直型探针卡组件的一部分,其中在电路板上的焊盘通过探针引脚接触,该电路板中的竖直通孔使各种导电元件互连。本文公开了一种用于探针卡的电路板内的换位通孔布置,其中相邻通孔朝向彼此偏...
自动化测试装备中的探针卡焊盘几何形状制造技术
本发明公开了自动化测试装备(ATE)中的探针卡以及其用于测试电子设备的操作方法。所述探针卡可以是竖直型探针卡组件的一部分,其中在电路板上的焊盘通过探针引脚接触。所述探针卡具有焊盘几何形状,所述焊盘几何形状补偿由于制造误差或热膨胀系数的失...
用于自动化测试设备的探针卡中的同轴通孔布置制造技术
公开了一种自动化测试设备(ATE)中的探针卡。该探针卡可以是垂直型探针卡组件的一部分,其中在电路板上的焊盘通过探针引脚接触,该电路板中的竖直通孔使各种导电元件互连。本文公开了一种探针卡,其具有围绕信号通孔成同轴布置的接地通孔,这些接地通...
使用互相关确定误差矢量幅度制造技术
本公开涉及一种示例性方法,其使用自动测试设备(ATE)确定误差矢量幅度。该方法包括解调在第一接收器处接收的数据以产生第一符号误差矢量,其中每个第一符号误差矢量表示星座图上的预定义点与该星座图上基于由该第一接收器接收的该数据的至少一部分而...
稳定待测设备处的电压制造技术
稳定待测设备(DUT)处的电压的示例性方法包括识别在该DUT处出现的第一电压偏差的一个或多个特性。该偏差可由数字信号和该DUT中的伴随瞬态电流导致。该数字信号可为通过自动测试设备(ATE)的一个或多个测试通道待发送到该DUT的测试流的一...
控制测试通道的输出级中的功率耗散制造技术
本发明公开了一种示例性测试系统,其包括输出级,该输出级用于向测试仪器的通道供给电压或电流中的至少一者;跟踪电路,该跟踪电路用于检测输出级之后的通道电压并且基于通道电压来控制到输出级的供电电压;以及控制器,该控制器用于基于供电电压和通道电...
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