稳定待测设备处的电压制造技术

稳定待测设备(DUT)处的电压的示例性方法包括识别在该DUT处出现的第一电压偏差的一个或多个特性。该偏差可由数字信号和该DUT中的伴随瞬态电流导致。该数字信号可为通过自动测试设备(ATE)的一个或多个测试通道待发送到该DUT的测试流的一部分。在将该测试流发送到该DUT之前，可识别该一个或多个特性。该方法还包括生成施加到该DUT的第二电压。该第二电压可基于该一个或多个特性，并且被塑形以减小该偏差。差。差。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】稳定待测设备处的电压


[0001]本说明书描述了被配置为稳定待测设备处的电压的测试系统的示例。

技术介绍

[0002]测试系统被配置为测试电子设备诸如微处理器和存储器芯片的操作。测试可包括向设备发送信号以及基于其响应来确定设备对这些信号作何反应。例如，测试可包括将电压和电流强加到测试通道上，以及基于所强加的电压和电流从设备接收信号。设备的反应将决定设备通过测试还是测试失败。电压源可用于向待测设备供电。

技术实现思路

[0003]用于稳定待测设备(DUT)处的电压的示例性方法包括识别在该DUT处出现的第一电压偏差的一个或多个特性。该偏差可由数字信号和该DUT中的伴随瞬态电流导致。该数字信号可为通过自动测试设备(ATE)的一个或多个测试通道待发送到该DUT的测试流的一部分。在将该测试流发送到该DUT之前，可识别该一个或多个特性。该方法还包括生成施加到该DUT的第二电压。该第二电压可基于该一个或多个特性，并且可被塑形以减小该偏差。示例性方法可包括下列特征中的一个或多个特征(单独地或组合地)。
[0004]该瞬态电流可由该数字信号引起的该DUT的状态变化引起。该偏差可包括(i)该电压的暂时下降，之后是该电压的暂时上升，或(ii)该电压的暂时上升，之后是该电压的暂时下降。该一个或多个特性可基于(i)该电压的该暂时下降的幅度和该电压的该暂时上升的幅度，或(ii)该电压的该暂时上升的幅度和该电压的该暂时下降的幅度。该一个或多个特性可包括该数字信号与该电压偏差之间的持续时间。
[0005]生成该第二电压可包括改变同样产生该测试流的测试程序。该方法可包括通过该识别操作和该生成操作迭代两次或更多次，以便在每次迭代期间进一步减小该偏差。该测试流可实施扫描测试。该方法可包括通过电压传感器感测该DUT处的该第一电压。识别该一个或多个特性可基于所感测的电压。该方法可包括执行校准操作以确定该第二电压。该第二电压可基于电压源与该DUT之间的未指定负载。
[0006]示例性测试系统包括向DUT提供电压的电压源和通过一个或多个测试通道向该DUT发送测试流的测试仪器。该测试系统还包括一个或多个处理设备，该一个或多个处理设备用于识别在该DUT处出现的第一电压偏差的一个或多个特性，其中该第一电压待基于来自该电压源的该电压，其中该偏差由数字信号和该DUT中的伴随瞬态电流导致，其中该数字信号是该测试流的一部分，并且其中在将该测试流发送到该DUT之前识别该一个或多个特性。该一个或多个处理设备还被配置为控制该电压源输出第二电压。该第二电压可基于该一个或多个特性，并且可被塑形以减小该偏差。示例性测试系统可包括下列特征中的一个或多个特征(单独地或组合地)。
[0007]该瞬态电流可由该数字信号引起的该DUT的状态变化引起。该偏差可包括(i)该电压的暂时下降，之后是该电压的暂时上升，或(ii)该电压的暂时上升，之后是该电压的暂时
下降。该一个或多个特性可基于(i)该电压的该暂时下降的幅度和该电压的该暂时上升的幅度，或(ii)该电压的该暂时上升的幅度和该电压的该暂时下降的幅度。该一个或多个特性可包括该数字信号与该电压偏差之间的持续时间。该电压源可由同样产生该测试流的测试程序控制。
[0008]该一个或多个处理设备可被配置为控制包括通过该识别操作和该控制操作迭代两次或更多次的操作，以便在每次迭代期间进一步减小该偏差。该测试流可实施扫描测试。该测试系统可包括电压传感器，以感测该DUT处的该电压。电压传感器可为该电压源的一部分，或者可与该电压源分离。识别该一个或多个特性可基于从该电压传感器获得的所感测的电压。
[0009]该测试系统可包括用于将该测试仪器连接到该DUT的设备接口板(DIB)。该DIB可包括该DUT与之连接的位点。该偏差的该一个或多个特性可基于该DIB中包含的一个或多个导体或部件上的电感或电容中的电感或电容中的至少一者。该测试系统可包括位于该电压源与该DUT之间的一条或多条感测线。该一条或多条感测线可被配置为至少感测邻近该DUT的电压。该一个或多个处理设备可被配置为执行校准操作以确定该第二电压。该第二电压可基于该电压源与该DUT之间的未指定负载。
[0010]本说明书(包括本
技术实现思路
部分)中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本说明书中未具体描述的具体实施。
[0011]本说明书中所描述的测试系统和过程的至少一部分可通过在一个或多个处理设备上执行存储在一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令来配置或控制。非暂态机器可读存储介质的示例包括只读存储器、光盘驱动器、存储器磁盘驱动器和随机存取存储器。本说明书中所描述的测试系统和过程的至少一部分可使用由一个或多个处理设备和存储指令的存储器组成的计算系统来配置或控制，这些指令可由该一个或多个处理设备执行以进行各种控制操作。
[0012]附图和以下具体实施方式中阐述了一个或多个具体实施的详细信息。通过具体实施和附图以及通过权利要求书，其他特征和优点将显而易见。
附图说明
[0013]图1是包括能够控制的电压电源的示例性测试系统的部件图。
[0014]图2是DUT处的示例性电压瞬变的曲线图。
[0015]图3是包括用于向待测设备(DUT)发送数字信号的仪器的示例性测试系统的部件的框图。
[0016]不同图中的类似附图标记指示类似元件。
具体实施方式
[0017]本文描述了被配置为向诸如自动测试设备(ATE)等测试系统中的待测设备(DUT)提供电压的系统的示例性具体实施。该系统包括电压源，诸如数字电源(DPS)或其他适当的电压发生器。电压源被配置和控制以实现前馈方法以解决当DUT改变状态时(诸如当DUT最初通电测试时)在该DUT处出现的电压偏差。该前馈方法包括响应于接收到数字信号，诸如作为测试DUT的测试流的一部分的数字突发，识别该DUT处的电压的一个或多个特性。该一
个或多个特性可包括电压与其在DUT处的预期值的任何偏差。例如，该一个或多个特性可包括电压的暂时下降，之后是电压的暂时上升，或电压的暂时上升，之后是电压的暂时下降。
[0018]电压偏差是DUT对数字信号的反应以及DUT中产生的伴随瞬态电流的结果。偏差的该一个或多个特性(在本文中被称为“特性”)在测试DUT之前是已知的，例如，在将包括数字信号的测试流发送到DUT之前是已知的。在一些具体实施中，基于预测试校准操作、DUT对已知数字信号的已知反应或这些因素和其他因素的组合来确定特性。因此，在一些具体实施中，反馈或正在进行的反馈不用于生成用于减少偏差的数据。
[0019]由硬件、软件或硬件和软件的组合组成的控制系统被配置为基于DUT处的电压特性来控制输出到DUT的电压。在一些具体实施中，特性包括数字信号和电压偏差之间的持续时间。基于此持续时间和偏差的特征，诸如下降和上升的幅度和形状，控制系统控制电压源以产生输出电压，该输出电压的被塑形以减小DUT处的电压偏差。
[0020]图1是示出了包括补偿器13的电压源10的示例性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法，所述方法包括：识别待测设备(DUT)处出现的第一电压偏差的一个或多个特性，所述偏差是由数字信号和所述DUT中的伴随瞬态电流导致的，所述数字信号是通过自动测试设备(ATE)的一个或多个测试通道待发送到所述DUT的测试流的一部分，其中在将所述测试流发送到所述DUT之前识别所述一个或多个特性；并且生成施加到所述DUT的第二电压，所述第二电压是基于所述一个或多个特性的并且被塑形以减小所述偏差。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述瞬态电流是由所述数字信号引起的所述DUT的状态变化引起的。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述偏差包括所述电压的暂时下降，之后是所述电压的暂时上升。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述偏差包括所述电压的暂时上升，之后是所述电压的暂时下降。5.根据权利要求1所述的方法，其中所述偏差包括(i)所述电压的暂时下降，之后是所述电压的暂时上升，或(ii)所述电压的暂时上升，之后是所述电压的暂时下降；并且其中所述一个或多个特性基于(i)所述电压的所述暂时下降的幅度和所述电压的所述暂时上升的幅度，或(ii)所述电压的所述暂时上升的幅度和所述电压的所述暂时下降的幅度。6.根据权利要求1所述的方法，其中所述一个或多个特性包括所述数字信号与所述电压偏差之间的持续时间。7.根据权利要求1所述的方法，其中生成所述第二电压包括改变同样产生所述测试流的测试程序。8.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：通过所述识别操作和所述生成操作迭代两次或更多次，以便在每次迭代期间进一步减小所述偏差。9.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试流实施扫描测试。10.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：通过电压传感器感测所述DUT处的所述第一电压；其中识别所述一个或多个特性是基于所感测的电压。11.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：执行校准操作以确定所述第二电压，所述第二电压基于电压源与所述DUT之间的未指定负载。12.一种测试系统，所述测试系统包括：电压源，所述电压源用于向待测设备(DUT)提供电压；测试仪器，所述测试仪器用于通过一个或多个测试通道向所述DUT发送测试流；和一个或多个处理设备，所述一个或多个处理设备(i)用于识别在所述DUT处出现的第一电压偏差的一个或多个特性，所述第一电压待基于来自所述电压源的所述电压，所述偏差由数字信号和所述DUT中的伴随瞬态电流导致，所述数字信号是所述测试流的一部分，其中在将所述测试流发送到所述DUT之前识别所述一个或多个特...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹森，
申请(专利权)人：泰瑞达公司，
类型：发明
国别省市：