【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本说明书整体涉及用于预测设备将失败的测试的示例性过程。
技术介绍
1、自动测试装备(ate)包括用于向待测设备(dut)发送信号以及用于从待测设备接收信号以便测试dut的操作的电子器件。ate包括不同类型的测试仪器，该测试仪器被配置为对dut执行不同类型的测试。ate记录dut是否通过此类测试。例如，通过/失败数据可存储在计算机存储器中。
技术实现思路
1、示例性技术可实现为一种方法、系统或存储指令的多个非暂态机器可读介质，该指令可由一个或多个处理设备执行。由示例性技术执行的操作包括获得表示由一个或多个测试仪器在测试系统中待测设备(dut)的初始集上执行的测试的结果的数据；以及使用该数据来训练机器学习模型。该机器学习模型用于预测对于不同集的dut该测试中的哪些测试将产生失败结果。该不同集中的dut与该初始集中的dut具有一个或多个共同的特征。该技术可包括下列特征中的一种或多种特征(单独地或组合地)。
2、该机器学习模型可被配置为通过至少部分地将与第一dut相关联的第一模式和与该初始集中的第二dut相关联的第二模式匹配来执行对该不同集中的该第一dut的预测。该第一模式可对应于该第一dut已经通过或失败的第一测试，并且该第二模式可对应于该第二dut已经通过或失败的第一测试。预测该测试中的哪些测试将产生针对该第一dut的失败结果可包括识别该第二dut已失败的第二测试。该第二测试可以是该第一dut将失败的该测试中所预测的测试。该第一模式可以是用1或0表示通过或失败的二进制模式，
3、示例性技术可实现为一种方法、系统或存储指令的多个非暂态机器可读介质，该指令可由一个或多个处理设备执行。由该示例性技术执行的操作包括使用机器学习模型来预测第一待测设备(dut)将失败的测试，其中由该机器学习模型进行的预测基于与先前在第二dut上运行的测试相关联的模式匹配。该操作还可包括：在该第一dut未通过该测试中的第一测试之后，控制测试系统以使用该机器学习模型已预测该第一dut为失败的测试来继续测试该第一dut，并且基于该第一dut已被预测为失败的该测试来输出该第一dut的测试结果。该技术可包括下列特征中的一种或多种特征(单独地或组合地)。
4、该操作可包括分析该测试结果以识别该第一dut的测试失败的原因。可在没有针对该第一dut的测试插入的情况下执行该测试结果的分析，其中，在该测试插入期间，探针在该第一dut操作时接触该第一dut。该机器学习模型可被配置为在该第一dut的测试插入期间进行预测，其中在该测试插入期间，探针在该dut操作时接触该dut。该操作可包括分析该测试结果以确定是否重新测试该第一dut。预测可在10毫秒(ms)或更短时间内执行。该机器学习模型可在单独的计算系统上执行，而不是用于控制测试该第一dut的计算系统。该机器学习模型可以是或包括knn(k最近邻)模型或神经网络中的一者。
5、示例性测试系统包括用于测试待测设备(dut)的一个或多个测试仪器，其中该dut包括第一dut，和第一计算系统，该第一计算系统使用机器学习模型来预测该第一dut将失败的测试，其中已经基于与来自第二dut的测试结果相对应的模式来训练该机器学习模型，该第二dut不在待由该一个或多个测试仪器测试的该dut之中。该示例性测试系统还包括第二计算系统，该第二计算系统至少部分地控制由该一个或多个测试仪器执行的该测试。该第二计算系统被配置为执行操作，该操作包括：在该第一dut未通过该测试中的第一测试之后，控制该一个或多个测试仪器使用该机器学习模型已预测该第一dut为失败的测试来继续测试该第一dut；以及基于该第一dut已被预测为失败的该测试来输出该第一dut的测试结果。该测试系统可包括下列特征中的一种或多种特征(单独地或组合地)。
6、该第一计算系统和该第二计算系统可在不同的硬件上实现。该第一计算系统和该第二计算系统可使用相同硬件中的至少一些硬件来实现。该第一计算系统可以是该一个或多个测试仪器的一部分。该测试系统还可包括探针，该探针被配置为通过在测试期间接触该第一dut来实现测试插入。该机器学习模型可被配置为在该第一dut的该测试插入期间进行预测。该预测可在10毫秒(ms)或更短时间内执行。该机器学习模型可包括knn(k最近邻)模型或神经网络中的一者。
7、本说明书(包括此
技术实现思路
部分)中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本文未具体描述的具体实施。
8、本说明书中所描述的示例性系统、技术和过程的至少一部分可通过在一个或多个处理设备上执行存储在一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令来配置或控制。非暂态机器可读存储介质的示例包括只读存储器、光盘驱动器、存储器磁盘驱动器和随机存取存储器。本说明书中所描述的系统、技术和过程的至少一部分可使用由一个或多个处理设备和存储指令的存储器组成的一个或多个计算系统来配置或控制，这些指令可由一个或多个处理设备执行以进行各种控制操作。
9、本文所述的示例性系统、技术和过程可例如通过设计、构造、布置、放置、编程、操作、训练、验证、激活、去激活和/或控制来配置。
10、附图和以下具体实施方式中陈述了一个或多个具体实施的详细信息。通过具体实施和附图以及通过权利要求书，其他特征结构、对象和优点将显而易见。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种或多种存储指令的非暂态机器可读介质，所述指令可由一个或多个处理设备执行，以执行包括以下各项的操作：
2.根据权利要求1所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述机器学习模型被配置为通过至少部分地将与第一DUT相关联的第一模式和与所述初始集中的第二DUT相关联的第二模式匹配来执行对所述不同集中的所述第一DUT的预测。
3.根据权利要求2所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第一模式对应于所述第一DUT已经通过或失败的第一测试，并且所述第二模式对应于所述第二DUT已经通过或失败的所述第一测试。
4.根据权利要求3所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，预测所述测试中的哪些测试将产生针对第一DUT的失败结果包括识别所述第二DUT已经失败的第二测试。
5.根据权利要求4所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第二测试是所述第一DUT将失败的所述测试中所预测的测试。
6.根据权利要求2所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第一模式是以1或0表示通过或失败的二进制模式，并且所述第二模式是以1或0表
7.一种或多种存储指令的非暂态机器可读介质，所述指令可由一个或多个处理设备执行，以执行包括以下各项的操作：
8.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述操作包括：
9.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，在没有针对所述第一DUT的测试插入的情况下执行所述测试结果的分析，其中，在所述测试插入期间，探针在所述第一DUT操作时接触所述第一DUT。
10.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述机器学习模型被配置为在针对所述第一DUT的测试插入期间进行预测，其中，在所述测试插入期间，探针在所述DUT操作时接触所述DUT。
11.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述操作包括：
12.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，在10毫秒(ms)或更短时间内执行预测。
13.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述机器学习模型在单独的计算系统上执行，而不是用于控制测试所述第一DUT的计算系统。
14.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述机器学习模型包括KNN(K最近邻)模型或神经网络中的一者。
15.一种测试系统，所述测试系统包括：
16.根据权利要求15所述的系统，其中，所述第一计算系统和所述第二计算系统在不同的硬件上实现。
17.根据权利要求15所述的系统，其中，所述第一计算系统和所述第二计算系统使用相同硬件中的至少一些硬件来实现。
18.根据权利要求15所述的系统，其中，所述第一计算系统是所述一个或多个测试仪器的一部分。
19.根据权利要求15所述的系统，所述系统还包括：
20.根据权利要求15所述的系统，预测时间与所述机器学习模型的复杂性和数据集大小成比例。
21.根据权利要求15所述的系统，其中，所述机器学习模型包括KNN(K最近邻)模型或神经网络中的一者。
22.一种方法，所述方法包括：
23.一种方法，所述方法包括：
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种或多种存储指令的非暂态机器可读介质，所述指令可由一个或多个处理设备执行，以执行包括以下各项的操作：
2.根据权利要求1所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述机器学习模型被配置为通过至少部分地将与第一dut相关联的第一模式和与所述初始集中的第二dut相关联的第二模式匹配来执行对所述不同集中的所述第一dut的预测。
3.根据权利要求2所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第一模式对应于所述第一dut已经通过或失败的第一测试，并且所述第二模式对应于所述第二dut已经通过或失败的所述第一测试。
4.根据权利要求3所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，预测所述测试中的哪些测试将产生针对第一dut的失败结果包括识别所述第二dut已经失败的第二测试。
5.根据权利要求4所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第二测试是所述第一dut将失败的所述测试中所预测的测试。
6.根据权利要求2所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第一模式是以1或0表示通过或失败的二进制模式，并且所述第二模式是以1或0表示通过或失败的二进制模式。
7.一种或多种存储指令的非暂态机器可读介质，所述指令可由一个或多个处理设备执行，以执行包括以下各项的操作：
8.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述操作包括：
9.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，在没有针对所述第一dut的测试插入的情况下执行所述测试结果的分析，其中，在所述测试插入期间，探针在所述第一dut操作时接触所述第一dut。
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【专利技术属性】
技术研发人员：帕德马纳巴·坎南帕里，
申请(专利权)人：泰瑞达公司，
类型：发明
国别省市：
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