预测设备将失败的测试制造技术

示例性技术可实现为一种方法、系统或存储指令的多个非暂态机器可读介质，该指令可由一个或多个处理设备执行。由示例性技术执行的操作包括获得表示由一个或多个测试仪器在测试系统中待测设备(DUT)的初始集上执行的测试的结果的数据；以及使用该数据来训练机器学习模型。该机器学习模型用于预测对于不同集的DUT该测试中的哪些测试将产生失败结果。该不同集中的DUT与该初始集中的DUT具有一个或多个共同的特征。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本说明书整体涉及用于预测设备将失败的测试的示例性过程。

技术介绍

1、自动测试装备(ate)包括用于向待测设备(dut)发送信号以及用于从待测设备接收信号以便测试dut的操作的电子器件。ate包括不同类型的测试仪器，该测试仪器被配置为对dut执行不同类型的测试。ate记录dut是否通过此类测试。例如，通过/失败数据可存储在计算机存储器中。

技术实现思路

1、示例性技术可实现为一种方法、系统或存储指令的多个非暂态机器可读介质，该指令可由一个或多个处理设备执行。由示例性技术执行的操作包括获得表示由一个或多个测试仪器在测试系统中待测设备(dut)的初始集上执行的测试的结果的数据；以及使用该数据来训练机器学习模型。该机器学习模型用于预测对于不同集的dut该测试中的哪些测试将产生失败结果。该不同集中的dut与该初始集中的dut具有一个或多个共同的特征。该技术可包括下列特征中的一种或多种特征(单独地或组合地)。

2、该机器学习模型可被配置为通过至少部分地将与第一dut相关联的第一模式和与该初始集中的第二dut本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种或多种存储指令的非暂态机器可读介质，所述指令可由一个或多个处理设备执行，以执行包括以下各项的操作：

2.根据权利要求1所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述机器学习模型被配置为通过至少部分地将与第一DUT相关联的第一模式和与所述初始集中的第二DUT相关联的第二模式匹配来执行对所述不同集中的所述第一DUT的预测。

3.根据权利要求2所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第一模式对应于所述第一DUT已经通过或失败的第一测试，并且所述第二模式对应于所述第二DUT已经通过或失败的所述第一测试。

4.根据权利要求3所述的一种或多种非暂态机...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种或多种存储指令的非暂态机器可读介质，所述指令可由一个或多个处理设备执行，以执行包括以下各项的操作：

2.根据权利要求1所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述机器学习模型被配置为通过至少部分地将与第一dut相关联的第一模式和与所述初始集中的第二dut相关联的第二模式匹配来执行对所述不同集中的所述第一dut的预测。

3.根据权利要求2所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第一模式对应于所述第一dut已经通过或失败的第一测试，并且所述第二模式对应于所述第二dut已经通过或失败的所述第一测试。

4.根据权利要求3所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，预测所述测试中的哪些测试将产生针对第一dut的失败结果包括识别所述第二dut已经失败的第二测试。

5.根据权利要求4所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第二测试是所述第一dut将失败的所述测试中所预测的测试。

6.根据权利要求2所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述第一模式是以1或0表示通过或失败的二进制模式，并且所述第二模式是以1或0表示通过或失败的二进制模式。

7.一种或多种存储指令的非暂态机器可读介质，所述指令可由一个或多个处理设备执行，以执行包括以下各项的操作：

8.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，所述操作包括：

9.根据权利要求7所述的一种或多种非暂态机器可读介质，其中，在没有针对所述第一dut的测试插入的情况下执行所述测试结果的分析，其中，在所述测试插入期间，探针在所述第一dut操作时接触所述第一dut。

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【专利技术属性】
技术研发人员：帕德马纳巴·坎南帕里，
申请(专利权)人：泰瑞达公司，
类型：发明
国别省市：