校准差分测量电路制造技术

公开了示例性电路，该示例性电路包括：第一电路，该第一电路用于提供低信号；第二电路，该第二电路用于提供高信号，其中该高信号具有比该低信号更大的电压幅度；和差分放大器，该差分放大器被配置为接收来自该第一电路的该低信号和来自该第二电路的该高信号。该差分放大器用于产生基于该高信号和该低信号的输出电压。该示例性电路包括：第一测量电路，该第一测量电路用于测量该输出电压；第二测量电路，该第二测量电路用于测量该第一电路处的该低信号；和处理逻辑部分，该处理逻辑部分用于基于由该第一测量电路测量的该输出电压、由该第二测量电路测量的该低信号以及针对该电路获得的校准值来确定差分测量。得的校准值来确定差分测量。得的校准值来确定差分测量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】校准差分测量电路


[0001]本说明书整体上涉及用于校准差分测量电路的示例性过程。

技术介绍

[0002]示例性差分测量电路生成基于两个输入信号之间的差的输出电压。理想差分测量电路仅响应于两个输入信号之间的差的变化而改变其输出。因此，例如，如果两个输入信号的电压以相等的量增加或减少，理想差分测量的输出电压将不会发生变化。然而，如果输入信号中的一个输入信号发生变化，并且另一个没有变化，或两个输入信号的变化不同，理想差分测量电路的输出电压将会发生变化。

技术实现思路

[0003]公开了示例性电路，该示例性电路包括：第一电路，该第一电路用于提供低信号；第二电路，该第二电路用于提供高信号，其中该高信号具有比该低信号更大的电压幅度；和差分放大器，该差分放大器被配置为接收来自该第一电路的该低信号和来自该第二电路的该高信号。该差分放大器用于产生基于该高信号和该低信号的输出电压。该示例性电路包括：第一测量电路，该第一测量电路用于测量该输出电压；第二测量电路，该第二测量电路用于测量该第一电路处的该低信号；和处理逻辑部分，该处理逻辑部分用于基于由该第一测量电路测量的该输出电压、由该第二测量电路测量的该低信号以及针对该电路获得的校准值来确定差分测量。示例性电路可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。
[0004]该处理逻辑部分可被配置为如下确定该差分测量(hs
‑
ls)
[0005][0006]其中Vo是由该第一测量电路测量的该输出电压，ls(m)是由该第二测量电路测量的该低信号，GH和GL是该校准值，并且Ofs是当该低信号和该高信号处于或接近零伏特(0V)时产生的偏移值。
[0007]该第一测量电路可包括第一模数转换器(ADC)，该第二测量电路可包括第二ADC，并且该第二ADC可具有比用于该电路的最终测量规范更低的精度。该第一测量电路可包括第一ADC，该第二测量电路可包括第二ADC，并且该第一ADC可比第二ADC更精确。
[0008]在前述等式中，GH可以是正值，并且GL可以是不同于GH的负值，其中GH和GL的绝对值之间的差可以为10％或更小。GH和GL的绝对值之间的差可以为5％或更小。ls(m)的绝对值可以为200mV或更小。GH可以是通过将该第一电路连接到电接地并将该第二电路连接到已知电压而确定的值。GH+GL可以是可通过将该第一电路和该第二电路连接在一起并向连接在一起的该第一电路和该第二电路施加已知电压而确定的值。GH和GL可彼此单独确定。
[0009]该差分放大器可包括反馈路径和前馈路径上的电阻器。该输出电压可至少部分基于该电阻器的值。该处理逻辑部分可包括一个或多个微处理器。该处理逻辑部分可包括可编程逻辑。该电路可以是接地重参考电路的一部分。
[0010]示例性自动测试设备(ATE)包括电路板，该电路板连接到被测设备(DUT)，其中该DUT连接到该电路板上的第一电参考；和测试电路，该测试电路连接到第二电参考，该第二电参考处于与该第一电参考不同的电压，这致使从该DUT输出到该测试电路的一对信号改变电压值，同时维持恒定的电压差。该测试电路可包括：第一电路，该第一电路用于提供该一对信号中的低信号；第二电路，该第二电路用于提供该一对信号中的高信号，该高信号具有比该低信号更大的电压幅度；和差分放大器，该差分放大器被配置为接收来自该第一电路的该低信号和来自该第二电路的该高信号。该差分放大器可用于产生基于该高信号和该低信号之间的差的输出电压。该测试电路还可包括：第一测量电路，该第一测量电路用于测量该输出电压；第二测量电路，该第二测量电路用于测量该第一电路处的该低信号；和处理逻辑部分，该处理逻辑部分用于基于由该第一测量电路测量的该输出电压、由该第二测量电路测量的该低信号以及针对该测试电路获得的校准值来确定差分测量。示例性ATE可包括下列特征中的一个或多个(单独地或组合地)。
[0011]该示例性ATE可包括用于对该DUT执行一个或多个测试的测试仪器。该测试电路可以是测试仪器的一部分。该第一电参考可以是针对该DUT的第一电接地，并且该第二电参考是针对该测试电路的第二电接地。
[0012]该处理逻辑部分可被配置为如下确定该差分测量(hs
‑
ls)
[0013][0014]其中Vo是由该第一测量电路测量的该输出电压，ls(m)是由该第二测量电路测量的该低信号，GH和GL是校准值，并且Ofs是当该低信号和该高信号处于或接近零伏特(0V)时产生的偏移值。
[0015]该第一测量电路可包括第一ADC，该第二测量电路可包括第二ADC，并且该第二ADC可具有比用于该测试电路的最终测量规范更低的精度。该第一测量电路可包括第一ADC，该第二测量电路可包括第二ADC，并且该第一ADC可比第二ADC更精确。
[0016]在前述的等式中，GH可具有正值，并且GL可具有与GH不同的负值。GH和GL的绝对值之间的差可以为5％或更小。
[0017]本说明书(包括此
技术实现思路
部分)中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本文未具体描述的具体实施。
[0018]本文所述的系统和技术、或其一部分可被实现为使用计算机程序产品或被计算机程序产品控制，该计算机程序产品包括存储于一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令，并且该指令可在一个或多个处理装置上执行以控制(例如，协调)本文所描述的操作。本文所述的系统和技术、或其一部分可被实现为设备、方法或电子系统，所述设备、方法或电子系统可包括一个或多个处理装置以及存储用于实现各种操作的可执行指令的存储器。
[0019]附图和以下具体实施方式中陈述了一个或多个具体实施的详细信息。通过具体实施和附图以及通过权利要求书，其他特征结构、对象和优点将显而易见。
附图说明
[0020]图1是示出示例性差分测量电路的电路图。
[0021]图2是示出包括差分测量电路的示例性自动测试设备的部件的框图。
[0022]不同图中的类似附图标记指示类似元件。
具体实施方式
[0023]示例性差分测量电路生成基于两个输入信号之间的差的输出电压。例如，将差分增益施加到两个输入信号之间的差，以生成输出电压。真实世界的差分测量电路可能与先前所描述的理想差分测量电路表现不同。例如，即使两个输入信号的电压以相等的量增加或减少，真实世界的差分测量电路也可能生成不同的输出电压。此现象可能是由于用于生成输出电压的差分放大器在测量过程中引入了误差。因此，本文所描述的电路和过程用于生成校准值，该校准值可用于至少部分地校正由差分放大器引入的误差中的一些误差或全部误差。
[0024]在这方面，本文所描述的示例性电路可包括用于测量两个信号之间的差的差分测量电路。该电路可用在测试系统中，以确定被测设备(DUT)是否通过测试。在具体实施中，该电路包括用于提供两个信号的电路。在这种情况下，用于提供两个信号的电路包括用于提供低信号(LS)的第一电路和用于提供高信号(HS)的第二电路。高信号具有比低信号更大的电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.电路，所述电路包括：第一电路，所述第一电路用于提供低信号；第二电路，所述第二电路用于提供高信号，所述高信号具有比所述低信号更大的电压幅度；差分放大器，所述差分放大器被配置为接收来自所述第一电路的所述低信号和来自所述第二电路的所述高信号，所述差分放大器用于产生基于所述高信号和所述低信号的输出电压；第一测量电路，所述第一测量电路用于测量所述输出电压；第二测量电路，所述第二测量电路用于测量所述第一电路处的所述低信号；和处理逻辑部分，所述处理逻辑部分用于基于由所述第一测量电路测量的所述输出电压、由所述第二测量电路测量的所述低信号以及针对所述电路获得的校准值来确定差分测量。2.根据权利要求1所述的电路，其中所述处理逻辑部分被配置为如下确定所述差分测量(hs
‑
ls)其中Vo是由所述第一测量电路测量的所述输出电压，ls(m)是由所述第二测量电路测量的所述低信号，GH和GL是所述校准值，并且Ofs是当所述低信号和所述高信号处于或接近零伏特(0V)时产生的偏移值。3.根据权利要求1所述的电路，其中所述第一测量电路包括第一模数转换器(ADC)，所述第二测量电路包括第二ADC，并且所述第二ADC具有比用于所述电路的最终测量规范更低的精度。4.根据权利要求1所述的电路，其中所述第一测量电路包括第一模数转换器(ADC)，所述第二测量电路包括第二ADC，并且所述第一ADC比所述第二ADC更精确。5.根据权利要求2所述的电路，其中GH是正值，并且GL是不同于GH的负值，其中GH和GL的绝对值之间的差为10％或更小。6.根据权利要求2所述的电路，其中GH是正值，并且GL是不同于GH的负值，其中GH和GL的绝对值之间的差为5％或更小。7.根据权利要求2所述的电路，其中ls(m)的绝对值为200mV或更小。8.根据权利要求2所述的电路，其中GH是通过将所述第一电路连接到电接地并将所述第二电路连接到已知电压而确定的值。9.根据权利要求2所述的电路，其中GH+GL是通过将所述第一电路和所述第二电路连接在一起并向连接在一起的所述第一电路和所述第二电路施加已知电压而确定的值。10.根据权利要求2所述的电路，其中GH和GL彼此单独确定。11.根据权利要求1所述的电路，其中所述差分放大器包括反馈路径和前馈路径上的电阻器，所述输出电压至少部分基于所述电阻器的值。12.根据权利要求1所述的电路，其中所述处理逻辑部分包括一个或多个微处理器。13.根据权利要求1所述的电路，其中所述处理...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾戈，
申请(专利权)人：泰瑞达公司，
类型：发明
国别省市：