校准接口板制造技术

本发明专利技术公开了一种示例性测试系统，其包括设备接口板(DIB)，该设备接口板具有一个或多个信号传输路径和用于连接至该测试系统的一个或多个其它组件的接口。测试电路，该测试电路被配置为将测试信号注入至该一个或多个信号传输路径中，并在该接口处测量该测试信号的传输版本以获得测量信号。一个或多个处理设备，该一个或多个处理设备被配置为基于该注入的测试信号与该测量信号之差来生成校准系数，并且将该校准系数存储在计算机存储器中。该校准系数用于对该一个或多个信号传输路径对该测试信号的影响进行校正。测试信号的影响进行校正。测试信号的影响进行校正。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】校准接口板


[0001]本说明书大体上涉及用于校准测试系统中的接口板的示例性方法。

技术介绍

[0002]自动测试装备(ATE)包括用于向待测设备(DUT)发送信号以及用于从待测设备接收信号以便测试DUT的操作的电子器件。ATE包括测试仪器，诸如射频(RF)或微波仪器，其经过校准以进行操作。可以在仪器输入或输出之后，在特定连接器处对测试仪器进行功率、噪声、阻抗或其它参数的校准。此位置称为校准平面，并且在此位置，测试仪器性能已指定或已知。

技术实现思路

[0003]本专利技术公开了一种示例性测试系统，其包括设备接口板(DIB)，该设备接口板具有一个或多个信号传输路径和用于连接至该测试系统的一个或多个其它组件的接口。测试电路，该测试电路被配置为将测试信号注入至该一个或多个信号传输路径中，并在该接口处测量该测试信号的传输版本以获得测量信号。一个或多个处理设备，该一个或多个处理设备被配置为基于该注入的测试信号与该测量信号之差来生成校准系数，并且将该校准系数存储在计算机存储器中。该校准系数用于对该一个或多个信号传输路径对该测试信号的影响进行校正。该测试系统可包括下列特征中的一者或多者(单独地或组合地)。
[0004]该测试信号可以扫过一个频率范围。该一个或多个处理设备可以被编程为生成用于在计算机显示设备上进行显示的用户界面(UI)。该UI可以用于启动多个测试系统参数的编程，包括上述频率范围的设置。在该测试信号中，具有不同频率的不同测试信号可以同时具有不同的功率水平。该校准系数可以对该DIB上的一个或多个信号传输路径上的信号损耗进行校正。
[0005]上述测试系统可以包括探针，其用于选择性地接触该DIB上的信号触点，以将该测试信号注入至该一个或多个信号传输路径中。该计算机存储器可以位于该DIB上。该测试系统可包括用于连接至该DIB的接口以获得该测量信号的电路。
[0006]该一个或多个传输路径中的传输路径可以包括无源电子设备或有源电子设备中的至少一者。该测试电路可以是射频(RF)测试仪器的一部分，并且该一个或多个信号传输路径可以被配置为传输RF信号。该测试信号的频率可以大于2千兆赫(GHz)。测试信号的频率可以在毫米(MM)波范围内。该测试信号的频率可以大于6千兆赫(GHz)。该测试信号的频率可以大于18千兆赫(GHz)。
[0007]该校准系数可以对由沿着该一个或多个信号传输路径的传输引起的该测试信号中的功率变化进行校正。该校准系数可以对由沿着该一个或多个信号传输路径的传输引起的该测试信号的频率变化进行校正。该校准系数可以对由沿着该一个或多个信号传输路径的传输引起的该测试信号中的功率、线性或增益变化中的至少一者进行校正。该校准系数可以对该一个或多个信号传输路径中的信号传输路径的长度对该测试信号的影响进行校
正。该校准系数可以对该一个或多个信号传输路径中的信号传输路径的受损或插入损耗对该测试信号的影响进行校正。该校准系数可以对该一个或多个信号传输路径中的信号传输路径的阻抗对该测试信号的影响进行校正。
[0008]该DIB可以为多个DIB中被配置为与该测试系统一起使用的一个DIB。该计算机存储器可以位于该DIB上，并且该校准系数可以独属于该DIB。该计算机存储器可以位于该DIB上，并且该计算机存储器中的校准系数可以由计算系统通过应用程序编程接口(API)获取。
[0009]该测试电路可以被配置为输出测试信号到附接到该DIB的待测设备(DUT)。该DUT可以用于响应于该测试信号，产生输出信号。该一个或多个处理设备可以被编程为基于该校准系数中的至少一个校准系数来校正该输出信号。
[0010]本说明书(包括此
技术实现思路
部分)中所描述的特征中的任何两者或更多者可组合以形成本文未具体描述的具体实施。
[0011]本文所述的系统和技术或其一部分可通过计算机程序产品实现或被计算机程序产品控制，该计算机程序产品包括存储于一个或多个非暂态机器可读存储介质上的指令，并且该指令可在一个或多个处理设备上执行以控制(例如，协调)本文所述的操作。本文所述的系统和技术、或其一部分可被实现为设备、方法或电子系统，该设备、方法或电子系统可包括一个或多个处理设备以及存储用于实现各种操作的可执行指令的存储器。
[0012]附图和以下具体实施方式中陈述了一个或多个具体实施的详细信息。通过具体实施和附图以及通过权利要求书，其他特征结构、对象和优点将显而易见。
附图说明
[0013]图1为可用于为接口板生成校准系数的示例性测试系统的组件的侧视框图。
[0014]图2为可用于为接口板生成校准系数的示例性测试系统的组件的顶视框图。
[0015]图3为示出包括在为接口板生成校准系数并将那些校准系数用于校正信号的示例方法中的操作的流程图。
[0016]不同图中的类似附图标记指示类似元件。
具体实施方式
[0017]一种示例性测试系统，诸如自动测试装备(ATE)，包括被配置为输出测试信号到待测设备(DUT)并从该DUT接收信号的测试仪器。接收的信号可以响应于该测试信号或独立于测试信号。测试仪器中的电路，诸如能够进行功率测量的射频(RF)接收器，处理接收的信号以确定，例如，该信号是否处于可接受范围内，并因此确定该DUT是否通过测试。设备接口板(DIB)，也称为“负载板”，其在该DUT与该测试仪器之间提供机械连接和电连接。例如，该DIB可以包括与该DUT相连接的信号触点，诸如球栅阵列(BGA)垫。电缆，诸如传导迹线或射频(RF)电缆，其在那些信号触点与该测试仪器之间运行，以在该测试仪器和该DUT之间传递信号。在一些具体实施中，可以存在一个或多个插入器或其它接口板，其是该DUT与该测试仪器之间机械连接和电连接的一部分，并且完成该连接。
[0018]在一些示例中，ATE按照DIB进行校准。例如，该DIB可以是测试仪器性能已指定或已知的点。该位置被称为该测试仪器的校准平面。在该校准平面以外(例如，从该校准平面到该信号触点)，测试系统性能可能不是已指定或已知的。相应地，本文所述为用于校准测
试系统中的接口板诸如DIB的示例性技术。在一些具体实施中，由于基于校准平面的校准已知，并且本文所述的技术用于校准该校准平面与该DIB上的信号触点之间的路径的其余部分，该测试仪器与该DIB上的信号触点之间的整个信号路径可以经过校准。
[0019]前述段落中描述的测试系统的示例包括具有一个或多个信号传输路径的DIB和用于连接至该测试系统的一个或多个组件的接口。测试电路被配置为，例如被构造、被布置、被编程或被控制为将测试信号注入至该一个或多个信号传输路径中，并在该接口处测量该测试信号的传输版本以获得测量信号。一个或多个处理设备被配置为，例如被编程为基于该注入的测试信号与该测量信号之差来生成校准系数，并且将该校准系数存储在DIB上的计算机存储器中。该校准系数对该一个或多个信号传输路径对该测试信号的影响进行校正。例如，该校准系数可以校正信号传输路径的长度、信号传输路径的受损或插入损耗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测试系统，所述测试系统包括：设备接口板(DIB)，所述设备接口板包括一个或多个信号传输路径和用于连接至所述测试系统的一个或多个其它组件的接口；测试电路，所述测试电路用于将测试信号注入至所述一个或多个信号传输路径中，并在所述接口处测量所述测试信号的传输版本以获得测量信号；以及一个或多个处理设备，所述一个或多个处理设备用于基于所述注入的测试信号与所述测量信号之差来生成校准系数，并且将所述校准系数存储在计算机存储器中，所述校准系数对所述一个或多个信号传输路径对所述测试信号的影响进行校正。2.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试信号扫过一个频率范围。3.根据权利要求2所述的测试系统，其中所述一个或多个处理设备被编程为生成用于在计算机显示设备上进行显示的用户界面(UI)，所述UI用于启动多个测试系统参数的编程，包括所述频率范围的设置。4.根据权利要求1所述的测试系统，其中在所述测试信号中，具有不同频率的不同测试信号同时具有不同的功率水平。5.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述校准系数对所述DIB上的所述一个或多个信号传输路径上的信号损耗进行校正。6.根据权利要求1所述的测试系统，所述测试系统还包括：探针，所述探针用于选择性地接触所述DIB上的信号触点，以将所述测试信号注入至所述一个或多个信号传输路径中。7.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述计算机存储器位于所述DIB上。8.根据权利要求1所述的测试系统，所述测试系统还包括用于连接至所述DIB的所述接口以获得所述测量信号的电路。9.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述一个或多个传输路径中的传输路径包括无源电子设备或有源电子设备中的至少一者。10.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试电路是射频(RF)测试仪器的一部分，并且所述一个或多个信号传输路径被配置为传输RF信号。11.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试信号的频率大于2千兆赫(GHz)。12.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：史蒂芬，
申请(专利权)人：泰瑞达公司，
类型：发明
国别省市：