数字芯片PWM模块的自动化测试方法、装置、数字芯片及系统制造方法及图纸

技术编号:34459380 阅读:26 留言:0更新日期:2022-08-06 17:15
本发明专利技术提供一种数字芯片PWM模块的自动化测试方法、装置、数字芯片及系统,测试方法具体包括:设置待测PWM模块的时钟源、输出PWM波形的频率和占空比,使得待测PWM模块产生相应的PWM波形,向波形测试装置发送命令,使得波形测量装置自动测量当前PWM波形的频率和占空比;读取波形测量装置测量到的PWM波形的频率和占空比,并与设置的频率和占空比做比较,若一致,测试通过,否则测试不通过,直接结束测试;对时钟源、频率、占空比的各种组合方式均采用上述方法测试。方法测试。方法测试。

【技术实现步骤摘要】
数字芯片PWM模块的自动化测试方法、装置、数字芯片及系统


[0001]本专利技术涉及芯片测试
,尤其涉及一种数字芯片PWM模块的自动化测试方法、装置、数字芯片及系统。

技术介绍

[0002]PWM(Pulse Width Modulation,脉冲宽度调制)模块是一颗数字芯片的基本功能模块,为了保证PWM模块的功能,需要对PWM模块进行全面的测试验证。由于多种参数的影响,理论上PWM模块可以产生上亿种波形,以下每一种组合都会产生一个波形。
[0003]·
不同的时钟源,一个PWM模块可以有3到5种时钟源。
[0004]·
每种时钟源可以产生不同的频率,以8位分频、16位模式为例,可以产生256*25536=6537216种波形。
[0005]·
每种频率下可以产生0~100%占空比的波形。
[0006]·
一颗芯片一般集成4个左右的PWM模块。
[0007]针对可能产生的上亿种波形,即使按照典型参数一般也要测量800个左右的波形。传统的测量方法先写入PWM参数,产生P本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数字芯片PWM模块的自动化测试方法,其特征在于,包括:1)设置待测PWM模块的时钟源;2)在当前时钟源下,设置PWM模块输出的PWM波形的频率;3)在当前频率下,设置PWM模块输出的PWM波形的占空比,使得所述待测PWM模块根据设置的时钟源、频率和占空比产生相应的PWM波形;4)向波形测试装置发送命令,使得波形测量装置自动测量当前PWM波形的频率和占空比;5)读取波形测量装置测量到的PWM波形的频率和占空比,并与设置的频率和占空比做比较,若一致,测试通过,进入步骤6),否则测试不通过,直接结束测试;6)判断是否测试完最后一个占空比,若是,则进入步骤7),否则返回步骤3);7)判断是否测试完最后一个频率,若是,则进入步骤8),否则返回步骤2);8)判断是否测试完最后一个时钟源,若是,则结束待测PWM模块的测试,否则返回步骤1)。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,若所述数字芯片包括多个PWM模块,所述方法还包括:在步骤1)之前,从多个PWM模块中选择一个PWM模块,作为所述待测PWM模块,并选通待测PWM模块与所述波形测量装置的信号通路。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在每个频率下,所述占空比从0~100%按照1%的步长依次设置。4.一种数字芯片PWM模块的自动化测试装置,其特征在于,所述装置包括:第一设置模块,用于设置待测PWM模块的时钟源;第二设置模块,用于设置PWM模块输出的PWM波形的频率;第三设置模块,用于设置PWM模块输出的PWM波形的占空比;发送模块,用于向波形测试装置发送命...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴建国
申请(专利权)人:厦门紫光展锐科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1