一种对DDR内存与SOC芯片整体温控的方法、装置及电子设备制造方法及图纸

技术编号:46589266 阅读:2 留言:0更新日期:2025-10-10 21:23
本发明专利技术属于高集成度SOC芯片领域,公开了一种对DDR内存与SOC芯片整体温控的方法、装置及电子设备,包括:获取预先生成的DDR颗粒刷新率与温度的映射关系表;通过DDR驱动调用SOC芯片的DDR控制器,获取当前DDR颗粒刷新率;基于映射关系表中DDR颗粒刷新率与温度的映射关系,确定当前DDR颗粒刷新率对应的温度,作为DDR内存的第一温度;从SOC芯片中的温度传感器获取SOC芯片的第二温度;基于第一温度和第二温度,确定应采取的温度调控策略,并根据温度调控策略执行DDR内存与SOC芯片的整体温度调控操作。本发明专利技术有效降低DDR内存与SOC芯片的整体温度,进而降低DDR内存与SOC芯片的整体功耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于高集成度soc芯片,特别涉及一种对ddr内存与soc芯片整体温控的方法、装置及电子设备。


技术介绍

1、高集成度soc(system on chip,片上系统)芯片是各种类型的智能设备的大脑,从智能手机、可佩戴设备、智能医疗设备,到无人驾驶汽车,soc芯片无处不在。soc芯片设计中会预埋温度传感器,以监控高soc芯片的温度,并对soc芯片进行温控,保证soc芯片自身的性能、功耗以及温度的平衡。

2、专利技术人在实现本专利技术的过程中发现:在终端、手表等各类对体积有要求的电子设备中,可能会将soc芯片和ddr内存(double data rate,双倍数据速率动态随机存取存储器)封装在一起。但是soc芯片和ddr内存都是功耗器件,工作过程中会产生大量的热量,导致两个部件的温度升高,从而会导致soc芯片和ddr内存的功耗较高,且温度升高会影响soc芯片和ddr内存的性能,因此,亟需要提供一种对ddr内存与soc芯片整体温控的方法。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是通过对ddr内存与s本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种对DDR内存与SOC芯片整体温控的方法,其特征在于,应用于在空间上将DDR内存与SOC芯片集成封装的电子设备,所述SOC芯片包括DDR控制器,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一温度和第二温度,确定应采取的温度调控策略,并根据所述温度调控策略执行所述DDR内存与SOC芯片的整体温度调控操作,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一温度和第二温度,确定应采取的温度调控策略,并根据所述温度调控策略执行所述DDR内存与SOC芯片...

【技术特征摘要】

1.一种对ddr内存与soc芯片整体温控的方法,其特征在于,应用于在空间上将ddr内存与soc芯片集成封装的电子设备,所述soc芯片包括ddr控制器,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一温度和第二温度,确定应采取的温度调控策略,并根据所述温度调控策略执行所述ddr内存与soc芯片的整体温度调控操作,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一温度和第二温度,确定应采取的温度调控策略,并根据所述温度调控策略执行所述ddr内存与soc芯片的整体温度调控操作,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述在温控...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖佳伟
申请(专利权)人:厦门紫光展锐科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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