泰瑞达公司专利技术

泰瑞达公司共有65项专利

  • 稳定待测设备(DUT)处的电压的示例性方法包括识别在该DUT处出现的第一电压偏差的一个或多个特性。该偏差可由数字信号和该DUT中的伴随瞬态电流导致。该数字信号可为通过自动测试设备(ATE)的一个或多个测试通道待发送到该DUT的测试流的一...
  • 本发明公开了一种示例性测试系统,其包括输出级,该输出级用于向测试仪器的通道供给电压或电流中的至少一者;跟踪电路,该跟踪电路用于检测输出级之后的通道电压并且基于通道电压来控制到输出级的供电电压;以及控制器,该控制器用于基于供电电压和通道电...
  • 本发明提供了一种示例性装置,该示例性装置包括覆盖件,该覆盖件至少部分地屏蔽电路板表面上的传导迹线而不受电磁干扰的影响。该覆盖件包括面向该传导迹线的导电表面。该覆盖件至少部分地包封该传导迹线上方的容积。该容积用于将空气保持在该传导迹线上方...
  • 提供了一种用于对工件的拾取和放置进行编程的方法和系统。实施方案可包括将工件与附接到机器人的端部执行器相关联,并且在工件与端部执行器相关联时扫描工件。实施方案还可包括至少部分地基于扫描确定工件相对于机器人的位姿。的位姿。的位姿。
  • 本发明公开了一种示例性测试系统,该示例性测试系统包括托盘,该托盘用于保持设备,其中该设备包括待测试的设备或已测试的设备;电机,该电机可控制以引起振动;以及部件,该部件将该电机联接到该托盘以使该托盘响应于该电机的振动而振动。机的振动而振动...
  • 本申请的各方面涉及用于测试高功率电子部件的自动化测试装备(ATE)及其操作方法。本发明人已认识并理解到,在单个测试系统中提供高功率交流电(AC)和直流电(DC)测试两者的ATE可导致对高功率部件的高通量测试,同时降低系统硬件复杂性和成本...
  • 本发明提供了包括以下项的示例性自动测试设备(ATE):用于从待测装置接收波形的第一测试仪器,其中波形基于从ATE发送到DUT的测试信号;用于基于波形生成数字脉冲的电路;以及用于通过至少两个数字引脚来接收数字脉冲并处理数字脉冲以测试DUT...
  • 本发明提供了一种示例性方法,该示例性方法测量信号路径的泄漏特性。该示例性方法包括将电流施加到该信号路径上;基于由电流导致的信号路径上的电压的变化速率确定信号路径的寄生电容;在一时间段内将电压施加到信号路径上;以及在该时间段之后,基于寄生...
  • 本文公开了电压驱动器电路及其操作方法。在一些实施方案中,多个电路片设置在电压驱动器电路中,每个电路片具有时间常数,并且被控制以将驱动器输出可切换地连接到高电压电平或低电压电平,或将驱动器输出与两个电压电平断开。该电路片可提供可调整的输出...
  • 本文公开了电压驱动器电路及其操作方法以提供适用于ATE的可变输出电压,从而使用消耗相对低功率的部件以高数据速率提供具有准确电压电平的大量测试信号。根据一个方面,与改变输出电压相关的电压驱动器中的输出电流的改变可通过由用于电压驱动器的校正...
  • 电路及其操作方法以将信号延迟精确且可变的量。一个实施方案涉及一种在自动化测试设备中使用的高速延迟线。本发明人已经认识到并理解,具有高数据速率的输入信号可被分离成具有较低数据速率的并行分离信号,该并行分离信号在被组合以生成延迟信号之前在相...
  • 本公开的实施方案涉及一种机器人系统。该系统可包括机器人,该机器人被配置为接收用于执行机器人任务的初始约束方法。该系统还可包括与该机器人通信的图形用户界面。该图形用户界面可被配置为允许用户与该机器人进行交互以确定与该机器人任务相关联的机器...
  • 一种示例性测试系统包括:功率放大器电路,该功率放大器电路用于将电压或电流强加到测试通道;以及一个或多个处理设备,该一个或多个处理设备被配置为控制功率放大器电路以符合顺应性曲线。顺应性曲线使电压的输出与电流的输出相关。根据顺应性曲线,最大...
  • 本发明公开了一种包括连接模块的示例性装置。该示例性连接模块包括连接接口和连接矩阵,该连接矩阵具有根传输线以向该连接接口和从该连接接口传导信号。该连接矩阵还包括分支传输线,该分支传输线可电连接到该根传输线以向该根传输线和从该根传输线传导该...
  • 本公开提供了用于在自动化测试系统中检测和识别热开关事件的原因的装置和方法。可使用定位在系统中的机械继电器附近的一个或多个天线来感测电磁辐射。天线可被配置成对在热开关事件期间生成的类型的电磁辐射进行响应。可处理由天线测量的信号以确定该信号...
  • 本公开的实施方案涉及机器人系统和方法。该系统可包括机器人和与该机器人相关联的三维传感器设备,该三维传感器设备被配置为扫描焊接区域并生成所扫描的焊接区域。该系统可包括处理器,该处理器被配置为接收所扫描的焊接区域并且至少部分地基于所扫描的焊...
  • 本文公开了基于焊丝之间的电容耦合来识别IC设备中的潜在缺陷的测试装置和方法。焊丝可具有在测试时不显现为硬短路或硬开路的潜在缺陷,但可造成随时间推移发展成硬短路或硬开路的高风险。潜在缺陷可在两条相邻的焊丝受到干扰而变得彼此靠近时形成。根据...
  • 本申请涉及手爪和自动测试设备。本发明涉及一种示例性手爪,所述手爪可包括:一个基部;附接到所述基部的两个或更多个手指,每个手指可朝向和远离一个或多个另外的所述手指移动;以及在所述基部处或在一个或多个所述手指处的一个或多个口,以通过真空形成...
  • 本发明公开了一种示例性测试系统,该示例性测试系统包括用于接纳待测试的设备的测试载体。该测试载体包括用于对该设备至少执行结构测试的测试部件。该示例性测试系统还包括用于接纳该测试载体的狭槽。该狭槽包括接口,该测试载体连接至该接口以使该测试载...
  • 本公开的实施方案涉及可包括一个或多个机器人的机器人系统和方法。该系统可包括具有最大数量的自由度的机器人系统。该系统还可包括图形用户界面,该图形用户界面被配置为接收自然机器人任务,该自然机器人任务具有与该自然机器人任务相关联的至少一个自然...