深圳宜特检测技术有限公司专利技术

深圳宜特检测技术有限公司共有22项专利

  • 本发明公开了一种封装晶背研磨结构及研磨方法,研磨方法包括步骤:配置胶水;制备样品:取一片盖玻片粘在胶带上,并在所述盖玻片上滴上配置好的所述胶水,取样品缓慢放入所述胶水中,至所述样品完全浸没于所述胶水中,轻压所述样品排出所述样品底部的气泡...
  • 本发明涉及一种样品研磨辅助装置,包括:用于辅助研磨机对样品进行打磨,样品研磨辅助装置包括:底座,底座的底部开设有研磨槽;调节螺杆,螺合连接于底座且端部置于研磨槽内,旋拧调节螺杆可调节调节螺杆位于研磨槽内部分的长度;以及载物台,设于调节螺...
  • 本实用新型公开了一种指纹辨识芯片的测试夹具,包括测试夹具上盖(1)、测试夹具底座(2)、测试芯片槽位(3)、指纹辨识孔(5)及转动螺丝(6);测试夹具上盖的一端通过转动螺丝与测试夹具底座的一端连接,使测试夹具上盖能通过转动螺丝翻转开合并...
  • 本实用新型提供的一种用于待检测样品的旋转装置,包括:固定底座,所述固定底座上设有连接孔;旋转件,通过转轴可转动地连接于所述连接孔中,所述旋转件中与所述转轴相对的一端上设有夹持部;用于安装样品的载玻片,所述载玻片可拆卸地连接于所述夹持部中...
  • 本实用新型提供了一种降低进光量装置,包括:支架,安装于InGaAs机台上;用于遮蔽于所述InGaAs机台的进光通道的遮光板,所述遮光板可绕所述进光通道的轴线转动地安装于所述支架上,所述遮光板形成有透光缺口;以及驱动电机,安装于所述支架上...
  • 本实用新型提供一种离子源安装辅助装置,呈筒状结构,套设于离子源的抑制器上,且于抑制器上方形成一定位筒,定位筒的内径匹配于离子源的外径。使离子源仅可沿着正对抑制器的轴线方向上下移动。本实用新型使离子源更换过程更加简单轻松、安全可靠;降低更...
  • 本实用新型提出的自动平移高低调整研磨装置包括研磨探棒和研磨台,所述研磨台相对于所述研磨探棒旋转,从而对样品进行研磨;所述自动平移高低调整研磨装置包括自动控制系统组;所述自动控制系统组包括面板控制操作系统,用户经过所述面板控制操作系统设置...
  • 本实用新型提出一种研磨装置,包括研磨机台、两个固定架、二个高度调节螺栓、二个固定夹和二个水平仪;固定架包括固定底座、固定轴、固定臂和套筒,固定轴位于固定底座的中部,固定轴与固定底座固定连接,套筒套设在固定轴上,套筒与固定臂固定连接,固定...
  • 本发明提出的自动平移高低调整研磨装置包括研磨探棒和研磨台,所述研磨台相对于所述研磨探棒旋转,从而对样品进行研磨;所述自动平移高低调整研磨装置包括自动控制系统组;所述自动控制系统组包括面板控制操作系统,用户经过所述面板控制操作系统设置所述...
  • 用于老化检测机的增强电流功率装置及老化检测系统,增强电流功率装置包括第一变压器模块、第二变压器模块以及电源电路模块,其中,第一变压器模块用于获取原始电流电压信号,并在接收到老化检测机台发送的高电平信号时,将原始电流电压信号做功率增大处理...
  • 本实用新型提出一种微型芯片夹取装置,包括底座、第一固定件、第二固定件、第一调整件、第二调整件和镊子,底座上设有通槽,通槽具有底壁、第一侧壁和第二侧壁,第一侧壁上设有第一通孔和第二通孔,第二侧壁上设有第三通孔和第四通孔;镊子包括固定部、第...
  • 本实用新型提供一种时间间隔控制装置及电压源系统,该时间间隔控制装置包括:输入模块、输出模块和电源,电源分别与输入模块和输出模块通过电路连接;输入模块包括:通过电路连接的晶体振荡器、分类器和计数器;晶体振荡器用于为计数器提供时钟讯号;分类...
  • 本发明提供一种用于老化检测机的增强电流功率方法及装置,包括:接收电源输出的原始电流电压信号;在接收到老化检测机发送的启动信号时,对原始电流电压信号进行功率增大处理,得到输出电流电压信号;对输出电流电压信号进行电流增大变换处理,得到变换电...
  • 本实用新型提出一种芯片电性恢复装置,包括加热台、UV灯、研磨机以及电浆蚀刻机;芯片放置于所述加热台上,所述加热台对所述芯片进行加热,所述UV灯对所述芯片进行照射,所述芯片经所述加热台与所述UV灯处理后,移送至所述研磨机,所述研磨机对所述...
  • 本实用新型提出一种芯片老化测试装置,包括电源模块、功率转换模块、测试模块、控制模块以及显示模块;测试模块通过功率转换模块连接至电源模块;控制模块分别连接电源模块、显示模块以及测试模块;功率转换模块实时采集电源模块中的电压信号和电流信号并...
  • 本实用新型提出一种用于制备可供扫描电容显微镜研究的芯片失效分析样品的制样装置,包括聚焦离子束、金属垫片、离子风扇、加热台和UV灯,待测试的芯片经由所述聚焦离子束切割得到芯片样品,将所述芯片样品粘贴在所述金属垫片上,所述离子风扇对所述金属...
  • 本实用新型提出一种IC芯片测试治具,包括支撑板和支架,所述支撑板安装在所述支架上;所述支架包括螺纹微调器和支脚,所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接,所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接,所述支脚与所述支撑板垂直;所述螺纹微调器包括旋钮...
  • 一种电路切断装置
    本实用新型提出一种电路切断装置,包括聚焦离子束、离子蚀刻机和电路检测装置;所述聚焦离子束对所述PCB板上待切断的金属导线上的半导体制程进行切割,所述半导体制程形成孔洞并显露出所述金属导线;所述聚焦离子束包括喷嘴,所述喷嘴往所述孔洞内喷射...
  • 半导体检测结构
    本实用新型提供的一种半导体检测结构,包括:具有多层半导体材料的基材;设置在所述基材内的多个电极;从所述基材表面延伸至至少一个所述电极的接触孔;填充在所述接触孔内的导电桥墩;所述导电桥墩与所述电极电导通,其材料为导电材料。本实用新型首先确...
  • 晶圆级封装结构
    本实用新型提供的晶圆级封装结构电连接至微机电元件或积体电路中的至少一个,其包括:具有第一接触端及第二接触端的凸出件;与所述第一接触端电导通的电性连接垫;具有第三接触端及第四接触端,所述第三接触端与所述第二接触端电导通的延伸件;接触件;所...