一种IC芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术提出一种IC芯片测试治具，包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。本实用性新提出的IC芯片测试治具，通过在治具的支脚上设置螺纹微调器，芯片样品测试时，只需调节螺纹微调器就能使观察视野内的样品图像调至清晰，不仅不需要加胶，也能避免对芯片样品的损坏，大大提高了测试效率，且能有效地提高芯片样品分析的准确性。

A test fixture for IC chip

The utility model provides an IC chip test fixture, which comprises a support plate and a support plate mounted on the support plate; the support plate comprises a thread trimmer and a support foot, one end of the thread trimmer is connected with the support plate, the other end of the thread trimmer is connected with the support foot, the support foot and the support foot. The support plate is vertical; the thread trimmer includes a knob which rises when it rotates in the first direction, and the support plate drops when the knob rotates in the second direction, and the second direction is opposite to the first direction. The new IC chip testing fixture proposed in this paper can adjust the image of the sample in the observation field to be clear by setting a thread trimmer on the foot of the fixture. It not only does not need gluing, but also avoids the damage to the chip sample, and greatly improves the testing efficiency. It can effectively improve the accuracy of chip sample analysis.

【技术实现步骤摘要】
一种IC芯片测试治具
本技术涉及芯片
，尤其是芯片测试治具。
技术介绍
在对芯片样品进行失效分析时，由于芯片样品放置时与水平面存在一个夹角，导致在采集样品图片时会产生灰阶度不均匀以及部分图像模糊不清的情况。传统的方法是在芯片样品下方垫入一定量的胶质，以修正样品的内部夹角。但在实际的操作过程中，垫入的胶质是不能直接定量的，由于精度低，往往需要重复操作加入胶质，不仅大量浪费了操作人员的时间，且在重复操作的过程中会产生额外的损坏以及污染样品的风险，直接影响到样品分析的精度以及效率。
技术实现思路
为了解决上述问题，本技术提出一种IC芯片测试治具，便于调整芯片样品的角度与位置，操作简单高效，能有效地提高芯片样品分析的准确性。本技术通过以下技术方案实现的：一种IC芯片测试治具，包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。进一步的，所述支架还包括连接块，所述连接块设于所述支撑板与所述螺纹微调器之间，所述连接块用于辅助所述螺纹微调器对所述支撑板的位置进行调节。进一步的，所述支脚具有三个，三个所述支脚之间间距相等。进一步的，所述支撑板为长方形，所述支脚包括第一支脚、第二支脚和第三支脚，所述第一支脚与所述第二支脚分别设于所述支撑板较长的一边的边缘，所述第三支脚设于所述支撑板的另一较长边的中间。进一步的，所述支撑板上设有安装孔，所述安装孔用于外部安装IC芯片样品。本技术的有益效果：本实用性新提出一种IC芯片测试治具，通过在治具的支脚上设置螺纹微调器，芯片样品测试时，只需调节螺纹微调器就能使观察视野内的样品图像调至清晰，不仅不需要加胶，也能避免对芯片样品的损坏，大大提高了测试效率，且能有效地提高芯片样品分析的准确性。附图说明图1为所述IC芯片测试治具的结构示意图；图2为所述IC芯片测试治具的仰视图；图3为所述IC芯片使用时的安装示意图。具体实施方式为了更加清楚、完整的说明本技术的技术方案，下面结合附图对本技术作进一步说明。请参考图1～图3，本技术提出一种IC芯片测试治具1，包括支撑板11和支架12，所述支撑板11安装在所述支架12上；所述支架12包括螺纹微调器和支脚122，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板11连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚122连接，所述支脚122与所述支撑板11垂直；所述螺纹微调器121包括旋钮1211，所述旋钮1211往第一方向转动时，所述支撑板11上升，所述旋钮1211往第二方向转动时，所述支撑板11下降，所述第二方向与所述第一方向相反。本技术提供的IC芯片测试治具1不同于传统的IC芯片测试治具1，通过在IC芯片测试治具1的支脚122上设置一个螺纹微调器121，芯片样品2测试时，将芯片样品2放置在支撑板11上，通过目镜对芯片样品2的表面进行高倍率观测，当观察到的芯片样品2的图像模糊时，转动螺纹微调器121的旋钮1211调节螺纹微调器121，螺纹微调器121在调节的过程中带动支撑板11的位置发生上升或下降，同时，位于支撑板11上的芯片样品2也随着支撑板11的升降而升降，通过对各个支脚122的高度进行微调，可将目镜所观测到的图像调至清晰，从而使得采集到的芯片样品2的图像更加的清晰。本技术提供的IC芯片测试治具1采用螺纹微调器121调节芯片样品2的角度以获得更清晰的芯片样品2的图像，这种方法摒弃了传统的在芯片样品2下添加胶质以调节角度的方式，不仅操作简单快捷，且避免了多次加胶造成芯片样品2的损伤，使得测试效率更高且测试结果更加精确，同时无需添加胶质也有利于节省成本，且更加节能环保。优选的，所述支架12还包括连接块123，所述连接块123设于所述支撑板11与所述螺纹微调器121之间，所述连接块123用于辅助所述螺纹微调器121对所述支撑板11的位置进行调节。螺纹微调器121与支撑板11之间设置一连接块123，连接块123与支撑板11之间紧密固定，螺纹微调器121与连接块123之间可固定连接也可活动连接，活动连接时，调节螺纹微调器121使支撑板11上升或下降，在此过程中活动连接的螺纹微调器121与连接块123之间也产生相对位置的微调，保证支脚122与支撑板11之间保持垂直而不倾斜，不仅调节效率更高，且IC芯片测试治具1的平稳度更高，避免调节幅度较大时IC芯片测试治具1的支架12不平稳，使得样品在测试过程中发生摇晃导致测试分析不准确。优选的，所述支脚122具有三个，三个所述支脚122之间间距相等。所述支脚122包括第一支脚1221、第二支脚1222和第三支脚1223，所述第一支脚1221与所述第二支脚1222分别设于所述支撑板11较长的一边的边缘，所述第三支脚1223设于所述支撑板11的另一较长边的中间。本技术提供的IC芯片测试治具1优先选取三个支脚122，三个支脚122之间间距相等，三角支撑不仅是可以节省材料，且根据不在同一直线上的三点确定一个平面的原理，在IC芯片测试治具1使用时，调节螺纹微调器121，都能使与支撑板11相连的三个支脚122同时对支撑板11起到支撑的作用。若采用四个或更多支脚122，在调节螺纹微调器121时，由于调节使得支撑板11到支脚122底部的距离产生变化，易出现部分支脚122的落脚点不在同一平面内而无法对支撑板11提供支撑的情况，从而导致IC芯片测试治具1易发生摇晃。本技术提供的IC芯片测试治具1的支撑板11为方形，顺应实际测试过程中芯片样品2的形状，三个支脚122分别安装于方形支撑板11的较长边的边缘，其中第一支脚1221与所述第二支脚1222安装在同一边，第三支脚1223安装在支撑板11的另一边且位于第一支脚1221与第二支脚1222的中间位置，这样的设置能保证在最大的范围内对支撑板11进行支撑，避免支撑板11位于支脚122外的部分过大导致支撑部不稳定而容易发生倾斜或侧翻。所述支撑板11上设有安装孔111，所述安装孔111用于外部安装芯片样品2。支撑板11上设有一体成型的安装孔111，用于芯片样品2的外部安装，本技术提供的IC芯片测试治具1优选在支撑板11的四个角上分别设置安装孔111，使得芯片样品2的安装稳固可靠，避免在调节IC芯片测试治具1的过程中发生移动导致图像不清晰，影响测试分析结果。当然，本技术还可有其它多种实施方式，基于本实施方式，本领域的普通技术人员在没有做出任何创造性劳动的前提下所获得其他实施方式，都属于本技术所保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IC芯片测试治具，其特征在于，所述IC芯片测试治具包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。

【技术特征摘要】
1.一种IC芯片测试治具，其特征在于，所述IC芯片测试治具包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。2.根据权利要求1所述的IC芯片测试治具，其特征在于，所述支架还包括连接块，所述连接块设于所述支撑板与所述螺纹微调器之...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟依玲，
申请(专利权)人：深圳宜特检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44