本技术涉及内存条测试领域，尤其涉及一种基于红外加热的内存条恒温测试装置。所述基于红外加热的内存条恒温测试装置包括测试主板、隔热罩、底壳、风扇、测试座、加热组件和内存条，测试主板顶部设有底壳，底壳内部安装有若干测试座，且测试座底部与测试主...

本技术涉及一种内存条恒温测试模组，包括：温控模组、固定组件和主板，温控模组通过固定组件固定连接于主板上，温控模组包括：壳体、金属翅片和内存条导槽，金属翅片固定连接于壳体的内部，内存条导槽固定连接于金属翅片的两端；内存条导槽包括：第一凹槽...

本技术涉及一种提升温度均匀性的翅片结构及恒温测试系统，包括连接部及均匀分布的翅片，所述翅片包括：第一翅片和第二翅片，所述第一翅片位于所述翅片结构的中间部位，所述第二翅片平均分布于所述第一翅片的两侧，所述第一翅片的高度小于所述第二翅片的高...

本技术提供一种内存条的电子加热设备，涉及内存条加热技术领域，包括：放置机构，所述放置机构包括主板，所述主板上焊接有插槽，所述插槽中设置有内存插条，所述内存插条通过卡扣方式固定在插槽中，所述内存插条通过金手指与主板进行通信及数据交互，所述...

本技术涉及内存条测试技术领域，且公开了一种内存条测试恒温系统，包括主体机构和降温机构，所述降温机构位于主体机构的两端，所述主体机构包括隔热罩体、金属翅片和安装螺孔一，所述金属翅片活动安装在隔热罩体的内部，所述安装螺孔一固定设置在金属翅片...

本说明书实施例提供一种基于人工智能的自适应内存检测方法和系统，其中，该方法包括：采集多个待检测内存芯片的图像；基于多个待检测内存芯片的图像筛选外观合格的待检测内存芯片；通过多种内存检测算法对外观合格的待检测内存芯片进行测试，获取每种内存...

本说明书实施例提供一种基于遗传算法的寻找最优DRAM检测算法的方法及系统，其中，该方法包括：生成当前种群，其中，当前种群包括多个当前检测算法；计算每个当前检测算法的适应度值；判断当前种群是否满足预设终止条件；满足预设终止条件时，基于每个...

本说明书实施例提供一种基于粒子群算法的寻找最优DRAM检测算法的方法及系统，其中，该方法包括：生成当前粒子群，每个粒子对应一个检测算法；计算当前粒子群的每个粒子的适应度值，判断当前粒子群是否满足预设终止条件；满足预设终止条件时，基于当前...

本说明书实施例提供一种使用神经网络模型的DRAM存储器测试方法和系统，属于DRAM存储器领域，其中，所述方法包括：对待测试DRAM存储器的多个存储单元进行多次初步筛选测试，获取初步筛选测试数据，直至初步筛选测试数据满足初步筛选条件；根据...

本说明书实施例提供一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质，属于内存测试领域，其中，所述方法包括：在测试系统下，查询待测试内存中已占用内存空间的地址信息和未占用内存空间；将已占用内存的地址信息存储至目标空间；执行第一内存测试程序对未占...

本说明书实施例提供一种基于混合云的内存自动化测试方法和系统，属于内存自动化测试领域，其中，所述系统包括：包括部署在公有云上的内存管理模块及本地测试端模块；本地测试端模块包括至少一个本地测试端；本地测试端包括本地测试服务器及至少一个测试设...

本发明提供了文件传输方法、系统及计算机可读存储介质，方法包括：通过统一可扩展固件接口打开待传输文件；对待传输文件进行切片处理，得到多个切片；对每个切片进行预处理，得到多个数据包；根据传输控制协议将每个数据包依次传输至接收端。根据本方法，...

本发明提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，方法应用于内存测试系统，内存测试系统上安装有统一可扩展固件接口，方法包括：通过统一可扩展固件接口，接收被测内存信息；接收第一测试指令；根据第一测试指令和被测内存信息，得到自定义测试...

本说明书实施例提供一种基于神经网络模型的DRAM储存器性能预测方法和系统，其中，所述方法包括：设定测试参数；根据测试参数对DRAM储存器的至少一部分进行测试，获取测试数据；对测试数据进行预处理，获取处理后的数据；基于处理后的数据，通过神...

本发明提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，方法包括：根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序等；将预设测试数据输入被测内存储器，预设测试数据用于测试被测内存储器的物理结构在测试加...