内存测试方法、系统及计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，方法应用于内存测试系统，内存测试系统上安装有统一可扩展固件接口，方法包括：通过统一可扩展固件接口，接收被测内存信息；接收第一测试指令；根据第一测试指令和被测内存信息，得到自定义测试配置；根据自定义测试配置，对被测内存进行配置；对配置完成的被测内存进行测试，得到测试结果。本发明专利技术中无需进入操作系统即可实现对内存的测试，节约了测试时间，同时也能够根据被测对象的不同而灵活配置针对被测对象的具体测试参数，提高了内存测试的覆盖面和灵活度。了内存测试的覆盖面和灵活度。了内存测试的覆盖面和灵活度。

【技术实现步骤摘要】
内存测试方法、系统及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及内存测试
，尤其涉及一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着数字化程度的加大，生产设计对服务器和存储设备的需求越来越高，而设备中的内存的可靠性直接影响了设备整体的可靠性。大量的内存需求及先进的制造工艺对内存测试提出了更高的要求。
[0003]相关技术中存在一种在BIOS(Basic Input Output System，基本输入输出系统)下进行的，内置在BIOS下的内存测试方法。这种测试算法内置在BIOS的源代码上，当需要新增测试算法或者对现有的测试算法进行修改时，需要对BIOS进行修改。而BIOS上的内存测试无法直接与主机进行网络通讯，因此需要在进入操作系统后，再进行其他测试的配置和日志的收集，这不仅会使得整体测试时间变长，而且有操作系统就得为其配置硬盘，因此也增加了测试成本。

技术实现思路

[0004]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0005]本专利技术实施例提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，能够在无需进入操作系统的前提下，实现与主机的直接通讯，节约了测试成本，提高测试效率。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种内存测试方法，应用于内存测试系统，所述内存测试系统上安装有统一可扩展固件接口，所述方法包括：
[0007]通过所述统一可扩展固件接口，接收被测内存信息；
[0008]接收第一测试指令；
[0009]根据所述第一测试指令和所述被测内存信息，得到自定义测试配置；
[0010]根据所述自定义测试配置，对被测内存进行配置；
[0011]对配置完成的被测内存进行测试，得到测试结果。
[0012]在一些实施例中，所述根据所述自定义测试配置，对被测内存进行配置，包括：根据所述自定义测试配置，得到自定义算法、预设电压和预设时序；根据所述自定义算法、所述预设电压和所述预设时序对被测内存的参数进行配置。
[0013]在一些实施例中，所述对配置完成的被测内存进行测试，得到测试结果，包括:根据预设的默认算法对被测内存进行测试，得到反馈信息；根据所述反馈信息，得到第二测试指令；根据所述第二测试指令，调用所述自定义算法；根据所述自定义算法对被测内存进行测试，得到测试结果。
[0014]在一些实施例中，在所述根据所述自定义测试配置，对被测内存进行配置之后，还包括：将所述自定义测试配置存储至数据库。
[0015]在一些实施例中，所述被测内存信息包括内存在位信息、内存温度、内存串行存在检测信息、内存当前的时序配置和电压配置。
[0016]在一些实施例中，所述方法还包括：当测试失败，根据所述测试结果得到算法信息、内存故障地址信息和温度信息。
[0017]在一些实施例中，所述方法还包括：根据所述测试结果得到所述内存故障地址信息；根据所述内存故障地址信息，对相应的故障部分内存进行重测。
[0018]在一些实施例中，所述方法还包括：根据所述测试结果，生成测试日志。
[0019]第二方面，本专利技术实施例提供了一种内存测试系统，所述内存测试系统上安装有统一可扩展固件接口，所述系统包括：
[0020]信息模块，用于通过所述统一可扩展固件接口，接收被测内存信息；
[0021]接收模块，用于接收第一测试指令；
[0022]处理模块，用于根据所述第一测试指令和所述被测内存信息，得到自定义测试配置；
[0023]配置模块，用于根据所述自定义测试配置，对被测内存进行配置；
[0024]测试模块，用于对配置完成的被测内存进行测试，得到测试结果。
[0025]在一些实施例中，所述第一测试指令包括控制测试开始、测试结束，以及对温度、电压和时序的调节。
[0026]第三方面，本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如上述第一方面的内存测试方法。
[0027]本专利技术实施例包括：首先通过内存测试系统上安装着的统一可扩展固件接口，来接收被测内存信息。然后再接收用于启动内存测试的第一测试指令，并根据第一测试指令和被测内存信息，来得到自定义测试配置，从而根据自定义测试配置来对被测内存进行测试前的参数配置。在配置完成后，对被测内存进行测试，并得到相应的测试结果。本专利技术实施例提供的方案，通过统一可扩展固件接口来获取被测内存信息以及自定义测试配置，从而对被测内存进行参数配置以及内存测试，避免了在BIOS下进行的内存测试中，由于需要先进入操作系统而导致的内存占用。本方法无需进入操作系统即可实现对内存的测试，节约了测试时间，同时也能够根据被测对象的不同而灵活配置针对被测对象的具体测试参数，提高了内存测试的覆盖面和灵活度。
[0028]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0029]附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。
[0030]图1是本专利技术实施例提供的内存测试方法的流程图；
[0031]图2是本专利技术实施例提供的参数配置的流程图；
[0032]图3是本专利技术实施例提供的调用自定义算法的流程图；
[0033]图4是本专利技术实施例提供的重测的流程图；
[0034]图5是本专利技术实施例提供的内存测试处理过程的示意图；
[0035]图6是本专利技术实施例提供的内存测试系统的模块框图。
具体实施方式
[0036]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0037]需要说明的是，虽然在模块示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于模块中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
[0038]本专利技术实施例描述的内存测试方法以及应用场景是为了更加清楚的说明本专利技术实施例的技术方案，并不构成对于本专利技术实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着内存测试领域的演变和新应用场景的出现，本专利技术实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
[0039]如图1所示，图1是本专利技术实施例提供的内存测试方法的流程图。可以理解的是，本专利技术第一方面提出了一种内存测试方法，包括但不限于有步骤S100，步骤S200，步骤S300，步骤S400以及步骤S500。
[0040本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存测试方法，应用于内存测试系统，所述内存测试系统上安装有统一可扩展固件接口，所述方法包括：通过所述统一可扩展固件接口，接收被测内存信息；接收第一测试指令；根据所述第一测试指令和所述被测内存信息，得到自定义测试配置；根据所述自定义测试配置，对被测内存进行配置；对配置完成的被测内存进行测试，得到测试结果。2.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述根据所述自定义测试配置，对被测内存进行配置，包括：根据所述自定义测试配置，得到自定义算法、预设电压和预设时序；根据所述自定义算法、所述预设电压和所述预设时序对被测内存的参数进行配置。3.根据权利要求2所述的内存测试方法，其特征在于，所述对配置完成的被测内存进行测试，得到测试结果，包括：根据预设的默认算法对被测内存进行测试，得到反馈信息；根据所述反馈信息，得到第二测试指令；根据所述第二测试指令，调用所述自定义算法；根据所述自定义算法对被测内存进行测试，得到测试结果。4.根据权利要求2所述的内存测试方法，其特征在于，在所述根据所述自定义测试配置，对被测内存进行配置之后，还包括：将所述自定义测试配置存储至数据库。5.根据权利要求3所述的内存测试方法，其特征在于，所述被测内存信息包括内存在位信息、内存温度、内存串行存在检测信息、...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘石柱，曾祥卫，赵春辉，
申请(专利权)人：深圳市章江科技有限公司，
类型：发明
国别省市：