一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:37392377 阅读:27 留言:0更新日期:2023-04-27 07:30
本说明书实施例提供一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质,属于内存测试领域,其中,所述方法包括:在测试系统下,查询待测试内存中已占用内存空间的地址信息和未占用内存空间;将已占用内存的地址信息存储至目标空间;执行第一内存测试程序对未占用内存空间进行测试,获取未占用内存空间的测试结果;根据目标空间存储的已占用内存空间的地址信息,将已占用内存空间存储的系统和/或程序搬迁至已完成测试的未占用内存空间;执行第二内存测试程序对已占用内存空间进行测试,获取已占用内存空间的测试结果,具有提高内存测试的覆盖率的优点。的优点。的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质


[0001]本说明书涉及内存测试领域,特别涉及一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着数字化服务的需求日益增加,汽车电子技术的飞速发展,各种手机应用的不断更新,以及各类PC软件的发展,需要服务器、智能汽车、手机、PC等提供稳定高效的数据处理服务。内存是以上各类设备的关键部件。单个内存的容量越来越大,颗粒数量越来越多,出错的概率也越来越高,因此,需要不断提升内存测试的覆盖率。内存在生产测试时,通常测试程序会占用一部分被测内存空间,导致该部分存储空间无法进行全算法覆盖。
[0003]因此,需要提供一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质,用于提高内存测试的覆盖率。

技术实现思路

[0004]本说明书实施例之一提供一种内存测试方法,所述方法包括:在测试系统下,查询待测试内存中已占用内存空间的地址信息和未占用内存空间;将所述已占用内存的地址信息存储至目标空间;执行第一内存测试程序对所述未占用内存空间进行测试,获取所述未占用内存空间的测试结果;根据所述目本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存测试方法,其特征在于,包括:在测试系统下,查询待测试内存中已占用内存空间的地址信息和未占用内存空间;将所述已占用内存的地址信息存储至目标空间;执行第一内存测试程序对所述未占用内存空间进行测试,获取所述未占用内存空间的测试结果;根据所述目标空间存储的所述已占用内存空间的地址信息,将所述已占用内存空间存储的系统和/或程序搬迁至已完成测试的未占用内存空间;执行第二内存测试程序对所述已占用内存空间进行测试,获取所述已占用内存空间的测试结果。2.根据权利要求1所述的内存测试方法,其特征在于,所述目标空间为掉电不丢失存储空间。3.根据权利要求2所述的内存测试方法,其特征在于,所述掉电不丢失存储空间为硬盘、U盘、CF卡或板载存储器内的空间。4.根据权利要求1

3任意一项所述的内存测试方法,其特征在于,所述测试系统为BIOS系统、Linux操作系统或UEFI系统。5.根据权利要求1

3任意一项所述的内存测试方法,其特征在于,所述第一内存测试程序和所述第二内存测试程序均与所述待测试内存的型号相关。6.一种内存测试系统,其特征在于,包括:信息获取模块,用于在测试系统下,查询待测试内存中已占用内存空间的地址信息和未占用内存空间;地址存储模块,用于将所述已占用内存的地址信...

【专利技术属性】
技术研发人员:皂慧丽吴彦华
申请(专利权)人:深圳市章江科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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