内存测试方法、系统及计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，方法包括：根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序等；将预设测试数据输入被测内存储器，预设测试数据用于测试被测内存储器的物理结构在测试加速因子影响下是否正常工作；获得被测内存储器的实际测试数据；当实际测试数据与预设测试数据一致，确定测试通过，并由此建立产品的质量多维近似模型。本发明专利技术通过改变被测内存储器的工作环境，在测试加速因子改变的状态下对内存储器进行测试，从而检测被测内存储器的物理结构在当前工作环境下是否能够正常工作，同时也扩展了测试过程中的可调节的外部因素，更有利于激发出深层次的故障模式。深层次的故障模式。深层次的故障模式。

【技术实现步骤摘要】
内存测试方法、系统及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及内存测试
，尤其涉及一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前，内存(内存储器)和固态硬盘广泛应用于电脑、手机、服务器、智能汽车等产品设备。内存和固态硬盘是数据处理、数据存储的关键部件，其可靠性至关重要。同时，DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存取存储器)、3DNANDFLASH(NAND闪存)等存储介质，是用于研发内存、固态硬盘的关键器件。这些介质在物理特性上都存在较高的离散性故障失效比例。因此，研发内存、固态硬盘产品时，都会在研发生产的测试环节中进行严格的筛选测试，以此将不符合要求的失效品筛选出来。
[0003]相关技术中，常将生产好的成品插入主板上，通过运行预设的测试数据来触发故障的发生，进而实现筛选的目的。然而，由于对存储介质容量、密度，降低功耗等需求的不断提高，其制作工艺也更为复杂，这样的测试方式带来越来越多的随机性和不确定性，难以筛选出深层次的故障。
专利
技术实现思路

[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存测试方法，其特征在于，包括：根据预设条件调节被测内存储器的测试加速因子，所述测试加速因子包括温度、工作电压和接口时序；将预设测试数据输入所述被测内存储器，所述预设测试数据用于测试所述被测内存储器的物理结构在所述测试加速因子影响下是否正常工作；获得所述被测内存储器的实际测试数据；当所述实际测试数据与所述预设测试数据一致，确定测试通过；根据所述实际测试数据建立质量多维近似模型。2.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述获得所述被测内存储器的实际测试数据，包括：根据预设间隔多次获取所述实时测试数据；根据多个所述实时测试数据，得到所述实际测试数据。3.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述获得所述被测内存储器的实际测试数据，包括：根据预设时间节点单次测得所述实际测试数据。4.根据权利要求1所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当所述实际测试数据与所述预设测试数据不一致，确定测试不通过。5.根据权利要求4所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当确定测试不通过，更换所述预设测试数据并对所述被测内存储器进行测试。6.根据权利要求4所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：当确定测试不通过，将所述被测内存储器标记为失效品。7.根据权利要求5所述的内存测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在完成测试后，将当前的所述预设测试数据与测试结果进行存储记录。8.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵春辉，刘石柱，曹祥，曾祥卫，
申请(专利权)人：深圳市章江科技有限公司，
类型：发明
国别省市：