本发明公开了一种光学镜片的自动上下料设备及方法，涉及光学镜片上下料技术领域，解决了目前的镜片自动上下料和检测设备之间的运输时间长，降低了效率和良品率的技术问题。该设备包括上料模块、转运模块、显微检测模块和下料模块；所述上料模块将至少一个...

本发明公开了一种导轨直线度的自动校准系统及方法，涉及导轨直线度测量技术领域，解决了打表校调方法难以对多点直线度进行自动采样，达到高精度校调的技术问题

本发明公开了一种中继镜与恰图的对位调装设备及方法，涉及中继镜总成对位调装技术领域，解决了现有中继镜总成结构在装配过程中，调装精度低，存在同轴度，容易影响检测效果的技术问题

本发明公开了一种车载摄像头自动

本发明公开了一种视觉相机的标定方法

本发明公开一种弹簧对位装配方法及设备，涉及弹簧装配技术领域，解决现有弹簧装配技术中，弹簧与深孔的定位精确度低，容易导致弹簧与深孔侧壁抵接，影响装配效果和装配效率的技术问题。本发明根据第一图像底部线和第二图像底部线，得到绕扫描坐标系的X轴...

本发明公开一种多齿轮啮合视觉装配方法及设备，涉及多齿轮装配技术领域，解决了现有装配设备对齿轮定位精确度低，装配多个齿轮时，齿轮轮齿之间容易发生干涉，导致装配效率低、质量不佳的技术问题。本发明获取到齿轮底壳坐标系、第一齿轮标定坐标、第二齿...

本发明公开一种FAC镜片耦合测试设备，涉及光纤激光器技术领域，解决了人工进行快轴准直镜的耦合测试效果差，速度慢，难以适应测试需求的技术问题。该装置包括上下料系统、承载及耦合系统、发光切换系统及光斑成像系统；所述上下料系统向所述承载及耦合...

本发明公开了一种掠入射双目视觉定位组装方法及定位装置，涉及仪器精密组装技术领域，解决了现有的视觉系统需要定时重新标定，时间成本高，组装效率低的技术问题。该方法包括步骤：S100、将其中一个元件在X轴、Y轴上移动多次，每次移动均使用至少一...

本发明公开了一种曲面屏幕的组装方法及组装设备，涉及车载屏幕组装的技术领域，解决了现有人工组装和自动化组装设备在组装曲面屏幕时，组装精度不佳，容易影响产品的质量的技术问题。该方法包括步骤：S100、组装设备将待安装屏幕移至屏幕框的安装位上...

本发明公开了一种自动组装镜头和传感器的方法及设备，涉及仪器精密组装技术领域，解决了现有技术中存在的自动化程度低的技术问题。本设备包括包括第一调整机构、上下料装置、第二调整机构、组装机构以及防震装置；第一调整机构、第二调整机构与防震装置活...

本申请实施例适用于芯片检测技术领域，提供了一种金线顶部的高度测量方法、装置、设备及存储介质，方法应用于终端设备，包括：控制发光设备照射金线顶部的第一区域；获取在当前测量高度下对金线顶部进行图像采集得到的待处理图像；待处理图像包括被发光设...

本申请适用于芯片检测技术领域，提供了一种芯片表面缺陷的检测方法、装置及计算机可读存储介质。该方法通过获取待检测芯片的多个原始图像，并确定原始图像的第一清晰度；以及确定原始图像的边缘区域，并确定边缘区域的第二清晰度；且根据第一清晰度和第二...

本实用新型适用于光学零件组装定位技术领域，提供了一种贴装机。贴装机包括移动组件，移动组件用于调整第一元件和第二元件的相对位置；还包括图像采集机构，图像采集机构包括光路反射组件以及光束接收处理组件；光路反射组件能够在观测位置和避让位置之间...

本申请适用于微透镜耦合技术领域，提供了一种微透镜耦合光路系统、微透镜耦合装置，微透镜耦合光路系统包括：主体；第一分光部，第一分光部安装于主体，第一分光部设置在穿过待耦合微透镜的主光路上，第一分光部能够将主光路分成第一光路及第二光路；第一...

本申请提供了一种电控夹爪和光学元件组装设备，该电控夹爪包括以下部件：驱动装置固定在安装座上，包括驱动电机、丝杆和滑块；驱动电机的输出端与丝杆连接；滑块与丝杆连接，并受丝杆驱动沿丝杆的轴向直线运动；摆动臂组件包括多个摆动臂以及在每一摆动臂...

本实用新型适用于光学零件组装技术领域，提供了一种三维角度摆动台，包括底座、旋转件以及驱动装置；底座的中部具有开口朝上的半球形凹槽，旋转件的底部具有向下凸出、可转动地嵌装于半球形凹槽内的半球形凸部，顶部具有用于放置光学元件的工作面；驱动装...

本实用新型适用于光学零件组装定位技术领域，提供了一种光学元件三维视觉定位装置，包括图像获取装置，以及中心呈三角形排布的第一反射镜、第二反射镜和第三反射镜；第一反射镜用于由第一视角接收并反射光学元件反射的第一光线；第二反射镜用于由第二视角...

本申请提供了一种电控夹爪和光学元件组装设备，该电控夹爪包括以下部件：驱动装置固定在安装座上，包括驱动电机、丝杆和滑块；驱动电机的输出端与丝杆连接；滑块与丝杆连接，并受丝杆驱动沿丝杆的轴向直线运动；摆动臂组件包括多个摆动臂以及在每一摆动臂...

本实用新型提供了一种测量装置，包括测量机构、上料机构以及下料机构。测量机构用于在测量工位对物料采用摄像方式进行尺寸测量，上料机构包括上料载台和上料组件，上料载台能够将多个物料逐次送至上料工位，上料组件用于从上料工位抓取物料，并将物料移动...