本发明公开了一种LED亮度测试调节装置及系统，该装置包括：驱动组件、光衰减片安装座、传感器以及多个对光衰减程度不同的光衰减片，所述光衰减片安装座的不同位置安装对应的光衰减片，所述驱动组件用于驱动所述光衰减片安装座转动，所述光衰减片安装座...

本发明公开了一种LED测试扎针位置校正方法及装置，该方法包括如下步骤：对LED芯粒板上的每个LED芯粒上的两个电极的位置进行识别记录；以第一LED芯粒为基准，计算与第一LED芯粒相邻的第二LED芯粒的两个电极与第一LED芯粒的位置偏差；...

本发明公开了一种工作台自适应调平装置，包括绕动机构和弹性机构，所述绕动机构包括调平板，所述弹性机构包括弹性支座、弹性机构转轴、多个弹性机构弹性部件，所述多个弹性机构部件分别设置于所述弹性支座的不同受力位置，所述调平板在受力的状态下对所述...

本实用新型公开了一种标记装置，包括固定座、安装座、电磁铁、端盖、墨斗、针头和标记线，该装置还包括设置在安装座上端的调节螺钉、调节座、导向轴，导向轴包括轴套、轴杆和限位销，调节座的一端固定在安装座上，调节螺钉与调节座上带有内螺纹的孔螺钉配...

本发明公开了一种双焊臂拾取机构及一种芯片分选机，所述拾取机构包括包括焊臂组件以及驱动所述焊臂组件作上下运动和旋转运动的驱动机构，所述焊臂组件至少包括在同一轴线上反向设置的两个焊臂单元，该两个焊臂单元均与所述驱动机构连接；所述两个焊臂单元...

本发明公开了一种半导体测试探针清洗装置及方法，该装置包括第一液体容器，所述第一液体容器具有第一容器开口和第一容器底部，从所述第一容器底部至第一容器开口所述第一液体容器的横截面逐渐收窄。本发明中折弯型的半导体测试探针更容易伸入第一液体容器...

本实用新型公开了一种磁力探测器，包括探测器主体和旋转杆，旋转杆包括旋转杆头和旋转杆尾，还包括旋转杆轴，旋转杆轴安装在探测器主体上，旋转杆头和旋转杆尾分别在旋转杆轴的两侧，旋转杆尾上设有第一磁部件，探测器主体上设有第二磁部件和静触点，可相...

一种用于LED测试机的积分球，是一个设有收光口的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，其特征在于：收光口的长度为至少6mm，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm。本发明增加了收光口长度且收光口下端设有缺口，测试探针由...

本发明公开了一种晶粒探测方法和系统。该方法包括以下步骤：A.步进电机先以较大速度驱动载有晶粒的承片台从距探边器的探针的较远位置上升到距探针的较近位置；B.步进电机以较小速度运行，承片台每上升一段距离，判断探边器的探针是否与晶粒接触。承片...

本实用新型公告了一种针卡调节装置，包括固定器、高低调节组件和针卡装夹组件，高低调节组件包括调节螺母、旋转轴、轴承、轴承座和调节旋钮；轴承固定在轴承座上，针卡装夹组件连接在轴承座下方，调节旋钮固定在旋转轴的上端，旋转轴中部与轴承内孔紧配合...

本实用新型公告了一种三维调节座，包括Ｘ向微调组件、Ｙ向微调组件和Ｚ向微调组件、固定座、关节轴承；所述Ｘ向微调组件与关节轴承内圈固定连接，所述关节轴承外圈与固定座连为一体，所述Ｘ向微调组件一端用于固定待调节物、另一端为Ｘ向调节器，所述Ｙ向...

一种晶圆片的定位装置及定位方法，定位装置包括定位台和驱动装置，定位台的下部设有吸附装置，在定位台的一侧设有光源，在定位台的另一侧设有光电传感器，光电传感器与控制器电连接，定位台的旁边设有可水平直线移动的机械手，定位台的中心位于机械手移动...

本发明的公开了一种顶针顶出机构，包括内套，沿内套的周向设置有多个凸轮槽，所述凸轮槽具有水平槽部和与水平槽部呈一定角度向上延伸的斜槽部；芯轴，与内套同心设置，且固连于内套；顶针安装座，可旋转的联接于芯轴；多个顶针升降销轴，沿周向固连于顶针...

本实用新型公开了一种针夹及探针组件，包括针夹、连接杆、调整杆及连接块，该针夹包括基部及自该基部悬臂状延伸出的第一夹臂和第二夹臂，该第一夹臂和该第二夹臂相分离并形成夹持腔，该夹持腔具有宽度减小的夹持口，该夹持口形成于该第一夹臂头部的内壁面...

本发明公开了一种半导体晶圆片多路测试方法，由探针台主机控制多路切换器，使测试机的测试头依次与与各组测试探针连接。还公开了一种多路测试探针台，其探针台主机嵌入有多路测试及通信软件；测试探针头是多芯片测试探针头，其上设有可以同时与多个芯片连...

一种自动上下片机构，包括送片机构、预对位机构和机械臂组件机构，机械臂组件机构中的机械臂从送片机构上方的花篮中取出晶圆片送到预对位机构进行预对位，然后机械臂组件机构旋转９０°把晶圆片送到测试装置的承片台上进行相关测试；待测试完成后，机械臂...