一种用于LED测试机的积分球，是一个设有收光口的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，其特征在于：收光口的长度为至少6mm，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm。本发明专利技术增加了收光口长度且收光口下端设有缺口，测试探针由缺口伸入进行点测。既不影响测试探针的使用，又使积分球尽量接近LED照明芯片。收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm，可以显著提高侧向光的吸收率。此外，收光口内反射面为圆锥面，比原有的圆柱面更容易将侧向光反射入积分球内，明显减少光泄漏，使侧向光泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及发光二极管(Light Emitting Diode,缩略词为LED)测试,特别是涉及一种用于LED测试机的积分球。
技术介绍
LED照明芯片发光面包括表面发光、侧向发光和背向泄漏光。现有LED照明芯片的背面设有多层高反射膜和金属反射层，背面光泄漏量仅占39Γ5%，当采用相同材料和膜系结构时，LED照明芯片发光面的泄漏光能量基本一致，而且，背向泄漏光目前很少被利用，因此可以暂不考虑这部分泄漏光对测试的影响。但是，LED照明芯片侧向发光由于材料、结构、 工艺的不同会导致与总发光量的占比不完全相同。目前用于LED测试机的积分球如图I所示，所述积分球3可以收集处于球内或放在球外并靠近其收光口 6处的被测试的LED照明芯片I散射或发射的光。理论上是积分球3与被测试的LED照明芯片I的距离越近，光泄漏越少，测量越准确。由于测试LED照明芯片I要使用测试探针2，其与被测试的LED照明芯片I之间有一定的距离，限制了积分球3与被测试的LED照明芯片I之间约7mm的距离进一步缩小，因此，现有积分球只能对LED照明芯片的表面光4进行比较准确的测试，而且， 由于较多的侧向光5泄漏积分球3以外，不能被积分球3接收，因此，LED测试机还难以对 LED照明芯片的侧向光5进行准确测量，从一个方面导致LED行业测试标准至今尚未统一。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是弥补上述现有技术的缺陷，提供一种改进的用于 LED测试机的积分球。本专利技术的技术问题通过以下技术方案予以解决。这种用于LED测试机的积分球,又称为光通球,是一个设有收光口的中空球壳,球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，内壁表面各点的漫射均勻。这种用于LED测试机的积分球的特点是所述收光口的长度为至少6mm，比原有长度为2mm以下的收光口长度有所增加，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm，可以显著提高侧向光的吸收率。本专利技术的技术问题通过以下进一步的技术方案予以解决。所述收光口内反射面为圆锥面。比原有的圆柱面更容易将侧向光反射入积分球内，明显减少光泄漏，使侧向光泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。本专利技术的技术问题通过以下再进一步的技术方案予以解决。所述收光口的下端设有缺口，测试探针由所述缺口伸入进行点测。既不影响测试探针的使用，又使积分球尽量接近LED照明芯片，可以进一步显著提高侧向光的吸收率。本专利技术与现有技术相比的有益效果是本专利技术的积分球增加了收光口长度且收光口下端设有缺口，测试探针由缺口伸入进行点测。既不影响测试探针的使用，又使积分球尽量接近LED照明芯片。收光口与被测试的 LED照明芯片距离至多为1_，可以显著提高侧向光的吸收率。此外，收光口内反射面为圆锥面，比原有的圆柱面更容易将侧向光反射入积分球内，明显减少光泄漏，使侧向光泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。附图说明图I是现有常用积分球结构的主视纵向剖面与光路示意图2是本专利技术具体实施方式的主视纵向剖面与光路示意图3是本专利技术具体实施方式的侧视纵向剖面与光路示意图。具体实施例方式下面结合具体实施方式并对照附图对本专利技术进行说明。一种如图2 3所示的用于LED测试机的积分球3，是一个设有收光口 6的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，内壁表面各点的漫射均勻。收光口 6的长度为6mm，比原有长度为2mm以上的收光口长度有所增加，收光口 6 与被测试的LED照明芯片I距离至多为1mm，可以显著提高侧向光5的吸收率。收光口 6的下端设有缺口 7，测试探针2由缺口 7伸入进行点测。既不影响测试探针2的使用，又使积分球3尽量接近LED照明芯片1，可以进一步显著提高侧向光5的吸收率。收光口 6的内反射面为圆锥面，比原有的圆柱面更容易将侧向光5反射入积分球3 内，明显减少光泄漏，使侧向光5泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片I测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。以上内容是结合具体的优选实施方式对本专利技术所作的进一步详细说明，不能认定本专利技术的具体实施只局限于这些说明。对于本专利技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本专利技术由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。权利要求1.一种用于LED测试机的积分球,是一个设有收光口的中空球壳,球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，其特征在于所述收光口的长度为至少6mm，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm。2.如权利要求I所述的用于LED测试机的积分球，其特征在于所述收光口内反射面为圆锥面。3.如权利要求I或2所述的用于LED测试机的积分球，其特征在于所述收光口的下端设有缺口，测试探针由所述缺口伸入进行点测。全文摘要一种用于LED测试机的积分球，是一个设有收光口的中空球壳，球壳内壁表面设有高光反射性的漫反射层，其特征在于收光口的长度为至少6mm，收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm。本专利技术增加了收光口长度且收光口下端设有缺口，测试探针由缺口伸入进行点测。既不影响测试探针的使用，又使积分球尽量接近LED照明芯片。收光口与被测试的LED照明芯片距离至多为1mm，可以显著提高侧向光的吸收率。此外，收光口内反射面为圆锥面，比原有的圆柱面更容易将侧向光反射入积分球内，明显减少光泄漏，使侧向光泄漏的影响尽可能的降低，在LED照明芯片测试中收光更彻底，光参数测试更加精确，可以显著提高LED测试机的测量精度。文档编号G01J1/00GK102607696SQ20121009527公开日2012年7月25日 申请日期2012年4月1日 优先权日2012年4月1日专利技术者杨新民 申请人:杨新民, 深圳市矽电半导体设备有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨新民，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，杨新民，
类型：发明
国别省市：
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