上海灵动微电子股份有限公司专利技术

上海灵动微电子股份有限公司共有71项专利

  • 本申请涉及芯片测试领域,公开了一种通用输入输出电气特性参数测试电路,可以测试芯片的输入输出在不同电压下的性能参数。该测试电路包括插板,被配置为耦合到芯片,芯片上设有多个通用输入输出接口。通用输入输出接口,被配置为分别耦合到信号发生器、示...
  • 本申请涉及芯片测试领域,公开了一种芯片模拟功能验证电路,可以验证芯片模拟功能的有效性和正确性。该电路包括USB快充模块、外部串行接收模拟模块以及FPGA通信接口。外部串行接收模拟模块包括多路复用器和比较器。USB快充模块的第一管脚耦合到...
  • 本申请涉及数字电路设计领域,公开了一种SLCD驱动模块验证电路,可以在MCU设计阶段联合调试验证SLCD驱动模块数字电路设计的完整性与正确性。该电路包括分压电源、数字信号接口、多个16选1模拟开关、多个4选1模拟开关以及SLCD屏幕接口...
  • 本实用新型涉及集成电路领域,公开了一种芯片封装用定位装置包括:支座,支撑台,电动机,固定杆,第一定位组件和第二定位组件,其中,所述支撑台固定设置在所述支座上表面,用于放置待定位的芯片;所述电动机连接并驱动所述第一定位组件,并且,所述第一...
  • 本申请涉及在线升级领域,公开一种支持在线升级的电路
  • 本申请涉及电路芯片仿真验证技术领域,公开了一种基于脚本的
  • 本申请涉及集成电路技术领域,公开了一种数据采集装置,包括:依次连接的用户板子
  • 本实用新型涉及弹夹盒技术领域,公开了一种弹夹盒,包括:壳体
  • 本发明属于直流无刷电机控制技术领域,提供一种运放开环直流增益的测量方法及电路,测量电路包括:待测运放电路,所述待测运放电路包括待测运算放大器;辅助测量电路,所述辅助测量电路包括开关;其中,所述开关连接于所述待测运算放大器的输出端,所述待...
  • 本实用新型涉及电路领域,公开了一种同步更新CAN网络多节点设备固件的装置,包括:多个节点设备、CAN适配器单元,以及上位机,其中,所述CAN适配器单元通过USB接口与所述上位机连接,所述CAN适配器单元通过CAN网络与每个所述节点设备连...
  • 本申请公开一种嵌入式软件的自动化测试系统:包括:上位机、辅助测试系统及待测系统,辅助测试系统包括:微控制器、复位电路、串行通信接口、TYPEC转换模块;复位电路连接到微控制器的复位端口,微控制器的至少三个GPIO接口电路分别用于输出与微...
  • 本发明属于嵌入式软件测试技术领域,提供一种嵌入式软件自动化测试方法和系统,其系统包括上位机、目标嵌入式系统;上位机,用于基于定时触发信号或测试完成信号,获取待测嵌入式软件的测试文件,并与目标嵌入式系统进行匹配连接,将测试文件下载至目标嵌...
  • 本实用新型公开了一种半导体晶片切割处理装置,其中的底板用于放置待切割的半导体晶片本体;刻度尺夹持机构分别活动设置于底板两侧,用于对待切割的半导体晶片本体进行夹持固定并定位至所要切割的位置;Y轴移动机构对称设置于底板两侧,X轴移动机构设置...
  • 本实用新型涉及电路领域,公开了一种CAN节点固件的连接装置,包括:主控芯片、灯光指示模块、CAN报文收发模块、CAN接口、USB接口,以及扩展接口,其中,灯光指示模块、CAN报文收发模块、USB接口,以及扩展接口分别与主控芯片连接,CA...
  • 本申请涉及半导体领域,公开了一种芯片测试板及其设备,可以无需上位机,只使用一套芯片测试板对多种芯片进行测试。该芯片测试板包括FPGA、高速接插件、n个子板以及存储模块。FPGA的第一端耦合到高速接插件的第一端,FPGA的第二端耦合到存储...
  • 本申请涉及集成电路领域,公开了一种数字IP测试系统及方法,可以实现不同数字功能的遍历测试。该系统包括上位机、第一下载器、第二下载器、待测器件、控制器、监控设备以及通信数据线。上位机通过第一下载器将测试程序下载至待测器件,通过第二下载器将...
  • 本申请涉及计算机技术领域,公开一种获取待执行指令的方法及系统,所述方法包括:处理器一次从片内存储器将N个待执行指令按顺序地预取并存储到缓冲器中,处理器的时钟是片内存储器的N倍,片内存储器的位宽是处理器的N倍;处理器按顺序地从缓冲器中读取...
  • 本发明属于直流无刷电机控制技术领域,本发明提供了一种直流无刷电机位置传感器安装偏差校准方法和装置,其方法包括:关闭直流无刷电机的驱动,在直流无刷电机在滑行时采样所述直流无刷电机的反电动势原始数据;基于所述直流无刷电机的反电动势原始数据,...
  • 本发明公开了一种降低亚阈值摆幅的低压差线性稳压器及其实现方法,包括第二MOS管及为其提供稳定栅极电压的开环LDO电路、动态衬底偏置电路;第二MOS管的源极提供输出电压;设置在第二MOS管的源极和衬底之间的动态衬底偏置电路,用于当负载电流...
  • 本实用新型涉及集成电路技术领域,公开了一种芯片测试装置,包括:上位机、扫描控制模块、电流缓冲模块,扫描控制模块通过USB接口与上位机,并通过I2C接口与电流缓冲模块连接,以及通过SWD接口与待测试的芯片连接,电流缓冲模块通过GPIO接口...