芯片模拟功能验证电路制造技术

本申请涉及芯片测试领域，公开了一种芯片模拟功能验证电路，可以验证芯片模拟功能的有效性和正确性。该电路包括USB快充模块、外部串行接收模拟模块以及FPGA通信接口。外部串行接收模拟模块包括多路复用器和比较器。USB快充模块的第一管脚耦合到多路复用器的第一输入端，USB快充模块的第二管脚耦合到多路复用器的第二输入端，多路复用器的输出端耦合到比较器的正输入端，比较参考电压耦合到比较器的负输入端。比较器的输出端耦合到FPGA通信接口。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片测试领域，具体涉及一种芯片模拟功能验证电路。

技术介绍

1、一般的fpga(field programmable gate array，现场可编程逻辑门阵列)平台主要用于处理数字信号，虽然最新的fpga已集成部分模拟电路，但是fpga总的功能主要还是用于处理数字信号。对于控制器类的芯片，其带有uart、spi、i2c等数字接口，以及adc(analog to digital conver，ad转换器)、dac(digital to analog conver，da转换器)、csm(common serial module，串行接收模块)等数字和模拟相结合的功能，在芯片流片前，需要在fpga上进行各接口和功能测试，其模拟功能往往无法测试到。

2、其中csm内部会用到比较器的模拟功能，csm可应用在usb快充系统中，而该部分在fpga上无法进行测试，但若放弃测试，就会使以后的芯片在此功能上存在较大的失效风险。

技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种芯片模拟功能验证电路，可以验证芯片模本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片模拟功能验证电路，其特征在于，包括：USB快充模块(1)、外部串行接收模拟模块(2)以及FPGA通信接口(3)；

2.如权利要求1所述的芯片模拟功能验证电路，其特征在于，所述第一管脚(CC1)与所述USB快充模块(1)的内部供电器(5)间耦合到上拉电阻(RP)的第一端，所述上拉电阻(RP)的第二端耦合到电源；

3.如权利要求1所述的芯片模拟功能验证电路，其特征在于，所述第二管脚(CC2)与所述USB快充模块(1)的内部供电器(5)间耦合到上拉电阻(RP)的第一端，所述上拉电阻(RP)的第二端耦合到电源；

4.如权利要求1所述的芯片模拟功能验...

【技术特征摘要】

1.一种芯片模拟功能验证电路，其特征在于，包括：usb快充模块(1)、外部串行接收模拟模块(2)以及fpga通信接口(3)；

2.如权利要求1所述的芯片模拟功能验证电路，其特征在于，所述第一管脚(cc1)与所述usb快充模块(1)的内部供电器(5)间耦合到上拉电阻(rp)的第一端，所述上拉电阻(rp)的第二端耦合到电源；

3.如权利要求1所述的芯片模拟功能验证电路，其特征在于，所述第二管脚(cc2)与所述usb快充模块(1)的内部供电器(5)间耦合到上拉电阻(rp)的第一端，所述上拉电阻(rp)的第二端耦合到电源；

4.如权利要求1所述的芯片模拟功能验证电路，其特征在于，所述第一管脚(cc1)与所述多路复用器(201)的第一输入端间耦合到第一下拉电阻(rd1)的第一端，所述第一下拉电阻(rd1)的第二端耦合到地。

5.如权利要求1所述的芯片模拟功能验证电路，其特征在于，所述第二管脚(cc2)与所述多路复用器(201)的第二输入端间耦合到...

【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海灵动微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：