嵌入式软件的自动化测试系统技术方案

技术编号:39136102 阅读:9 留言:0更新日期:2023-10-23 14:52
本申请公开一种嵌入式软件的自动化测试系统:包括:上位机、辅助测试系统及待测系统,辅助测试系统包括:微控制器、复位电路、串行通信接口、TYPEC转换模块;复位电路连接到微控制器的复位端口,微控制器的至少三个GPIO接口电路分别用于输出与微控制器相连接的数模转换器提供的模拟信号到待测系统、输出与微控制器相连接的定时器提供的PWM信号到待测系统、用于从待测系统接收待测系统中的数模转换器提供的模拟信号,辅助测试系统的第二UART接口通过串行通信接口和TYPEC转换模块连接上位机的串行通信接口。本申请采用辅助测试系统对嵌入式软件进行测试,节约设备成本,排除人为因素影响。影响。影响。

【技术实现步骤摘要】
嵌入式软件的自动化测试系统


[0001]本技术涉及嵌入式软件的测试
,更具体地涉及一种嵌入式软件的自动化测试系统。

技术介绍

[0002]现有嵌入式软件测试需要通过多个外部成型产品提供信号源给测试设备进行测试,例如ADC的测试,则需要人工通过一个可调的电源设备提供信号源给到测试系统,需要人工的调节不同电源。当测试TIM的时候,主要给测试设备提供不同频率的PWM波形,提供波形的可以为示波器,逻辑分析仪,或者是先利用一个辅助板下载一个程序测试后,修改代码后再下载进行另一个频率的测试,这样不仅耗时而且易出错。现有技术有以下缺点:
[0003]1)成本高;例如ADC测试需要提供电压源;DAC的测试需要判断输出的模拟信号;TIM的测试需要提供一定频率的PWM等等。这些信号都通过指定的设备,电压源,示波器或者逻辑分析仪提供,那么将需要大量的设备才能满足同时对多个测试系统的测试。
[0004]2)人为因素影响,测试条件遗漏,测试周期长;需要人工通过指定设备(例如电压源等设备)输入信号给测试系统,同时当调整电压大小时,可能会遗漏部分电压测试点从而导致结果不可信。人的精力有限无法24小时进行测试,测试周期长。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于嵌入式软件的自动化测试系统,可以降低成本,缩短测试周期,确保测试结果的可靠性。
[0006]本申请公开了一种嵌入式软件的自动化测试系统,包括:上位机、辅助测试系统以及待测系统,所述上位机的串行通信接口与所述待测系统的串行调试接口连接,所述上位机的串行通信接口与所述辅助测试系统的第一UART接口连接,所述待测系统的UART接口与所述辅助测试系统的第二UART接口连接;所述辅助测试系统包括:微控制器、复位电路、串行通信接口、以及TYPEC转换模块;
[0007]其中,所述复位电路连接到所述微控制器的复位端口,所述微控制器的至少三个GPIO接口电路分别用于输出与所述微控制器相连接的数模转换器提供的模拟信号到所述待测系统、输出与所述微控制器相连接的定时器提供的PWM信号到所述待测系统、以及用于从所述待测系统接收所述待测系统中的数模转换器提供的模拟信号,所述辅助测试系统的第二UART接口依次通过所述串行通信接口和所述TYPEC转换模块连接所述上位机的串行通信接口。
[0008]在一个优选例中,所述复位电路包括:电阻、电容、二极管和开关,所述电阻的一端和所述二极管的阴极连接到电源端,所述电阻的另一端、所述二极管的阳极和所述电容的一端连接到所述微控制器的复位端口,所述电容的另一端连接到地端,所述开关连接到所述复位端口。
[0009]在一个优选例中,所述开关闭合时,所述复位电路输出低电平的复位到所述微控
制器的复位端口。
[0010]在一个优选例中,所述待测系统的UART接口与所述辅助测试系统的第二UART接口之间通过杜邦线连接。
[0011]在一个优选例中,所述上位机的串行通信接口与所述待测系统的串行调试接口之间通过下载调试器连接。
[0012]在一个优选例中,所述辅助测试系统的串行通信接口为CH340。
[0013]本技术实施方式与现有技术相比,主要区别及其效果在于:
[0014]本申请采用一个辅助测试系统代替很多信号源设备,测试过程完全无人工的参与,既节约设备成本又排除人为因素影响,缩短测试周期。
[0015]应理解,在本技术范围内中,本技术的上述各技术特征和在下文(如实施例)中具体描述的各技术特征之间都可以互相组合,从而构成新的或优选的技术方案。限于篇幅,在此不再一一累述。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是根据本申请一个实施例中的嵌入式软件的自动化测试系统的结构示意图。
[0018]图2是根据本申请一个实施例中的辅助测试系统的结构示意图。
[0019]图3是根据本申请一个实施例中的复位电路的结构示意图。
[0020]图4是根据本申请一个实施例中的上位机与测试系统交互结构的示意图。
[0021]图5是根据本申请一个实施例中的SWD接口的示意图。
[0022]图6是根据本申请一个实施例中的辅助测试系统与测试系统交互结构的示意图。
[0023]图7是根据本申请一个实施例中的CH340和TYPEC_16PINS_SMD接口的示意图。
[0024]图8是根据本申请一个实施例中的上位机与辅助测试系统交互结构的示意图。
具体实施方式
[0025]在以下的叙述中,为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是,本领域的普通技术人员可以理解,即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改,也可以实现本申请所要求保护的技术方案。
[0026]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请的实施方式作进一步地详细描述。
[0027]本申请的一个实施例中涉及一种嵌入式软件的自动化测试系统,其结构如图1所示,该系统包括:上位机101、辅助测试系统103以及待测系统102,上位机101的串行通信接口COM与待测系统102的串行调试接口SWD连接,上位机101的串行通信接口COM与辅助测试系统的第一UART接口UART1连接,待测系统102的UART接口与辅助测试系统103的第二UART接口UART2连接。上位机例如是PC端。
[0028]其中,上位机101的串行通信接口COM与待测系统102的串行调试接口SWD之间通过
下载调试器连接。待测系统102的UART接口与辅助测试系统103的第二UART接口UART2之间通过杜邦线连接。
[0029]参考图2所示,辅助测试系统103包括:微控制器201、复位电路202、串行通信接口(CH340)203、以及TYPEC转换模块(TYPEC_16PINS_SMD)204。其中,复位电路202连接到微控制器201的复位端口(图中未示出),微控制器201的至少三个GPIO接口GPIO1、GPIO2、GPIO3电路分别用于输出与微控制器201相连接的数模转换器DAC(图中未示出)提供的模拟信号到待测系统、输出与微控制器201相连接的定时器TIM(图中未示出)提供的PWM信号到待测系统、以及用于从待测系统接收待测系统中的数模转换器DAC提供的模拟信号,辅助测试系统103的第二UART接口UART2依次通过串行通信接口203和TYPEC转换模块204连接上位机的串行通信接口COM。在一个实施例中,辅助测试系统103串行通信接口为CH340。
[0030]参考图3所示,复位电路包括电阻R1、电容C1、二极管和D1开关K1,电阻R1的一端和二本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式软件的自动化测试系统,其特征在于,包括:上位机、辅助测试系统以及待测系统,所述上位机的串行通信接口与所述待测系统的串行调试接口连接,所述上位机的串行通信接口与所述辅助测试系统的第一UART接口连接,所述待测系统的UART接口与所述辅助测试系统的第二UART接口连接;所述辅助测试系统包括:微控制器、复位电路、串行通信接口、以及TYPEC转换模块;其中,所述复位电路连接到所述微控制器的复位端口,所述微控制器的至少三个GPIO接口电路分别用于输出与所述微控制器相连接的数模转换器提供的模拟信号到所述待测系统、输出与所述微控制器相连接的定时器提供的PWM信号到所述待测系统、以及用于从所述待测系统接收所述待测系统中的数模转换器提供的模拟信号,所述辅助测试系统的第二UART接口依次通过所述串行通信接口和所述TYPEC转换模块连接所述上位机的串行通信接口。2....

【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名
申请(专利权)人:上海灵动微电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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