日立高新技术有限公司专利技术

日立高新技术有限公司共有6项专利

  • 本发明涉及检测液体样本中的分析物的电致化学发光方法及对应的分析系统。将包含磁性微颗粒的流体的容器提供给搅拌单元,获取指示容器中所包含的流体的量的信号,取决于流体的量来确定搅拌单元的旋转频率,通过应用该旋转频率来搅拌流体达预定义时间段,从...
  • 本申请涉及取向识别标签、试剂容器载架结构、分析装置和读取器模块。一种试剂容器载架结构(20),用于保持至少一个试剂容器(22),所述载架结构(20)在其上包括:RFID组件(16);和限定所述载架结构的取向的能够光学检测到的限定图样(1...
  • 分析仪包括试剂驱动盘(301)和固定盘(303),该试剂驱动盘容纳待被用于分析的试剂并且将该试剂运送到期望位置,该固定盘具有试剂备用位置以及用于搅拌磁粉的磁粉搅拌位置,其中,在试剂备用位置中使包含试剂的试剂容器(110)处于临时备用。试...
  • 提供一种圆周方向的擦伤缺陷检测方法和磁盘检查装置,可不使盘生产合格率降低,利用电气特性检查来高效检测圆周擦伤。本发明沿磁盘的径向以规定宽度、沿磁盘的圆周方向绕磁盘一周或沿圆周方向以规定长度,设定缺陷数据的检查区域,对该检查区域限制缺陷数...
  • 本发明涉及磁盘测试方法及磁盘测试器。在根据磁盘的读取头和写入头之间的位置偏差以及圆周速度确定的连接区域内从写入结束点改写测试脉冲信号。因此,由于改写的信号部分被重叠在写入在写入开始点的测试脉冲信号上,因此能够减小连接区域的宽度,从而减小...
  • 本发明公开了一种检测玻璃盘的圆周表面缺陷的光学系统及装置。在本发明中,由于光束从玻璃盘的背面通过玻璃盘被照射到在玻璃盘正面一侧处的外周斜面部分上,所以在接收到的光中由于杂质和裂纹而导致的消光量之间的差增大,并且可以响应于该差而获得接收到...
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