圆周方向的擦伤缺陷检测方法和磁盘检查装置制造方法及图纸

提供一种圆周方向的擦伤缺陷检测方法和磁盘检查装置，可不使盘生产合格率降低，利用电气特性检查来高效检测圆周擦伤。本发明专利技术沿磁盘的径向以规定宽度、沿磁盘的圆周方向绕磁盘一周或沿圆周方向以规定长度，设定缺陷数据的检查区域，对该检查区域限制缺陷数据，使细长的检索框在其中移动，追踪检测检索框的区域内的连续性缺陷，从而仅有选择地检测磁盘具有的、接近圆的曲率较大的曲线状连续性缺陷，将其作为圆周状的缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种圆周方向的擦伤缺陷检测方法和磁盘检查装置(下面称为检查装置)，具体涉及一种磁盘检查装置中、可在电气特性检查中检测沿圆周方向的擦伤缺陷(圆周擦伤)的检查装置。
技术介绍
计算机系统中使用的硬磁盘(下面简称为磁盘或盘)当磁性媒体有异常时，写入数据或读出数据中产生错误，所以利用检查装置将规定的测试数据、例如FFh数据写入盘的规定轨道上，读出该数据，证明磁性媒体是否良好(电气特性检查中的评价)。所述FFh的h表示16进制，所以FFh表示均为“1”的比特数据。在由检查装置检测的比特错误中，有比特的消失、即丢失错误(包含为规定阈值以下的电平的比特)、与比特的飞出(穿刺)引起的穿刺错误、正调制错误、负调制错误等。另外，此外还检测在消失数据的状态下是否读出比特，将此时检测的错误设为溢出(涌出)错误。在磁盘驱动装置(HDD)中，数据的写入使用线圈形式的磁头(感应头)，读出时使用MR头。将这些写入头与读出头一体化为复合头，盘记录密度渐渐提高。在所述缺陷检查中，存在称为同心圆检查的缺陷检查，即使磁头寻轨磁盘的各轨道，由磁头沿各轨道同心圆状地扫描盘，检测缺陷；和称为螺旋检查的缺陷检查，即利用磁头(头托架)螺旋状地扫描盘，检测缺陷。前者的同心圆检查通常为了整个面检查盘，费时，效率差。并且，最近，检查轨道数量增大，盘的品质也提高。实际上，具有缺陷的轨道对于全部轨道最多为100条至200条左右。因此，大多执行部分抽取检查轨道来执行的抽取同心圆检查或后者的螺旋检查。另外，后者的螺旋检查也以抽取间距来执行螺旋检查(专利文献1、2、3)。专利文献1日本特开平10-275434号公报专利文献2日本特开2000-57502号公报专利文献3日本特开2000-57501号公报根据高记录密度的要求，近年来HDD中使用的头组件(磁头+悬架弹簧)的实际大小相对于1.8英寸以下的盘，为15mm-20mm左右，设置在悬架弹簧顶端的磁头大小也为0.5mm×0.5mm左右或以下，包含滑块也不过3mm×3mm左右，非常小。并且，磁头与磁盘的间隔接近从十几nm至几十nm的距离。因此，若有圆周擦伤，则磁盘不好的可能性高。以前，该圆周擦伤利用光学缺陷检查来检测，但在最近的高记录密度下，即便在光学检查合格的磁盘中，也由于电气特性检查中圆周擦伤而出现不好的盘。因此，光学检查中提高圆周擦伤的检测精度，判定不合格盘，但即便这样，原来具有圆周擦伤以外的缺陷的盘也不合格，存在盘生产中合格率降低的问题。因此，尽管要求在电气特性检查中检测圆周擦伤，但目前难以仅检测圆周擦伤，而是检测线性缺陷。线性缺陷中存在各种缺陷，若检测线性缺陷，则存在检测大量圆周擦伤以外的缺陷的问题。由于通常的线性缺陷不是圆周状，所以不对盘的电气特性产生大的影响。因此，即便存在这种缺陷，电气特性下盘也大多并非不合格。现状是若从S字缺陷等曲线缺陷或多数线性缺陷中抽出圆周擦伤，则必需包含其曲率状态或弯曲方向，难以判定，并且，判定费时。
技术实现思路
本专利技术的目的在于解决这种现有技术的问题，提供一种圆周方向的擦伤缺陷检测方法和磁盘检查装置，可不使盘生产合格率降低，利用电气特性检查来高效检测圆周擦伤。本专利技术的圆周方向的擦伤缺陷检测方法或磁盘检查装置的结构中，检查磁盘，采样缺陷数据与在该磁盘上的位置，对于采样的缺陷数据，沿磁盘的径向以规定宽度、沿磁盘的圆周方向绕磁盘一周或沿圆周方向以规定长度，设定所述缺陷数据的检查区域，对于检查区域中的缺陷数据，以比检查区域的规定宽度短的宽度，设置沿与该宽度成直角的方向、具有比所述规定长度短的长度的长方形检索框，检测在所述检索框的区域内、多个缺陷排成列后连续的连续性缺陷，与检测出的所述连续性缺陷连续的方向相一致，依次移动所述检索框，以便所述检测出的连续性缺陷只要在所述检查区域内连续，则包入所述检索框的区域内，检测移动前与移动后的所述检索框的整个区域内的、所述检测出的连续性缺陷的长度或缺陷数量，检测该长度或缺陷数量为规定值以上的缺陷，作为所述检查区域中的圆周擦伤(圆周方向的擦伤缺陷)。这样，本专利技术在设定的圆周状检查区域中，沿连续性缺陷使长方形检索框追踪移动，连续检测连续性缺陷，直到在检查区域内连续性缺陷中断为止。由此，得到连续性缺陷的总长度或总缺陷数，抽出该长度或缺陷数量为规定值以上的缺陷，作为圆周擦伤。通过限于所述规定宽度的检索区域利用检索框追踪连续性缺陷，本专利技术可排除曲线状连续性缺陷中未沿圆周方向的曲线缺陷、曲率小的曲线缺陷、相反曲率过大的曲线缺陷。其原因在于圆周擦伤以外的这些曲线被检索区域切断，成为比圆周擦伤小的断片。因此，成为问题的圆周擦伤以外的这些曲线的连续性缺陷在下面说明的实施例中、通过检索框的9次以下的移动，结束其检测。即，若对采样的缺陷数据、沿磁盘的径向以规定宽度、沿磁盘的圆周方向绕磁盘一周或沿圆周方向以规定长度来设定缺陷数据的检查区域，则该检查区域对于缺陷数据而言，构成沿磁盘的圆周方向且在径向具有某个宽度的区域。位于该区域中的连续性缺陷可限制成包入该宽度中的线性缺陷与圆周擦伤缺陷。并且，由于圆周擦伤缺陷沿该区域的圆周方向包含于其中，所以与线性缺陷相比，圆周擦伤缺陷的缺陷长度或缺陷数量大。因此。为了检测该圆周擦伤缺陷，在该检查区域中设定一定宽度与一定长度的细长检索框，沿位于检索框的区域内的连续性缺陷的方向，使检索框移动，追踪该连续性缺陷，得到连续性缺陷的长度或缺陷数量。由此，有选择地仅检测磁盘具有的、接近圆的曲率较大的曲线状连续性缺陷，抽出该连续性缺陷，作为圆周擦伤。此时的一定宽度与一定长度的检索框在实施例中设通过连续移动检索框8次或以上，想检测的最小长度、例如2mm的圆周擦伤的全体。因此，检索框为大小(长度与宽度)包入想检测的最小长度圆周擦伤的1/8或以下圆弧断片的框。其中，圆周擦伤不在完整的圆上，在磁盘的内周侧与外周侧，曲率多少有差异，所以包含该差异来确定检索框的大小。检索框是包入规定曲率的圆周擦伤的圆弧断片的模板框或基准框，想检测的圆周擦伤以外的曲线的大部分的大小最好是通过移动检索框4次-12次左右结束连续性缺陷。加入本专利技术检索框的具体移动方法的一例中，检测具有越过检索框的长度或缺陷数量的连续性缺陷，当相对于检索框中的连续性缺陷的检索开始点，将检索框移动到下一开始点时，将其移动方向设定为连结检索框的开始点与最后的缺陷(或从开始点起3个缺陷以下的之前缺陷)的方向上。由此，不构成圆周曲线状的直线线性缺陷由于通过在下次检索框的移动中检索框越过检查区域的宽度，结束连续性缺陷的检索，所以排除各种线性缺陷。并且，由于利用向所述方向的检索框的移动，曲率小的曲线缺陷、相反曲率过大的曲线缺陷对应于其曲率，在中途超出检索框，所以下一开始点变为对应于曲率的方向。由此，检索框的移动沿追踪曲线曲率的方向移动，故变为越过检索区域的方向，加入检索框的次数降低。这样，通过在检查区域中依次追踪移动检索框，可以对应于检索框长度的次数，沿连续性缺陷的曲线，追踪检测圆周状的缺陷。结果，不会影响周围的线性缺陷，利用检测的连续性缺陷的长度或缺陷数量，将检测的连续性缺陷实质限定为圆周擦伤。这里的检索框的长度最好对应于磁盘的半径或检测的圆周擦伤的状态来选择。结果，可利用电气特性检查来高效检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁盘检查装置的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，该磁盘检查装置具有写入头与读出头，扫描磁盘并利用所述写入头写入测试数据，利用所述读出头读出所述测试数据，由此检测所述磁盘的缺陷，其特征在于：　　　　所述擦伤缺陷检测方法检查所述磁盘，采样所述缺陷数据与在该所述磁盘上的位置，对于采样的缺陷数据，沿所述磁盘的径向以规定宽度、沿所述磁盘的圆周方向绕所述磁盘一周或沿圆周方向以规定长度，设定所述缺陷数据的检查区域，对于所述检查区域中的所述缺陷数据，以比所述检查区域的所述规定宽度短的宽度，设置沿与该宽度成直角的方向、具有比所述规定长度短的长度的长方形检索框，检测在所述检索框的区域内、多个缺陷排成列后连续的连续性缺陷，　　　　与检测出的连续性缺陷连续的方向相一致，依次移动所述检索框，以便所述检测出的连续性缺陷只要在所述检查区域内连续，则包入所述检索框的区域内，检测移动前与移动后的所述检索框的整个区域内的、所述检测出的连续性缺陷的长度或缺陷数量，检测该长度或缺陷数量为规定值以上的缺陷，作为所述检查区域中的圆周方向的擦伤缺陷。

【技术特征摘要】
JP 2006-5-22 2006-1413761.一种磁盘检查装置的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，该磁盘检查装置具有写入头与读出头，扫描磁盘并利用所述写入头写入测试数据，利用所述读出头读出所述测试数据，由此检测所述磁盘的缺陷，其特征在于所述擦伤缺陷检测方法检查所述磁盘，采样所述缺陷数据与在该所述磁盘上的位置，对于采样的缺陷数据，沿所述磁盘的径向以规定宽度、沿所述磁盘的圆周方向绕所述磁盘一周或沿圆周方向以规定长度，设定所述缺陷数据的检查区域，对于所述检查区域中的所述缺陷数据，以比所述检查区域的所述规定宽度短的宽度，设置沿与该宽度成直角的方向、具有比所述规定长度短的长度的长方形检索框，检测在所述检索框的区域内、多个缺陷排成列后连续的连续性缺陷，与检测出的连续性缺陷连续的方向相一致，依次移动所述检索框，以便所述检测出的连续性缺陷只要在所述检查区域内连续，则包入所述检索框的区域内，检测移动前与移动后的所述检索框的整个区域内的、所述检测出的连续性缺陷的长度或缺陷数量，检测该长度或缺陷数量为规定值以上的缺陷，作为所述检查区域中的圆周方向的擦伤缺陷。2.根据权利要求1所述的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，其特征在于所述连续性缺陷是以缺陷个数超过5个的数量形成列的缺陷，所述检索框的大小具有包入想检测的最小所述圆周方向的擦伤缺陷长度的1/4的圆弧、或更小的圆弧的长度与宽度，通过移动所述检索框5次或5次以上，检测圆周方向的擦伤缺陷。3.根据权利要求1或2所述的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，其特征在于所述连续性缺陷选择所述检查区域的所述缺陷数据中某个缺陷作为所述检索框的开始点，检测所述某个缺陷之后的缺陷，所述检索框的移动检测所述检索框内的所述连续性缺陷长度或缺陷数量，在存在越过所述检索框的所述连续性缺陷的情况下，以距所述开始点最远的缺陷或距所述开始点3个缺陷以下的之前缺陷为下一所述检索框的下一开始点缺陷，接着移动所述检索框。4.根据权利要求3所述的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，其特征在于所述检索框的开始点的位置为所述长方形宽度方向的一边与所述长度方向上的框的中心线的交点，所述检索框的移动方向由所述中心线在连结移动前的所述检索框的所述开始点与所述最后缺陷或所述3个缺陷以下的之前缺陷的方向上来确定。5.根据权利要求4所述的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，其特征在于采样的所述缺陷数据通过检查所述磁盘的整个面来得到，所述连续性缺陷还包含在所述缺陷列的中途缺失缺陷的规定数量或以下的缺陷，所述检查区域沿所述径向从所述磁盘的内周向外周或反向依次设定。6.根据权利要求5所述的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，其特征在于所述缺陷的规定数量为3个或3个以下。7.根据权利要求6所述的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，其特征在于检测为所述连续性缺陷的缺陷通过被存储在存储器中来登录，所述某个缺陷是未登录的缺陷，所述检查区域的所述规定宽度为0.5mm-2mm的范围，所述检查区域的长度比所述规定宽度大，所述检索框的宽度为50微米-100微米的范围，其长度为150微米-500微米的范围。8.根据权利要求4所述的圆周方向的擦伤缺陷检测方法，其特征在于对于所述磁盘一周大小的所述缺陷数据，将所述检查区域分割成长度为所述检索框长度的5倍或以上的多个块，对该分割的块的所述缺陷数据，设定所述检索框，且...

【专利技术属性】
技术研发人员：前田纯博，德丸保博，
申请(专利权)人：日立高新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]