本发明涉及一种用于对电子元件、特别是ＩＣ′ｓ进行调温的调温腔，其中在一壳体（１４）内设置一环行装置（１５），该环行装置包括多个、圆形环行的承载元件（１８）和两个设置在承载元件（１８）的对置的侧面上的支承装置，承载元件（１８）这样支承在支...

本发明涉及一种用于电子元件，尤其是ＩＣ′ｓ的操作设备，具有多个环行车（１０），通过静止的环形的引导装置（９）沿环行车的环行轨道引导这些环行车，所述环行轨道包括至少一个环绕的导轨。在环行车（１０）上设有用于保持待测试的元件（４３）的保持单...

本发明涉及一种用于压力检测室的闭锁机构，所述压力检测室用于检测电子器件，特别是ＩＣ’ｓ，具有多个回转颚板（１１）。至少一部分回转颚板（１１）具有至少一个升降装置（１５），所述升降装置借助回转颚板（１１）引导接近两个共同作用的包围一空腔（...

本发明涉及一种柱塞，该柱塞用于保持和移动电子的器件，特别是用于向与检测装置相连的接触装置输送或从该接触装置移除ＩＣ’ｓ，该柱塞包括一柱塞头（２）以及一个导热体（１９），该柱塞头具有至少一个用于吸住所述器件（３）的抽吸头（２３），该导热体...

用于保持和向一与测试装置连接的接触装置或离开该接触装置移动电子器件、尤其是ＩＣ’ｓ的柱塞，该柱塞具有头部部件（１０），该头部部件具有由经调温的流体流动通过的流体分配室（１８），在其中设置吸头（１５），由此使经调温的流体绕流吸头（１５）并...

在一种用于电子构件、特别是ＩＣ’ｓ的操作装置中，设有用于柱塞（１２）的、具有气动缸装置（３２）的进给装置（３０），气动缸装置设计成能够移动的并与一使气动缸装置（３２）沿柱塞（１２）的轴向往复运动的气动缸移动装置相联接。

本发明涉及一种操作装置，该操作装置用于对电子构件、特别是集成电路进行调温以及向一测试装置供应构件和从该测试装置上取下构件，该操作装置具有能够在一环绕轨道上移动的环行单元，各所述环行单元分别具有至少一个用于保持一构件（４３）的保持单元（１...

本发明涉及一种用于电子构件、特别是集成电路的对中装置，该对中装置具有至少一个对中单元（１），所述对中单元（１）包括：两个Ｌ形的对中元件（３、４）和两个联接元件（５、６），各所述对中元件（３、４）和联接元件（５、６）相互铰接连接，从而联接...