本发明提供了一种动态降低FPGA功耗的方法及系统，该方法通过获取并判断FPGA中所有互联接口链路的状态，控制处于异常状态的互联接口链路对应的收发器关闭。本发明利用了FPGA收发器的下电控制端口，以简单、有效的方法达到动态降低FPGA功耗...

本发明涉及ATE设备领域，公开了基于ATE设备自检的方法和系统，其包括PC端和待测设备端，其方法包括，测试文件的生成，PC端生成测试文件；测试执行，PC端对待测设备端依据测试用例表进行测试的执行；测试校验，PC端对待测设备端测试的相关信...

本发明涉及ATE测试技术，公开了一种加强ATE测试机台安全性的方法和系统，包括依据ATE测试机台的TPM芯片作为可信链的可信根；可信度量，以可信根为基础，通过可信链传递的方式对系统的启动过程进行可信度量；可信度量包括可执行文件和动态库的...

本发明涉及信号测量领域，公开了一种数字信号的测量方法和装置，其包括将待测信号源通过信号调理电路变成标准的数字信号后输入数字逻辑器件内部；还包括，时间戳测量，通过延时链和边沿检测模块测量出输入信号的上升沿时间戳和下降沿时间戳；实时计算，依...

本发明提出了一种晶圆仿真测试方法、装置及晶圆测试方法，晶圆仿真测试方法包括：获取在位Site；晶圆测试程序通过测试机资源库控制晶圆仿真库，使晶圆仿真库根据在位Site进行仿真测试，获取仿真bin值；将仿真bin值转换为测试数据；晶圆测试...

本发明涉及掉电检测技术，公开了一种带有磁滞功能的掉电检测电路及控制系统，其包括分压电路、磁滞控制电路、基准电压电路和比较电路；分压电路用于设置掉电检测电压和磁滞电压；基准电压电路用于产生基准电压；比较电路用于比较分压电路的采样电压与基准...

本发明提出了一种摄像头模组测试装置及其控制方法。装置包括电源模块、处理模块，处理模块设置有FPGA和微处理器，FPGA上设置有接口单元、前期测试单元和传输单元，微处理器上设置有分析测试单元，且外接有内存器件；接口单元接收图像数据；前期测...

本发明涉及一种生成PCBA板的溯源信息的方法。该方法包括：获取PCBA板的图像(11)；从PCBA板的图像中识别PCBA板信息和芯片信息(12)；关联地存储PCBA板信息和芯片信息，以获得PCBA板溯源信息(13)。PCBA板信息包括P...

本发明涉及多功能信号发生器装置，公开了一种多功能信号发生器校正方法及多功能信号发生器，其包括主控制单元、FPGA单元和DAC单元；其方法包括，波表数据的传输，主控制单元发送波表数据并配置波表数据的频率，并将波表文件和频率传送至FPGA单...

本发明提出了一种基于FPGA的数组排序方法、系统及数据压缩方法。方法应用于FPGA数据压缩中，包括：获取待排序数组，待排序数组中的数据按照初始顺序排列，按照初始顺序对数据进行编号，获取初始序号；按照初始顺序从待排序数组中依次选取数据作为...

本发明涉及ATE芯片测试技术，公开了一种基于ATE芯片测试的同步方法和系统，其包括主控CPU下发芯片测试程序至主控FPGA，主控FPGA发送芯片测试程序至业务板，业务板上的FPGA芯片测试执行模块同步启动测试；业务板FPGA芯片测试执行...

本发明提出了一种提升Pattern文件加载性能的加载方法、加载系统及测试机。加载方法包括：读取Pattern文件；获取Pattern文件的DDR基地址；判断Pattern文件转换出的DDR数据能否进行广播：若能进行广播，则配置DDR基地...

本发明提出了一种提升ATE设备芯片测试速度的方法、装置，适用于包括主控板、背板和业务板的系统中，主控板上配置有测试程序；获取待加速数据；测试程序根据待加速数据在预设的重构区逻辑库中选取相应的加速逻辑，选取空闲可重构区信息，构成重构指令；...

本发明涉及一种用于芯片测试的芯片引脚映射方法。该方法包括：解析芯片连接装置的原理图数据，获得测试机连接器类型信息、芯片类型信息以及原理图拓扑结构信息(11)；根据测试机连接器类型信息从测试机连接器资源库中获得连接器资源信息(12)；根据...

本发明涉及芯片测试技术，公开了一种DDR芯片测试装置和方法，其包括通讯单元、主控单元和至少一个测试单元；测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单...

本发明提出了一种基于硬浮点FPGA的雷达超分辨测向方法、系统及数据处理设备，方法包括：获取雷达数据，写入硬浮点FPGA；计算雷达数据的协方差矩阵；将协方差矩阵转换为浮点模式，写入特征分解模块，进行基于QR分解的特征分解计算和基于施密特正...

本发明提出了一种测试向量的存储方法、压缩方法及设备、测试方法及设备，压缩方法包括：获取测试向量集合，从中选取两个具有相同区域的测试向量；对两个测试向量进行比较，获取变量位置和非变量位置；获取第一集合和第二集合；根据变量位置上的向量数据和...

本发明提出了一种提升ATE芯片测试速度的方法、装置及测试系统。适用于包括主控板、背板和业务板的系统，主控板配置有测试程序，业务板上的FPGA设置有指令集存储器和指令执行单元。方法包括：测试程序发送控制命令或调度命令，通过背板传递至业务板...

本发明提出了一种基于国产FPGA的雷达信号抗干扰方法、系统及数据处理设备，方法包括：获取含有干扰信号的雷达数据，写入国产FPGA，进行向量点乘获取协方差矩阵，转换为浮点模式，获取第一协方差矩阵后进行基于QR分解的矩阵求逆计算、基于施密特...

本发明公开了一种ATE半导体测试设备中的基于延时链的触发信号同步系统、方法及半导体测试设备，属于微电子行业集成电路测试领域。通过在背板上设置有可编程逻辑器件，将与背板通信连接的所有业务板的互联同步触发信号布线在可编程逻辑器件上进行实现，...