一种DDR芯片测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片测试技术，公开了一种DDR芯片测试装置和方法，其包括通讯单元、主控单元和至少一个测试单元；测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单元、测试状态单元和测试记录单元；本发明专利技术通过将主控单元设置为图形化可编程客户端单元，其在进行DDR芯片测试的时候，整个测试及开发过程简单且直观；对于测试人员的技能要求低，同时可以缩短测试编程时间；采用网络交换机进行网络部署，在进行测试过程中能够灵活扩展测试单元数量，从而灵活扩展芯片的并行测试数量。

【技术实现步骤摘要】
一种DDR芯片测试装置和方法
本专利技术涉及芯片测试技术，公开了一种DDR芯片测试装置和方法。
技术介绍
现有技术针对DDR芯片的生产制造产业链中的封装后测试环节(FT测试)，一般采用大型ATE测试设备；或进行定制化DDR功能测试装置。其成本高，且操作复杂。例如专利名称为：一种DDR芯片测试方法和装置，专利申请号为：CN201911405353.9；申请日为：2019-12-30，专利申请公开了DDR芯片测试方法具体包括：在检测到启动测试指令的情况下，对测试主板进行上电操作，测试主板上设置有多个测试位；同时对多个DDR芯片进行开机测试，得到第一测试结果并向控制终端发送第一反馈信号；接收控制终端返回的继续测试指令，对目标DDR芯片进行数据读写测试，得到第二测试结果；根据第二测试结果生成第二反馈信号并发送给控制终端。例如专利名称为：一种DDR4多功能测试装置。专利申请号为：CN201621407152.4，专利申请日为：2016-12-21；专利申请公开了一种DDR4多功能测试装置，其包括有：机箱、测试模块和风机和PC机，机箱上安装有测试模块，风机安装在机箱的两侧，PC机通过连杆安装在机箱的后上方，PC机与测试模块连接；测试模块包括：插拔装置、转换卡、测试主板，转换卡的一面上设置有安装测试内存的固定装置，转换卡安装在插拔装置下方，测试主板侧面上方设置有插槽，转换卡通过插槽活动连接在测试主板上。对于现有技术的DDR芯片测试，价格昂贵，操作复杂、功能单一、不可编程，且不支持灵活扩展芯片的并行测试数量。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的DDR测试，一般采用大型ATE测试设备，其价格昂贵、操作复杂、功能单一、不可编程，且不支持灵活扩展并行测试数量的缺点，提供了一种DDR芯片测试装置和方法。为了解决上述技术问题，本专利技术通过下述技术方案得以解决：一种DDR芯片测试装置，其包括通讯单元、主控单元和至少一个DDR芯片测试单元；DDR芯片测试单元通过网络与通讯单元连接，通讯单元通过网络与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。通过将主控单元设置为图形化可编程客户端单元，在进行DDR芯片测试的时候，整个测试及开发过程简单且直观；对于测试人员的技能要求低，并可以缩短测试编程时间。作为优选，图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单元、测试状态单元和测试记录单元；资源管理单元，用于自动识别和管理DDR芯片测试单元的状态以及对应的测试芯片的数量；测试编程单元用于图形化编写DDR芯片的测试程序；测试状态单元用于加载测试程序，启动测试程序，监测DDR芯片测试实时状态；测试记录单元用于记录、统计、分析芯片测试相关数据。作为优选，DDR芯片测试单元包括DDR测试主板和DDR芯片承载板；DDR测试主板与DDR芯片承载板通过板卡连接器连接。直接通过板卡连接器连接测试主板和DDR芯片承载板，其操作方便，能够进一步节省测试时间。作为优选，DDR测试主板包括网络接口、FPGA模块和板卡连接器；FPGA模块通过板卡连接器接收DDR芯片承载板的信号，对接收的信号进行处理，处理后的信号通过网络接口传送至主控单元。作为优选，FPGA模块包含网络通信模块、DDR芯片测试控制模块和DDR接口控制模块；DDR接口控制模块发送DDR访问命令，并接收DDR芯片反馈信号；FPGA模块根据用户编程的测试指令生成DDR芯片测试所需的DDR访问指令同时接收芯片的反馈信号并通过DDR芯片测试控制模块进行处理，处理结果通过网络通信模块传送至主控单元。作为优选，FPGA模块还包括数据校验单元和错误信息存储单元，数据校验单元接收DDR芯片承载板上芯片返回的数据，并与预期数据进行比较判断；将校验错误的信息传送至错误信息存储单元，错误信息存储单元对接收的信息进行存储。作为优选，通讯单元为网络交换机。采用网络交换机进行网络部署，在进行测试过程中能够灵活扩展测试单元数量，从而灵活扩展芯片的并行测试数量。一种DDR芯片测试方法，DDR芯片测试单元的识别，主控单元自动检索识别DDR芯片测试单元的信息；图形测试程序的编写，主控单元通过测试编程单元对识别后的DDR芯片测试单元进行图形测试程序的编写；FPGA指令文件的生成，主控单元通过测试编程单元对图形测试程序进行编译从而生成FPGA指令文件；芯片的测试，DDR芯片测试单元的DDR测试主板通过执行FPGA指令文件对芯片进行测试。作为优选，FPGA指令文件的执行过程其包括，步骤1，读取测试指令，并判断测试指令是否结束，结束则完成整个测试；否则执行步骤2；步骤2，解析指令，并设置测试次数；步骤3，设置地址生成单元所需的初始地址和数据生成单元所需的初始数据；步骤4，通过测试单元生成数据生成单元和地址生成单元；数据生成单元和地址生产单元用来生成DDR写指令所需的地址和写数据，及DDR读指令所需的读地址以及预期数据；步骤5，通过校验单元判断读指令读回的数据和写指令写入的数据是否一致，当读写指令的数据不一致时，则通过错误信息存储单元记录错误信息；错误信息包括错误地址、错误数据、预期数据、错误芯片位置编号等；当读写指令的数据一致时，则执行步骤6；步骤6，指令的地址空间进行判断，判断其是否为最后一个地址空间，当为最后一个地址空间时，则执行步骤7；否则返回继续执行步骤4和步骤5；步骤7，测试次数进行判断；测试次数为减法计数器，当测试次数为1时，则该行测试指令结束，返回步骤1读取新一行测试指令；否则测试次数计数器减1，返回执行步骤4到步骤6进行新一轮测试。作为优选，测试指令包括测试数据类型参数、测试地址类型参数、测试空间大小参数和测试次数参数。作为优选，实时监测，主控单元接收DDR芯片测试单元的测试结果，并通过测试状态单元实时监测显示测试芯片的进程和状态；测试报告的查看，测试记录单元查看和分析芯片测试的统计数据和详细测试报告。本专利技术由于采用了以上技术方案，具有显著的技术效果：本专利技术通过将主控单元设置为图形化可编程客户端单元，其在进行DDR芯片测试的时候，整个测试及开发过程简单且直观；对测试人员的技能要求低，并缩短测试编程时间。本专利技术通过采用网络交换机进行网络部署，在进行测试过程中能够灵活扩展测试单元数量，从而灵活扩展芯片的并行测试数量。附图说明图1是本专利技术的结构图。图2是本专利技术的测试单元示意图。图3是本专利技术的测试主板示意图。图4是本专利技术的芯片承载板正面示意图。图5是本专利技术的芯片承载板背面示意图。图6是本专利技术的测试单元系统控制图。图7是本专利技术的资源管理单元界面图。图8是本专利技术的测试编程单元界面图。图9是本专利技术的测试状态单元界面图。图10是本专利技术的测试记录单元界面图。图11是本专利技术的编译FPGA指令文件的流程图。图12是本专利技术的指令文件输出流程图。图13是本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DDR芯片测试装置，其特征在于，包括通讯单元、主控单元和至少一个DDR芯片测试单元；DDR芯片测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。/n

【技术特征摘要】
1.一种DDR芯片测试装置，其特征在于，包括通讯单元、主控单元和至少一个DDR芯片测试单元；DDR芯片测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。


2.根据权利要求1所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单元、测试状态单元和测试记录单元；资源管理单元，用于自动识别和管理DDR芯片测试单元的状态和DDR芯片的数量；
测试编程单元用于图形化编写DDR芯片测试单元的测试程序；
测试状态单元用于加载测试程序，启动测试程序并监测DDR芯片测试实时状态；测试记录单元用于记录、统计、分析DDR芯片测试单元的相关数据。


3.根据权利要求1所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，DDR芯片测试单元包括DDR测试主板和DDR芯片承载板；DDR测试主板与DDR芯片承载板连接。


4.根据权利要求2所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，DDR测试主板包括网络接口、FPGA模块和板卡连接器；FPGA模块通过板卡连接器接收DDR芯片承载板的信号，对接收的信号进行处理，通过网络接口传送至主控单元。


5.根据权利要求3所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，FPGA模块包含网络通信模块、DDR芯片测试控制模块和DDR接口控制模块；DDR接口控制模块发送DDR访问命令并接收DDR芯片反馈信号；FPGA模块生成DDR芯片测试单元所需的DDR访问指令同时接收芯片的反馈信号，并通过DDR芯片测试控制模块进行处理，处理结果通过网络通信模块传送至主控单元。


6.根据权利要求3所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，FPGA模块还包括数据校验单元和错误信息存储单元，数据校验单元接收DDR芯片承载板上返回的数据，并与预期数据进行比较判断；将校验错误的信息传送至错误信息存储单元，错误信息存储单元对接收的信息进行存储。


7.根据权利要求1所述的一种DD...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬刚，陈永，
申请(专利权)人：杭州加速科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33