一种DDR芯片测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片测试技术，公开了一种DDR芯片测试装置和方法，其包括通讯单元、主控单元和至少一个测试单元；测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单元、测试状态单元和测试记录单元；本发明专利技术通过将主控单元设置为图形化可编程客户端单元，其在进行DDR芯片测试的时候，整个测试及开发过程简单且直观；对于测试人员的技能要求低，同时可以缩短测试编程时间；采用网络交换机进行网络部署，在进行测试过程中能够灵活扩展测试单元数量，从而灵活扩展芯片的并行测试数量。

【技术实现步骤摘要】
一种DDR芯片测试装置和方法
本专利技术涉及芯片测试技术，公开了一种DDR芯片测试装置和方法。
技术介绍
现有技术针对DDR芯片的生产制造产业链中的封装后测试环节(FT测试)，一般采用大型ATE测试设备；或进行定制化DDR功能测试装置。其成本高，且操作复杂。例如专利名称为：一种DDR芯片测试方法和装置，专利申请号为：CN201911405353.9；申请日为：2019-12-30，专利申请公开了DDR芯片测试方法具体包括：在检测到启动测试指令的情况下，对测试主板进行上电操作，测试主板上设置有多个测试位；同时对多个DDR芯片进行开机测试，得到第一测试结果并向控制终端发送第一反馈信号；接收控制终端返回的继续测试指令，对目标DDR芯片进行数据读写测试，得到第二测试结果；根据第二测试结果生成第二反馈信号并发送给控制终端。例如专利名称为：一种DDR4多功能测试装置。专利申请号为：CN201621407152.4，专利申请日为：2016-12-21；专利申请公开了一种DDR4多功能测试装置，其包括有：机箱、测试模块和风机和PC机，机箱上安装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DDR芯片测试装置，其特征在于，包括通讯单元、主控单元和至少一个DDR芯片测试单元；DDR芯片测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。/n

【技术特征摘要】
1.一种DDR芯片测试装置，其特征在于，包括通讯单元、主控单元和至少一个DDR芯片测试单元；DDR芯片测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。


2.根据权利要求1所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单元、测试状态单元和测试记录单元；资源管理单元，用于自动识别和管理DDR芯片测试单元的状态和DDR芯片的数量；
测试编程单元用于图形化编写DDR芯片测试单元的测试程序；
测试状态单元用于加载测试程序，启动测试程序并监测DDR芯片测试实时状态；测试记录单元用于记录、统计、分析DDR芯片测试单元的相关数据。


3.根据权利要求1所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，DDR芯片测试单元包括DDR测试主板和DDR芯片承载板；DDR测试主板与DDR芯片承载板连接。


4.根据权利要求2所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，DDR测试主板包括网络接口、FPGA模块和板卡连接器；FPGA模块通过板卡连接器接收DDR芯片承载板的信号，对接收的信号进行处理，通过网络接口传送至主控单元。


5.根据权利要求3所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，FPGA模块包含网络通信模块、DDR芯片测试控制模块和DDR接口控制模块；DDR接口控制模块发送DDR访问命令并接收DDR芯片反馈信号；FPGA模块生成DDR芯片测试单元所需的DDR访问指令同时接收芯片的反馈信号，并通过DDR芯片测试控制模块进行处理，处理结果通过网络通信模块传送至主控单元。


6.根据权利要求3所述的一种DDR芯片测试装置，其特征在于，FPGA模块还包括数据校验单元和错误信息存储单元，数据校验单元接收DDR芯片承载板上返回的数据，并与预期数据进行比较判断；将校验错误的信息传送至错误信息存储单元，错误信息存储单元对接收的信息进行存储。


7.根据权利要求1所述的一种DD...

【专利技术属性】
技术研发人员：邬刚，陈永，
申请(专利权)人：杭州加速科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33