温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及芯片测试技术，公开了一种DDR芯片测试装置和方法，其包括通讯单元、主控单元和至少一个测试单元；测试单元与通讯单元连接，通讯单元与主控单元连接；主控单元为图形化可编程客户端单元。图形化可编程客户端单元包括资源管理单元、测试编程单元、...
该专利属于杭州加速科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州加速科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。