一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法技术

本发明专利技术属于半导体测试领域，尤其是一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法，针对现有的老化测试设备在对半导体存储产品进行测试的过程中，不便于对测试基板进行固定定位，从而导致测试基板易松动而降低了测试的准确性的问题，现提出如下方案，其包括箱体，所述箱体的底部固定安装有四个固定脚，箱体的一侧铰接有箱门，箱门上固定安装有把手，箱体的顶部内壁固定安装有加热片，箱体的顶部固定安装有电源，箱体的两侧内壁均固定安装有固定条，本发明专利技术能够在对半导体存储产品进行测试的过程中，便于对测试基板进行固定定位，从而可以防止测试基板松动而降低了测试的准确性，结构简单，使用方便。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法
本专利技术涉及半导体测试
，尤其涉及一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法。
技术介绍
为了达到半导体芯片的合格率，几乎所有半导体芯片在出厂前都要进行老化测试。老化测试是通过半导体测试板对待测半导体芯片提供必要的系统信号，模拟半导体芯片的工作状态，在高温的情况或其它情况下加速半导体芯片的电气故障，在一段时间内获取半导体芯片的故障率，让半导体芯片在给定的负荷状态下工作而使其缺陷在较短的时间内出现，从而得到半导体芯片在生命周期大致的故障率，避免在使用早期发生故障。现有技术中，半导体存储产品在老化测试的过程中，不便于对测试基板进行固定定位，从而导致测试基板易松动而降低了测试的准确性，为此我们提出了一种半导体存储产品的老化测试设备及其方法用于解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是为了解决现有技术中半导体存储产品在老化测试的过程中，不便于对测试基板进行固定定位，从而导致测试基板易松动而降低了测试的准确性的缺点，而提出的一种半导体存储产品的老化测试设备。为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：一种半导体存储产品的老化测试设备，包括箱体，所述箱体的底部固定安装有四个固定脚，箱体的一侧铰接有箱门，箱门上固定安装有把手，箱体的顶部内壁固定安装有加热片，箱体的顶部固定安装有电源，箱体的两侧内壁均固定安装有固定条，两个固定条的一侧均开设有第一滑槽，两个第一滑槽内滑动安装有半导体测试基板，半导体测试基板的一侧固定安装有插头，壳体的一侧内壁固定安装有插座，插头与插座相卡装，箱体的一侧开设有安装孔，安装孔内固定安装有散热风扇，安装孔的顶部内壁与底部内壁均开设有第二滑槽，两个第二滑槽内均滑动安装有密封板，密封板的底部与第二滑槽的底部内壁均开设有安装槽，两个安装槽内设置有串联机构，箱体内开设有对称的两个空槽，两个空槽内均滑动安装有齿条。优选的，所述串联机构包括第一导电块、第二导电块和两个第一弹簧，第一导电块和第二导电块的外侧分别与两个安装槽的内壁滑动连接，两个第一弹簧的一端分别与第一导电块和第二导电块的外侧固定连接，两个第一弹簧的另一端分别与两个安装槽的内壁固定连接，第一导电块、电源、散热风扇和第二导电块通过导线串联。优选的，两个第二滑槽的内壁均开设有第一通孔，两个第一通孔分别与两个空槽相通，两个密封板上均开设有螺纹槽，两个螺纹槽内均螺纹安装有螺纹杆，两个螺纹杆分别位于两个空槽内的一端均固定安装有齿轮，两个齿轮分别与两个齿条啮合。优选的，两个空槽的一侧内壁均开设有第二通孔，两个第二通孔内均滑动安装有连接杆，两个连接杆的一端分别与两个齿条的一端固定连接，两个连接杆上均套设有第二弹簧，第二弹簧的两端分别与空槽的一侧内壁和齿条的一端固定连接。优选的，两个固定条的顶部均开设有滑孔，两个滑孔内均滑动安装有插销，半导体测试基板的顶部开设有对称的两个卡槽，两个插销分别与两个卡槽相配合，两个插销上均套设有第三弹簧，第三弹簧的两端分别与插销的外侧的固定条的顶部固定连接。优选的，两个第一滑槽内均滑动安装有滑块，箱体的一侧内壁开设有对称的两个第三滑槽，两个滑块的外侧分别与两个第三滑槽的内壁滑动连接，两个滑块的外侧均固定连接有第四弹簧，两个第四弹簧的一端分别与两个第三滑槽的内壁固定连接。优选的，两个第二滑槽的内壁均固定安装有轴承，两个轴承分别与两个螺纹杆的外侧固定连接。本专利技术还提出了一种半导体存储产品的老化测试方法，包括以下步骤：S1：首先将半导体存储产品安装在半导体测试基板的顶部，然后推动半导体测试基板水平移动，两个插销受到半导体测试基板的挤压竖直向上移动，当半导体测试基板移动至一定位置时，插头与插座相卡装，同时两个插销分别通过两个第三弹簧产生的形变力竖直向下移动，通过两个插销分别与两个卡槽相配合的设置，从而两个插销可以对半导体测试基板进行固定定位，防止半导体测试基板松动而降低测试的准确性；S2：然后关闭箱门，箱门挤压两个连接杆水平移动，两个连接杆分别带动两个齿条水平移动，两个齿条分别带动两个齿轮转动，两个齿轮分别带动两个螺纹杆转动，两个螺纹杆分别带动两个密封板相互靠近，进而两个密封板可以关闭安装孔，开启加热片，半导体测试基板进行测试，从而可以在一段时间内获取半导体芯片的故障率；S3：当测试完成时，可以通过开启箱门，进而两个第二弹簧可以通过形变力分别带动两个齿条复位，两个齿条分别带动两个齿轮转动，两个齿轮分别带动两个螺纹杆转动，两个螺纹杆分别带动两个密封板相互远离，进而两个密封板可以开启安装孔，同时当密封板移动至一定位置时，第一导电块与第二导电块接触，进而可以开启散热风扇，从而散热风扇可以对箱体内部进行快速散热冷却；S4：当箱体内部温度下降到一定值时，可以通过拉动两个插销竖直向上移动，进而两个插销分别与两个卡槽分离，通过两个插销分别与两个卡槽相配合的设置，从而两个插销可以解除对半导体测试基板的固定定位，同时两个滑块分别通过两个第四弹簧产生的形变力水平移动，两个滑块带动半导体测试基板水平移动，进而两个滑块可以弹出半导体测试基板，从而可以方便取出半导体测试基板和测试的半导体存储产品。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：1、本方案通过设置了两个连接杆、两个第二弹簧、两个齿条、两个齿轮和两个螺纹杆，当关闭箱门时，两个连接杆可以分别带动两个齿条水平移动，两个齿条分别带动两个齿轮转动，两个齿轮分别带动两个螺纹杆转动，两个螺纹杆分别带动两个密封板相互靠近，从而两个密封板可以关闭安装孔。2、本方案通过设置了第一导电块、第二导电块、电源和散热风扇，当第一导电块与第二导电块相接触时，可以开启散热风扇，扇热风扇可以对半导体存储产品进行快冷却。3、本方案通过设置了两个插销、两个第三弹簧和两个卡槽，当半导体测试基板水平移动至一定位置时，两个插销分别通过两个第三弹簧的形变力竖直向下移动，通过两个插销分别与两个卡槽相配合的设置，从而两个插销可以对半导体测试基板进行固定定位。本专利技术能够在对半导体存储产品进行测试的过程中，便于对测试基板进行固定定位，从而可以防止测试基板松动而降低了测试的准确性，结构简单，使用方便。附图说明图1为本专利技术提出的一种半导体存储产品的老化测试设备的结构示意图；图2为本专利技术提出的一种半导体存储产品的老化测试设备侧视的结构示意图；图3为本专利技术提出的一种半导体存储产品的老化测试设备俯视的结构示意图；图4为本专利技术提出的一种半导体存储产品的老化测试设备图1中A部分放大的结构示意图；图5为本专利技术提出的一种半导体存储产品的老化测试设备图2中B部分放大的结构示意图。图中：1箱体、2固定脚、3箱门、4把手、5加热片、6电源、7固定条、8第一滑槽、9半导体测试基板、10插销、11第三弹簧、12插座、13插头、14滑块、15第四弹簧、16安装孔、17散热风扇、18第二滑槽、19密封板、20空槽、21螺纹杆、22齿条、23连接杆、24第二弹簧、2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半导体存储产品的老化测试设备，包括箱体(1)，其特征在于，所述箱体(1)的底部固定安装有四个固定脚(2)，箱体(1)的一侧铰接有箱门(3)，箱门(3)上固定安装有把手(4)，箱体(1)的顶部内壁固定安装有加热片(5)，箱体(1)的顶部固定安装有电源(6)，箱体(1)的两侧内壁均固定安装有固定条(7)，两个固定条(7)的一侧均开设有第一滑槽(8)，两个第一滑槽(8)内滑动安装有半导体测试基板(9)，半导体测试基板(9)的一侧固定安装有插头(13)，壳体(1)的一侧内壁固定安装有插座(12)，插头(13)与插座(12)相卡装，箱体(1)的一侧开设有安装孔(16)，安装孔(16)内固定安装有散热风扇(17)，安装孔(16)的顶部内壁与底部内壁均开设有第二滑槽(18)，两个第二滑槽(18)内均滑动安装有密封板(19)，密封板(19)的底部与第二滑槽(18)的底部内壁均开设有安装槽，两个安装槽内设置有串联机构，箱体(1)内开设有对称的两个空槽(20)，两个空槽(20)内均滑动安装有齿条(22)。/n

【技术特征摘要】
1.一种半导体存储产品的老化测试设备，包括箱体(1)，其特征在于，所述箱体(1)的底部固定安装有四个固定脚(2)，箱体(1)的一侧铰接有箱门(3)，箱门(3)上固定安装有把手(4)，箱体(1)的顶部内壁固定安装有加热片(5)，箱体(1)的顶部固定安装有电源(6)，箱体(1)的两侧内壁均固定安装有固定条(7)，两个固定条(7)的一侧均开设有第一滑槽(8)，两个第一滑槽(8)内滑动安装有半导体测试基板(9)，半导体测试基板(9)的一侧固定安装有插头(13)，壳体(1)的一侧内壁固定安装有插座(12)，插头(13)与插座(12)相卡装，箱体(1)的一侧开设有安装孔(16)，安装孔(16)内固定安装有散热风扇(17)，安装孔(16)的顶部内壁与底部内壁均开设有第二滑槽(18)，两个第二滑槽(18)内均滑动安装有密封板(19)，密封板(19)的底部与第二滑槽(18)的底部内壁均开设有安装槽，两个安装槽内设置有串联机构，箱体(1)内开设有对称的两个空槽(20)，两个空槽(20)内均滑动安装有齿条(22)。


2.根据权利要求1所述的一种半导体存储产品的老化测试设备，其特征在于，所述串联机构包括第一导电块(25)、第二导电块(26)和两个第一弹簧(27)，第一导电块(25)和第二导电块(26)的外侧分别与两个安装槽的内壁滑动连接，两个第一弹簧(27)的一端分别与第一导电块(25)和第二导电块(26)的外侧固定连接，两个第一弹簧(27)的另一端分别与两个安装槽的内壁固定连接，第一导电块(25)、电源(6)、散热风扇(17)和第二导电块(26)通过导线串联。


3.根据权利要求1所述的一种半导体存储产品的老化测试设备，其特征在于，两个第二滑槽(18)的内壁均开设有第一通孔，两个第一通孔分别与两个空槽(20)相通，两个密封板(19)上均开设有螺纹槽，两个螺纹槽内均螺纹安装有螺纹杆(21)，两个螺纹杆(21)分别位于两个空槽(20)内的一端均固定安装有齿轮(28)，两个齿轮(28)分别与两个齿条(22)啮合。


4.根据权利要求1所述的一种半导体存储产品的老化测试设备，其特征在于，两个空槽(20)的一侧内壁均开设有第二通孔，两个第二通孔内均滑动安装有连接杆(23)，两个连接杆(23)的一端分别与两个齿条(22)的一端固定连接，两个连接杆(23)上均套设有第二弹簧(24)，第二弹簧(24)的两端分别与空槽(20)的一侧内壁和齿条(22)的一端固定连接。


5.根据权利要求1所述的一种半导体存储产品的老化测试设备，其特征在于，两个固定条(7)的顶部均开设有滑孔，两个滑孔内均滑动安装有插销(10)，半导体测试基板(9)的顶部开设有对称的两个卡槽，两个插销(10)分别与两个卡槽相配合，两个插销(10)上均套设有第三弹簧(11)，第三弹簧(11)的两端分别与插销(10)的外侧的固定条(7)的顶部固定连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：李庭育，庄健民，齐元辅，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32