一个磁场传感器利用四个单个磁阻自旋阀元件电连接于一个桥电路中。这些自旋阀元件以单板印刷术形成于同一片基上。在片基上形成一个电导体固定层。在制作磁场传感器过程中通过该固定导体加一电流以使两个被定住层的磁化强度方向固定成与另两个被定住层磁化...

一种测试沿一在一上板和一下板间沿纵向传送的柔性基底延伸的电路迹线的装置。上板包括许多上板隙和上板条。下板包括许多下板条和下板隙。在基底上、下分别移动上、下测试探针。当探针通过板隙与测试点接触时，沿基底两侧板隙延伸的板条提供了探针接触的支...

一种两面检测高密度印刷电路板的系统包括一个环绕由电路板载体保持在测试位置的电路板延伸的开放框架。该框架包括两个在测试位置的电路之上并在其两端延伸的平行导轨构件。该框架还包括另外两个在电路板之下并在其两端延伸的延伸的平行导轨构件。下、下导...

一种包括网络资源服务器或者由多个计算机系统（图２中的１００Ａ－Ｄ）构成的服务器群以及网络处理器（图２中的１０）的系统以及相关方法，其中该网络处理器在所述服务器群的支持下以与所述网络的数据流速率大致相同的速率传输与一外部网络（图１的１７０...

一种磁致电阻传感器偏磁技术，它对一种产品提供一致的传感器偏磁。这种技术提供传感器恒定功率耗散偏磁、恒定传感器电流密度偏磁、恒定传感器偏磁电压、恒定传感器温升偏磁和传感器的恒定有效磁偏置。

一种用于确定布线结构的电迁移特性的方法，最好包括使用定义的测试结构（１００，２００）。该测试结构包括安排于半导体衬底（１０２）的主平面中的第一线路布线（１０４）和通过通路（１０８）与该第一线路相连的第二布线线路（１０４）。确定该第一线路...

本发明涉及有源矩阵板的检查设备和方法，以及有源矩阵有机发光二极管板的制造方法。该检查方法包括在衬底上形成薄膜晶体管阵列从而制造有源矩阵板的阵列工艺；对制造出的有源矩阵板进行性能测试的检查过程；以及在检查过程之后将有机发光二极管安装到有源...

一种直接测量磁电阻元件的磁致伸缩常数的方法，其特征在于以下步骤：　　　　提供基底，它承载着一个或多个磁电阻元件；　　　　把所述基底插入弯曲夹具中；　　　　施加平行于所述基底的ＤＣ磁场；　　　　施加交变磁场，它垂直于所述基底并且平行于所述...

本发明公开了一种用于监控多个半导体器件的方法和装置。至少提供一个２↑［ｎ］个半导体电路的阵列。时钟环形振荡器提供时钟信号。该时钟信号驱动分频器和ｎ级二进制计数器。计数器级的输出驱动用于顺序寻址每个半导体电路的ｎ输入解码器。通过公共总线，...

一种用于ＩＤＤＱ电流测量的可热切换型电压总线，包括：　　　　全局电压总线（１０８）；　　　　静态电压总线（１１２），其独立于所述全局电压总线；　　　　至少一个电压岛（Ｖ１、Ｖ２、…、Ｖｎ）；以及　　　　用于在ＩＤＤＱ测试期间选择性地将每...

本发明提供一种用于识别模拟电气系统中的信号的装置、方法和计算机程序产品。控制信号识别电路的时序的ＩＤ选择信号包括递增计数并且标识相应信号的顺序数字。要被识别的信号位于一组输入／输出（Ｉ／Ｏ）引脚上。一个多路复用器（第一）响应ＩＤ选择信号...

公开了一种制造后的集成电路器件的晶片／探针测试方法和系统。以测试初始的一组器件（例如集成电路芯片），产生未能通过该测试的初始的一组不合格器件，开始本发明。依据不合格的类型识别初始不合格组中的器件。随后，本发明重新测试初始不合格组中的器件...

在第一方面中，提供了一种测试或分析集成电路（ＩＣ）的方法。该方法包括以下步骤：（１）根据描述所述集成电路的网表来生成与所述集成电路的组件之间的相依性有关的信息；以及（２）通过以下步骤中的至少一个步骤来简化所生成的信息：（ａ）合并与具有公...

公开了波形测量装置及其方法。在电信号波形的测量中实现多种特征的测量，包括关于激振的峰到峰振幅。波形测量装置包括：数字滤波器（１０），用于从输入信号中去除大振幅变化分量并输出具有其中剩余的小振幅噪声分量的结果信号；窗口生成部件（２０），用...

本发明公开了一种用于嵌入式存储器阵列混合内置自测（ＢＩＳＴ）体系结构，该体系结构将ＢＩＳＴ功能性分割为远程低速可执行指令和本地高速可执行指令。独立的ＢＩＳＴ逻辑控制器（１１０）以低频率工作，并利用ＢＩＳＴ指令集与多个嵌入式存储器阵列（１...

提供一种用于集成电路（ＩＣ）的紧凑型电阻式热传感器，其中不同的传感器组件被放置在该ＩＣ的不同层上。在有利的实施方式中，将多个第一线性导电构件以相互间平行间隔开的关系定位于第一ＩＣ层中。类似地，将多个第二线性导电构件以相互间平行间隔开的关...

一种用于提供多内核集成电路芯片的设备和方法，由于使用单电压层，其减少了芯片的成本同时优化了内核的性能。说明性实施例的设备和方法利用优化芯片上的所有内核以在单电压下以峰值性能运行的动态老化技术。使用在整个芯片上提供统一功率和性能的定制老化...

本发明涉及实现高速测试电路的扫描链和方法。其中，包括多个扫描单元的边界扫描电路，每个扫描单元包含两个用于存储相应的测试值的扫描寄存器。在片上和片间测试期间，其中一个扫描寄存器响应于功能时钟信号，使得测试单元生成具有在该功能时钟信号的速度...

公开了一种用于带有扫描通道选择的高级逻辑内建自测试的系统和方法。ＬＢＩＳＴ控制器通过顺序或者交织加载技术将扫描模式加载进设备的扫描通道，以最小化瞬时功率需求。在交织加载期间，ＬＢＩＳＴ控制器将扫描比特加载进第一扫描链，然后加载进第二扫描...

本发明描述了在ＬＳＳＤ系统中对测试时钟进行同步的方法以实现时钟信号近乎同时到达所有ＬＳＳＤ寄存器的输入。该方法依赖于管道敷设锁存器以分配测试时钟，其中所有的管道锁存器均由系统时钟同步。该增强改进了测试时钟切换的频率并通过降低测试时间而改...