开架桥式检测系统技术方案

一种两面检测高密度印刷电路板的系统包括一个环绕由电路板载体保持在测试位置的电路板延伸的开放框架。该框架包括两个在测试位置的电路之上并在其两端延伸的平行导轨构件。该框架还包括另外两个在电路板之下并在其两端延伸的延伸的平行导轨构件。下、下导轨构件相互垂直地延伸，并在框架的角上借助于压紧螺栓组合件固定在一起。两个桥式构架运动在上导轨构件间的第一方向内，而另两个桥式构架运动在下导轨构件之间与第一方向垂直的方向内。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测电子电路板的测试设备，特别涉及一种同时检测小间距离电子电路板两面的测试设备。用于小间距电子电路板，如多忠片组件和多层陶瓷基片的测试操作包括使一个或一个以上探头与板上的个别电路实际接解。这一般采用带有多个相互固定的同时啮盒的接头触点的一簇探测器，或采用由图像数据以数据驱动方式移动一个或一个以上的独立探头的一种串行探测器来进行。一簇探测器灵活性小，并要求投入大量资金为每种类型产品制作专用的探头。虽然，串行探测器可把探头放在适当位置，易于应付产品的变化，但这种设备用于高密度的电路板要求额外的时间。由于在高密度板中必须检测大量的电路，探头则必须在各测试点间高速移动。检测应尽可能快地进行，以尽量减少应付生产线的生产所要求的测试人员数量。高速检测对检测系统有特殊要求。因为待检测的特征尺寸很小，所以对检测系统的精度要求很高。如果系统结构由于为移动探测器的平台必须施加的加速力而过分抖动的话，那么系统的精度就受到影响。还有，如果在测试过程中探头顶端连续抖动，被测产品可能受到损伤。因为这种类型的测试仪器的工作速度和使用率都高，所以快速而有效地实施维护工作的效率对于减少测试过程的工作成本和增加测试仪器的有效利用率都是很重要的因素。必须进行的这类维护的重要实例是探头顶端的更换。由于复杂的电路一般沿小间隔电子电路板的两百布置，同时快速而精确探测板的两面的能力越来越重要。虽然逐渐可从市上买到能检测电路板两面的系统，但对能两面检测待测电路板的检测系统有某种特殊要求，即提供串行探测器的灵活性，又易于装卸待测电路板，同时对检测系统提供实际接近途径以用于维护功能。在专利领域中可发现一些有关检测高密度电路的测试设备的例子。例如山津的美国专利US—4,786,867，山口等人的US—4,934,064，以及大野等人的US—5,091,692描述了使探头相对于高密度电路表面定位的方法。然而，这些方法适合在单个的面朝上的测试电路板的表面的检测工作。为探头仅工作在电路板的一面上时，一般只需从上面接近，采用实体结构，如设置在探头和电路板下面的台子。再有，所需要的是允许探头在电路两面工作的结构和机构，即能提供便于装上待测电路，又便于行使为保持探测器正常运行所需的维护职能。在与坐标测量机构相关的专利领域中可发现，为探头的高精度、小抖动移动以及为电学探测运动中的探头位置所提供的设备，这种设备可用于确定探头相对于待测的工作表面的位置。例如在Helmsr的美国专利US—4,958,437中表明在坐标测量机构中使用了桥式支撑构架。装设一个进行机械测量的探头，可在实体台表面上方的三个方向上运行。探头装配在可竖直滑动的，从承重台向下延伸的Z导轨的端部，而它本身是滑动装配，以沿桥式构架运行。桥式构架本射是通过使用空气轴承装配的，以便在延伸在实体台侧面的导轨上沿与承重台在桥式构架上的运动垂直的方向上运行。由固定在构架一侧的驱动机构使桥式构架移动。减振器最好同驱动机构所联结的点隔开，它包括通过回弹阻力低的高量吸收体衬垫悬挂在桥式构架上的坚实物质。这类坐标测量机构被用于制作放在或夹在一般是实心花岗石块的台上部件的各种机械特征的直角坐标测量。无须达到被温暖部件的下侧；也不准备这样做。坐标测量机构的应用类似于电路探测器的应用，要求精确度高，而实际的电路探测器的工作速度必须比坐标测量机构的高得多。根据本专利技术一种方案，提供在测试中使检测装置沿电路板两面移动的设备，该设备包括一支撑构架、第一、第二、第三和第四导轨构件、第一和第二桥式构架、桥驱动机构以及在第一和第桥式构架上各装配一个探头。支撑机件有一个电路板接收槽和电路板保持机构，使电路板保持在电路板接收槽内，让电路板第一面面朝第一方向，让电路板第二面即第一面的对面面朝第二方向。第一导轨构件被固定在支撑构架上，从支撑构架以第一方向延伸，铺展在电路板接收槽的第一侧。第二导轨构件被固定在支撑构架上，从支撑构架以第一方向延伸，与第一导轨平行铺展在电路板接收槽的与该槽第一侧相对的另一侧。第三导轨构件被固定在支撑构架上，从支撑构架以第二方向延伸，铺展在电路板接收槽第二侧。第四导轨构件被固定在支撑构架上，从支撑构架以第二方向延伸，与第三导轨构件平行铺展。第一桥式构架可在第一和第二导轨构件间，并沿第一、第二导轨构件移动。第二桥式构架可在第三和第四导轨构件间并沿第三、第四导轨构件移动。桥驱动机构使第一和第二桥式构架运动。每个探头向着和背着保持在电路板保持机构中的电路板运动。下面参照附图描述专利技术主题的一个优选实施方案附图说明图1是表示根据本专利技术组成的开架桥式检测系统主要部件的立体分解图；图2是图1检测系的单个桥式结构视图，特别表示从上方看到的下桥；图3是图2桥式结构一支承座的取自图2剖面线II—II的横截面纵剖图；图4是图1检测系统的探头组合件及相关的记录载体的立体等轴视图，特别示出从上方看到的下探头。图5是图1检测系统的正视图，以及图6是图1检测系统的平面图。设计本专利技术的开架桥式检测系统以满足高性能低抖动的需要，并在工作和检护期间提供容易的接近途径。桥式构型是这样选择的，使之可容纳大的产品尺寸而不会因悬梁支座弯曲而降低性能。参照图1，一个开架桥式检测系统10包括四个独立的桥式构架12，各自均起XY工作台作用。上桥构架12—1、12—2携带沿被测产品(未表示)的上表面使用的探头，而下桥构架12—3、12—4携带沿被测产品下表面使用的探头。框架14包括两个上花岗石横梁20—1、20—2以及两个下花岗石横梁20—3、20—4。一直线支承导轨22和一直线电动机磁体导槽24都固定在每个花岗石横梁20上。译码标尽26固定在上花岗石横梁20—1和下花岗石横梁20—3上。每个桥桥式构架12每端包括一个直线电动机线圈28，工作在对应的直线电动机磁体导槽24内，以及一对循环滚珠轴承30，与对应的直线支承导轨22啮合。每个桥式构架12至少一端还包括一个紧靠对应的译码标尺26所架设的译码读头32。在系统10的每个上、下位置中，X轴由花岗石横梁20延伸的方向限定，允许桥式构架12在其上运行。这就使系统上位置的X轴由横梁20—1、20—2限定，处于箭头32所指示的方向，而系统下位置的X轴由横梁20—3、20—4限定，处于箭头34所指示的方向。参照图2，在每个桥式构架20上，在伸到直线电动机磁体导槽42内的直线电动机线圈40的控制下，通过承重台36沿承重台导轨38的运动独立地驱动探头在Y方向上运动。磁体导槽42包括在每一侧各有一行永久磁体44使极性颠倒地排列在其端部。承重台36是铝热压镶嵌在近于方形的构形中的形状，以低摩擦循环轴承运行在导轨38上。承重台36在桥式构架20上的位置由固定在承重台36上的译码读头(未示出)跟踪，紧靠固定在桥式构架20上的译码标尺45运动。每个桥式构架20的中央部位43，例如可以由Anorad LW-10平台(Anorad Corporation of Hauppage，New York有售)组成，当对平台的各端施行改型时，可提供各种与整个桥构架20有关的机构，诸如直线电动机线圈28、循环滚珠轴承30及译码读头32。这样设置的直线电动机线圈40和磁体导槽42、电缆极限以及止动器作为平台的总体部件形成中央部分4本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使检测装置沿在测的电路板两面运动的设备，该设备包括： 一带有电路板接收槽的支撑构架； 使所说的电路板保持在所说的电路板接收槽内的电路板保持装置，使所说的电路板的第一面面朝第一方向，使所说的电路板的第二面面朝与所说的第一方向相反的第二方向； 一沿所说的电路板接收槽的第一侧铺展的第一导轨构件，被固定在所说的支撑构架上，并由此在所说的第一方向内延伸； 一沿所说的电路板接收槽的与所说的第一侧相对的一侧铺展的第二导轨构件，所说的第二导轨构件与所说的第一导轨构件平行延伸，被固定到所说的支撑构架上，并由此在所说的第一方向内延伸； 一沿所说的电路板接收槽的第二侧铺展的第三导轨构件，被固定在所说的支撑构架上，并由此在所说的第二方向内延伸； 一与所说的第三导轨构件平行铺展的第四导轨构件，被固定在所说的支撑构件上，并由此在所说的第二方向内延伸； 一可在所说的第一和第二导轨构件间并沿第一、第二导轨构件运动的第一桥式构架； 一可在所说的第三和第四导轨构件间并沿第三、第四导轨构件运动的第二桥式构架； 使所说的第一和第二桥式构架运动的桥驱动装置；以及 在每个所说的第一和第二桥式构架上各装配的一个探头，能向着和背着保持在所说的电路板保持装置内的电路板移动。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：小詹姆斯爱德华博耶特，杰安常洛，迈克尔瑟维戴奥，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]