用来测试内部电路的方法和装置制造方法及图纸

一种利用多用夹具降低工作时间和电子产品生产成本的测试内部电路的方法和装置，用控制部分中存贮的计算机辅助设计数据确定印刷电路板的测量指针，并当ＣＡＤ数据不合用时，用压力传感器检测印刷电路板的压力值可对印刷电路板的测量指针编程。生产使用多用夹具的电子产品所花费时间减少并通过提供一具有可测量各种模型印刷电路板的指针的测量部分的产品而改善了生产率，由于无需制造专用夹具节省专用夹具存贮空间而改善了空间应用。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及用来测试内部电路的方法和装置。更详细地说，本专利技术涉及使用多用夹具能够减少工作时间和电子产品的生产成本的测试内部电路的方法和装置。为了达到一执行该操作的装置的运转，一内部电路被用于连接若干部件。一印刷电路板包括有几个被集中在一小板上的电子元件。这些电子元件的最大布线是由一印刷方法来制造的。通常，为了使该板两面的尺寸小型化，单一图案的印刷电路板包括高密度的电子元件。因为电子设备趋向普及，所以曾经大量地制造具有单一图案的印刷电路板。一内部电路测试器用来对几个问题进行检测，例如检测一电子设备电路是否精确地被安装在印刷电路板上、在其上的电路是否被正确地印刷、以及该电子电路本身是否已老化。为了对上述问题进行测试，采用了适于每个印刷电路板的一专用夹具。因此，在测试一印刷电路板之后，工作人员必须用一新的印刷电路板来置换已测试的印刷电路板并且再设置一用来测试下一印刷电路板的新测试程序。下面将结合附图描述常规内部电路测试器10的结构和操作。附图说明图1示出了一常规内部电路测试器的结构。该常规内部电路测试器包括一控制部分11、一继电器部分12、一专用夹具13、一测量部分14、和一监视器15。借助于在其内存在的测量程序，通过顺序地驱动包括在测量部分14中的测量电路(未示出)和来自继电器部分12的相应的继电器，控制部分11将所反馈的测试值变换为数字值并将该数字值输出到测量部分14，以便在监视器15中显示该值。继电器部分12包括多个继电器，这些继电器以一对一的方式被连接到专用夹具13的测试器探针24和25。测量部分14读取一通过继电器部分12的电压，利用位于其内的一个模-数(A/D)转换器(未示出)将所读取的电压转换为一数字值，并将该数字值传送到控制部分11。测量部分14还接收来自控制部分11的一控制信号并将该接收的控制信号传送给一印刷电路板22(图2)的必要部分。测量部分14还用来控制一在其内安置的数-模(D/A)转换器，以便在控制部分11的控制下向一内部测量电路提供一必须的电压。监视器15用来显示控制部分11的程序。图2是用来表示在图1中所示的内部电路测试器10的一电路图。该常规内部电路测试器10用于检查由于电子元件21的不正确插入、反向插入或未插入而引起的具有电子元件21的印刷电路板22的效率，以及检查在焊接期间由于电子元件21的铜焊而引起的效力的下降。为了执行上述任务，测试器探针24和25被安装在接合区(或焊接区)23上，在该接合区接入被焊接的印刷电路板22的电子元件21。专用夹具13是一个测试探针24和25的聚集构成的位置。专用夹具13通过一导线连接到连接器26，并通过连接器26被连接到继电器部分12。安装在印刷电路板22上的电子元件21的测量效力的原理如下所述。首先，通过使用位于其内的测试程序，控制部分11顺序地驱动在测量部分14中所包括的一测量电路。因而，测量部分14将一为电子元件21的2.5伏参考电压的预定电压通过继电器部分12、连接器26和印刷电路板22加到电子元件21上。继电器部分12接通第一继电器121以将2.5伏电压加到电子元件21上。同时，继电器部分12还接通第二继电器122以便将通过电子元件21的电压反馈到测量部分14。然后，控制部分11根据通过电子元件21的电压降计算电子元件21的测量值，以便根据一允许的设置值来判断该电子元件21的质量优或劣。也就是，控制部分11用一具有正常值的优质制件的参考值与电子元件21的测量值进行比较，并根据该测量值是低于还是高于该参考值来在监视器15上显示电子元件质量的优劣。当一生产模型改变时，工作人员应将所使用的专用夹具13自印刷电路板22分离并插入一适用于下一模型的新的专用夹具。然后，工作人员根据专用夹具的变化以一优质板对于在控制部分11中所存贮的测试程序执行调试操作。当专用夹具和测试程序完全改变时，开始下面生产操作。图3概要地示出了在图1和图2中所示的专用夹具。常规专用夹具13包括有一本体31和若干测试器探针32，测量部分43测量安装有一电子元件21的印刷电路板22的一模型。该测量方法具有如下步骤。当测试器探针24和25与在印刷电路板22上的接合区23相接触时，测量部分14向电子元件21提供一参考电压，从测试器探针24和25提取反馈电压，并通过继电器部分12的第二继电器122接收该反馈电压。测量部分14利用在其内的模-数(A/D)变换器(未示出)将所接收的反馈电压变换成数字值并将该数字值传送到控制部分11。如上所表明的，一专用夹具仅仅可用于一已确定的电子模型。在生产过程中当该模型改变时，则制造和使用适用于被改变模型的印刷电路板的专用夹具。如前面所述，在该常规方法中，因为是利用一专用夹具来执行测试以便测试一印刷电路板是否老化，所以当生产模型变化时，工作人员必须按照该印刷电路板而制造一新的专用夹具，并通过在该内部电路测试器中装入该新的印刷电路板来替换所使用的印刷电路板。因此，在该常规方法中，当连接或断开导线时可能出现错误，过多的时间花费在用一新的专用夹具来置换所使用的专用夹具上，为了夹持各种专用夹具需要有一足够的极大的分离空间，如果存在有各种电子产品则需要一更大的空间，并且当一所制造的电子设备被售出时该测试器必须被废弃。因此，该常规测试器的一个缺点是由于大量的时间被浪费在频繁地置换专用夹具和改变测试程序上，因而使工作效率和生产率下降。另外，由于必须分别地制造专用夹具，所以生产成本增高。美国专利5,399,975(1995年3月21日授予Mark A.Lacing和RobertJ.Williams)可给出作为用来测试一内部电路的方法和装置的一个例子。美国第5,399,975号专利具有能够测试一集成电路器件和一该器件连接到的电路板之间的连接的电导率的结构。美国专利5,408,189(1995年4月18日授予Mark A.Swart CharlesJ.Johnson和David R.Van Loan)可给出作为用来测试一内部电路的方法和装置的另一个例子。美国专利5,408,189具有一能够在一测试夹具上准确地设置一印刷电路板以便该板上印刷的电路阵列的测试点图案与该夹具上相应的测试探针阵列精确地配准的结构。但是美国专利5,399,975和5,408,189还不能解决常规技术中大量时间被浪费在频繁地置换专用夹具和改变测试程序，从而使工作效率和生产率下降的缺点。进而，由于专用夹具必须分别地被制造，而使得生产成本增高。因此，本专利技术的第一个目的是提供一种能够减少制造电子产品花费的安装时间和该电子产品的生产成本的测试内部电路的方法。本专利技术的第二个目的是提供一种能够减少花费于制造电子产品的时间和减少该电子产品的生产成本的用来测试内部电路的装置。为了实现上述第一个目的，本专利技术提供了一种用来测试一内部电路的方法，该方法包括有步骤a)在一控制装置中存贮用于所有类型的电子元件的一优良制件的参考值和一设定的允许值；b)判断包括装在一印刷电路板中的电子元件的元件信息数据和元件位置数据的计算机辅助设计数据是否被存贮在该控制装置中；c)当在步骤b)中判断该计算机辅助设计数据是存贮在该控制装置中时，通过使用该计算机辅助设计数据的元件位置数据将一多用夹具的测试器探针设置在该电子本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用来测试内部电路的方法，所述方法包括有步骤：ａ）在一控制装置中存贮用于所有类型的电子元件的一优良制件的参考值和一设定的允许值；ｂ）判断包括装在一印刷电路板中的电子元件的元件信息数据和元件位置数据的计算机辅助设计数据是否被存贮在该 控制装置中；ｃ）当在步骤ｂ）中判断该计算机辅助设计数据是存贮在该控制装置中时，通过使用该计算机辅助设计数据的元件位置数据将一多用夹具的测试器探针设置在该电子元件中，以判断该印刷电路板的焊料指针和该多用夹具的测量指针相互交叉的点；ｄ） 当在步骤ｂ）中判断该计算机辅助设计数据并未存贮在控制装置中时，计算在该印刷电路板中的每一指针的压力，以便根据所检测的压力是相对高还是相对低来判断哪部分是该印刷电路板的焊料和哪部分是该电子元件的引线；ｅ）根据在步骤ｃ）中所判断的印刷电路板 的焊料指针和多用夹具的被测量指针相互交叉的点来存贮一第一测量指针数据，根据在步骤ｄ）中判断为印刷电路板的焊料的部分存贮一第二测量指针数据，和根据在步骤ｄ）中判断为电子元件的引线的部分存贮一第三测量指针数据；ｆ）装入存储在该控制装置中的第 一、第二和第三测量指针数据并测量带有安装在其内的电子元件的印刷电路板，以便获得测量结果；和ｇ）判断该印刷电路板的所有区域是否完全被测量，当该印刷电路板的所有区域还未完全被测量时，将该多用夹具移至该印刷电路板的下一区域，以返回所述步骤ｆ） ，而当印刷电路板的所有区域已完全被测量时，用在所述步骤ａ）中存贮在控制装置中的优良制件的参考值与在步骤ｆ）中所获得的测量结果相比较，以便确定该电子元件是否已老化。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：片道善，
申请(专利权)人：大宇电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]