本申请涉及光学检测设备领域，具体涉及一种AOI设备的装调方法、装置及电子设备。该AOI设备的测试方法包括基于第一标定板调试主镜头和主相机，直至主相机的成像效果满足第一预设标准，固定主镜头和主相机；基于第二标定板调试侧面成像模块，直至侧面...

本申请公开了一种光学测试板及成像调试方法，该光学测试板包括板体以及设置于板体上的若干第一测试部和若干第二测试部。板体具有标准零平面，标准零平面凸设有若干支撑部，第一测试部设置于支撑部，第一测试部背离标准零平面的一端设置有第一测试面，并且...

本申请公开电路板的检测系统，包括：主控设备、与主控设备通信连接的至少一检测设备，检测设备用于检测多种板卡的多个检测项，不同板卡对应的检测板式不同，主控设备用于通过指定通讯方式与检测设备进行数据交互，还用于在接收到板卡切换指令时，解析切换...

本技术公开一种整板装置及检测设备，属于检测技术的领域，其中，整板装置包括基座、升降座、吸附件、顶升件，以及驱动器。所述升降座可相对于所述基座移动设置，所述吸附件安装于所述升降座，所述顶升件安装于所述升降座，所述驱动器连接所述基座和所述升...

本技术公开一种光源机构及光学检测装置，属于光学设备的技术领域，光源机构包括支撑座、滑设于支撑座的滑动座、灯架、光源组件；灯架包括第一灯座、连接座、若干第二灯座；多个连接座与第一灯座共同围合光源通道，光源组件包括安装于第一灯座的第一灯板、...

本技术公开一种阻挡装置及板卡生产线，属于电子生产设备的技术领域，阻挡装置包括基座、具有枢接端和活动端的转动座、与所述转动座传动连接以用于驱动所述转动座转动的驱动器，以及具有连接端和阻挡端的阻挡座；所述转动座的所述枢接端转动式安装于所述基...

本申请公开一种成像系统调节装置，包括：底板、以及沿所述底板的长度方向依次间隔设置的准直仪模组、光学测试模组和成像模组，所述光学测试模组用于辅助校正所述成像模组的成像清晰度，所述成像模组包括镜头和相机，通过所述准直仪模组能够实现所述镜头的...

本发明公开一种AOI成像系统、AOI检测装置以及AOI检测设备，包括：投影模块，用于生成结构光条纹图像；2D成像模块，包括主镜头，垂直于待测物设置，接收待测物因被外部光源照亮而反射的光束，并将反射的光束投射至所述2D成像模块，采集待测物...

本申请公开了一种板卡的检测系统、检测方法、电子设备。该检测系统包括：运载机构，用于运输板卡；检测器，设置在运载机构前侧，用于对板卡进行检测，以获得检测结果，及用于获取板卡通过检测器的第一时间；扫码器，设置在运载机构上方，用于对板卡进行扫...

本申请公开一种光学检测设备，提包括：输送装置，用于输送待测件；检测装置，包括设置于输送装置上方的第一检测装置以及设置于输送装置下方的第二检测装置，第二检测装置包括：镜头，设置于镜头一端的相机以及设置于镜头另一端侧方的投影组件，第二检测装...

本技术公开一种组合光源装置以及自动光学检测设备。该组合光源装置包括光罩，光罩沿其中心轴线的两端设置第一开口以及第二开口，第二开口的面积大于第一开口的面积；第一安装座的一端与第二开口的口沿连接，另一端向接近中心轴线的方向延伸；第二安装座的...

本申请公开了色环电阻比对方法、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取第一色环电阻的第一预测色环信息和第二色环电阻的第二预测色环信息；基于预测色环位置信息，对第一色环电阻和第二色环电阻的图片信息的相应位置处分别进行抽色处理，以得到...

本发明涉及自动光学检测技术领域，公开了一种图像拍摄方法、自动光学检测设备及存储介质。该图像拍摄方法包括：上位机下发图像拍摄指令至可编程逻辑控制模块；可编程逻辑控制模块根据图像拍摄指令，计算得到拍摄轨迹，并将拍摄轨迹发送至伺服控制系统，拍...

本申请涉及一种芯片定位方法、装置、存储介质以及电子设备，该方法包括：获取待测图像；所述待测图像包括第一芯片的图像信息，所述第一芯片包括第一芯片本体以及与所述第一芯片本体连接的若干个第一引脚；对所述待测图像进行图像识别，获得第一引脚区域；...

本发明公开一种光学检测成像组件及光学检测设备，其中，光学检测成像组件包括相机、镜头、第一安装座、第二安装座和第一调节机构，镜头设置第一安装座上，相机设置在第二安装座上，第一安装座用于将光学检测成像组件固定在安装位置，第一调节机构包括第一...

本申请公开一种AOI成像装置，包括：主框架、主相机组件、镜头组件和投影组件；所述主框架的顶部开设有第一安装位，底部开设有与所述第一安装位相对应的第二安装位，侧面开设有第三安装位；所述主相机组件其安装于所述第一安装位；所述镜头组件安装于所...

本申请涉及一种检测板式的处理方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：预测当前检测板式在运行时可能占用显存空间的第一显存数据；在所述第一显存数据超过第一预设阈值时，输出告警信息；其中，所述告警信息用于指示对所述当前检测板式进行修改；响应于...

本申请公开了一种目标区域的识别方法、锡膏缺陷检测方法、装置、设备及介质，本申请属于光学检测设备技术领域。该方法包括：获取待测区域的高度图像和纹理图像；对所述高度图像进行特征提取，得到高度图像特征，以及，对所述纹理图像进行特征提取，得到纹...

本发明公开了一种异物检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待检测电路板的待检测图像以及检测场景，根据检测场景确定对应的目标颜色模型；根据目标颜色模型对所述待检测图像进行处理，确定目标检测图；基于目标检测图结合模板图像确定异物图...

本技术公开一种投影装置及光学自动检测设备，属于投影设备的技术领域，其中，投影装置包括基座、滑设于所述基座的滑动块、用于沿着投影路径投射图像的投影组件，以及用于驱动所述滑动块相对所述基座滑动的第一驱动件；所述投影组件安装于所述滑动块，所述...