本技术公开一种器件用电监测电路和芯片测试系统，其中，器件用电监测电路包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，检测单元包括采样负载和监测子单元；采样负载用于串接在器件的电源输入端；监测子单元电连接采样负载和主...

本技术公开一种用于高功率芯片老化测试的散热装置、散热系统及设备，该散热装置包括：第一液冷基板，设有第一液冷通道和与所述第一液冷通道连通的第一冷却液入口、第一冷却液出口；第二液冷基板，设有第二液冷通道和与所述第二液冷通道连通的第二冷却液入...

本技术公开一种信号传输处理电路和测试系统，其中，信号传输处理电路，包括处理单元和多个用于电连接测试主板的连接单元；连接单元具有第一信号接口，用于输出测试主板的测试结果；处理单元设有多个第二信号接口和一个用于与上位机通信的通信接口，第二信...

本技术公开一种高功率芯片老化测试柜，该高功率芯片老化测试柜包括：柜体；多个老化测试组件，于所述柜体中层层设置，所述老化测试组件包括老化测试板和设置于所述老化测试板上方的液冷散热板，所述老化测试板上具有多个用于放置芯片的测试工位，所述液冷...

本发明公开一种压缩机故障预测方法、装置、可读存储介质及电子设备，对随机抽取的压缩机的信号特征进行性质分析，得到处理后的信号特征，使用特征提取算法对其进行特征提取，得到特征子集，基于特征子集使用决策树算法和回归算法进行模型训练，得到故障预...

本申请涉及产品检测技术领域，尤其涉及一种老化系统及控制方法。所述方法包括以下步骤：接收全自动老化柜发送的老化柜状态信息；所述老化柜状态信息包括物料状态请求信息和故障状态信息；所述物料状态请求信息包括目标老化柜标识和请求种类；所述请求种类...

本发明提供一种SSD卡测试设备及SSD卡生产线，涉及硬盘技术领域。该SSD卡测试设备包括多个测试装置、第一输送装置和夹取装置，多个测试装置至少包括开卡柜、RDT测试柜和BIT测试柜，第一开卡柜、所述RDT测试柜和所述BIT测试柜沿第一方...

本发明提供一种芯片老化测试控制系统及方法，方法包括：上位机、通信装置和老化柜，上位机与通信装置连接，通信装置与老化柜连接；老化柜包括测试大板、多个测试小板和多个测试座，测试大板与每个测试小板可拆卸连接，每个测试小板与至少一个测试座连接，...

本发明提供一种测试老化柜的控制方法、装置、上位机及存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：循环对老化柜执行调试操作，得到调试后的老化柜，每次调试操作中的目标调试温度不同；根据所述调试后的老化柜对芯片循环执行测试操作，得到多个当前温度...

本发明公开了一种自适应板间通信备份选择方法、装置、设备及存储介质。方法包括：在载具板建立预设数量的第一双向传输模块，每个第一双向传输模块对应一个第一通信协商算法模块；在背板建立预设数量的第二双向传输模块，每个第二双向传输模块对应一个第二...

本发明公开一种半导体芯片老化测试柜，包括：外柜；内胆，设置于所述外柜内，所述内胆的外壁与所述外柜的内壁之间形成风道，所述内胆的一侧为与所述风道连通的进风侧，另一侧为与所述风道连通的出风侧；风机组件，安装于所述外柜上，用于控制所述风道中的...

本技术公开一种放电控制电路和固态硬盘，放电控制电路包括放电模块，放电模块包括第一控制单元和第一开关单元，第一控制单元包括第一控制端和用于接电源的第一检测端；第一开关单元与第一控制端电连接，负载电容的正极经第一开关单元接地；在第一检测端的...

本发明公开了一种老化柜模拟测试方法、装置、计算机设备及可读存储介质。该方法应用于上位机，方法包括：控制老化柜达到模拟测试目标温度，老化柜包括模拟测试板与发热假体，模拟测试板与发热假体连接；向模拟测试板发送模拟测试指令，以使模拟测试板根据...

本申请涉及芯片测试技术领域，提供了一种老化柜温度调试方法、系统及装置，该方法包括：检测发热假体是否对接在模拟测试板的各个插槽内，并检测模拟测试板与老化柜连接板是否对接成功；若对接成功，则控制温控系统对老化柜的温度进行调节，使老化柜的温度...

本申请实施例提供了一种自适应多通道仲裁方法、装置、电子设备及介质，属于数据传输技术领域。方法包括：设定多个仲裁通道，设置各仲裁通道的通道位宽；各仲裁通道的通道优先级按照从低位至高位依次降低；从多个请求信号中确定优先级最高的请求信号作为目...

本发明提供一种芯片测试压头及芯片测试设备，芯片测试压头包括：TEC板、测试压头、液冷板和外壳；TEC板包括制冷板和制热板，制冷板与制热板贴合，制冷板用于对测试压头降温；测试压头与制冷板连接，测试压头用于对芯片进行测试；液冷板与制热板连接...

本申请公开了一种老化测试设备，涉及芯片测试技术领域。老化测试设备包括设置有测试腔、风道、柜门和敞口的机柜，与柜门连接的第一驱动装置、与测试板可拆卸连接的第二驱动装置以及设置于风道内的鼓风装置和控温装置。测试腔内的每个测试位用于放置一个承...

本发明提供一种固态硬盘生产测试系统及固态硬盘生产线，硬盘测试技术领域。该固态硬盘生产测试系统包括测试柜和测试载具，测试柜包括柜体、开卡模块、RDT测试模块和BIT测试模块；柜体具有若干个测试腔，每个测试腔均设置有第一金手指插槽连接器，每...

本发明公开一种测试插箱和测试装置，其中，测试插箱包括箱体、隔板和老化板，箱体设有进风口和出风口；隔板设置在箱体内，将箱体的内腔分隔成第一腔和第二腔，第一腔与进风口连通，第二腔与进风口及出风口均连通；老化板相对隔板设置在第二腔内，并与隔板...

本申请提供一种通讯故障预测方法、装置、设备及存储介质，涉及机器学习技术领域，该方法包括：采集待预测设备运行时间段产生的通讯特征数据；将通讯特征数据输入构建的故障预测模型进行预测，以获得待预测设备的通讯故障类型；其中，故障预测模型通过对通...